专利名称：气体分析光学平台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及用于分析气体的气体分析光学平台。
背景技术：
气体分析光学平台广泛应用在机动车尾气检测等各种场合。气体分析光学平台的 主要结构包括气室管、位于气室管一端的发光元件以及位于气室管另一端的光敏元件，发 光元件发出的光经过气室管投射到光敏元件上。发光元件与光敏元件是否对正，直接影响 到气体分析光学平台的测量精度。然而在现有的气体分析光学平台中，发光元件与光敏元 件之间没有一个可帮助对正的安装基准，难以保证发光元件与光敏元件的光轴在同一直线 上。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种易于保证发光元件与光敏元件安装精度的气体分 析光学平台。本实用新型是这样实现的气体分析光学平台包括气室管、发光元件和光敏元件， 特别地，发光元件固定在一个气室座内，光敏元件固定在另一个气室座内，两个气室座分别 与气室管的两端套接。本实用新型以气室管作为安装基准，只要将两个气室座套在气室管 的两端就能使发光元件与光敏元件自行对正，由此提高了安装精度。本实用新型的优点是即提高了安装精度又便于安装，大大提高了气体分析光学平 台的测量精度。

图1是实施例1的结构示意图；图2是实施例2的结构示意图。
具体实施方式
实施例1参见图1，气体分析光学平台包括气室管1、发光元件2和光敏元件3。发光元件2 固定在一个气室座4内，光敏元件3固定在另一个气室座5内。发光元件所在的气室座4开 设有插孔4a，插孔4a的中轴线与发光元件2的光轴同轴。气室管1的一端套在插孔4a内 并且以密封圈6密封。气室管1的中轴线与插孔4a的中轴线同轴。光敏元件所在的气室 座5开设有插孔5a，光敏元件3位于插孔5a的中轴线上。气室管1的另一端套在插孔5a 内并且以密封圈7密封。气室管1的中轴线与插孔5a的中轴线同轴。两个气室座4、5分 别整体成型有气嘴4b、5b，用于连接气管。被检测的气体经其中一个气室座的气嘴进入气室 管1，再从另一个气室座的气嘴流出。作为进一步改进，本实施例还在气室座5内安装有温度测量元件8和/或压力测
3量元件9。这样就便于测量气室管1内的气压和/或气温。温度测量元件8和压力测量元 件9可以安装在任意一个气室座内，或者在两个气室座内都安装温度测量元件和/或压力 测量元件。与发光元件2、光敏元件3、温度测量元件8、压力测量元件9相关的控制电路也 可以一并组合安装在气室座4、5内。实施例2参见图2，本实施例与实施例1的区别主要在于气室座与气室管的连接方式不同。 在本实施例中，发光元件2所在的气室座4整体成型有插管4c，插管4c的中轴线与发光元 件2的光轴同轴。插管4c插入气室管1的一端。气室管1的中轴线与插管4c的中轴线同 轴。光敏元件3所在的气室座5整体成型有插管5c，光敏元件3位于插管5c的中轴线上。 插管5c插入气室管1的另一端。气室管1的中轴线与插管5c的中轴线同轴。本实施例的 其他结构与实施例1相同。
权利要求一种气体分析光学平台，包括气室管、发光元件和光敏元件，其特征是发光元件固定在一个气室座内，光敏元件固定在另一个气室座内，两个气室座分别与气室管的两端套接。
2.如权利要求1所述的气体分析光学平台，其特征是至少在其中一个气室座内设置 有温度测量元件和/或压力测量元件。
专利摘要一种气体分析光学平台，包括气室管、发光元件和光敏元件，其特点在于发光元件固定在一个气室座内，光敏元件固定在另一个气室座内，两个气室座分别与气室管的两端套接。本实用新型以气室管作为安装基准，只要将两个气室座套在气室管的两端就能使发光元件与光敏元件自行对正，提高了安装精度。
文档编号G01N21/17GK201673112SQ20102020657
公开日2010年12月15日 申请日期2010年5月20日 优先权日2010年5月20日
发明者肖泽民, 苏启源 申请人:佛山市南华仪器有限公司