专利名称：弹簧片孔深测量固定装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量装置，特别涉及一种弹簧片孔深测量固 定装置。
背景技术：
54cmFS弹簧片孔深是衡量弹簧片技术性能的非常重要指标，孔 深尺寸对框架组件配屏、荫罩组件热灵敏度、CPT的三色会聚及色纯 裕量均有重大影响。因此孔深测量准确度的高低显得异常重要。弹簧 片孔深测量一直使用左手扶握弹簧片焊接部，另一端(翻边)放在圆 形基座孔内，右手调整百分表测量，显然，这样测量孔深时水平度靠 检验员左手调整，测量误差大，准确度低，同时孔深测量所需要的时 间长， 一般测一件孔深需要120秒左右。 发明内容
为了克服上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种 弹簧片孔深测量固定装置，具有测量精确快捷的特点。
为了达到上述目的，本实用新型的技术方案是
弹簧片孔深测量固定装置，其特征在于，包括基座1，基座1 的工作曲面上开有让位槽3和凹槽4，凹槽4内装有磁块2。
所述的基座1的工作曲面与待测弹簧片曲面相似且平行。
所述的基座1底面平面度为0.01。
本实用新型利用基座1的工作曲面将待测弹簧片固定，克服了人每件提高到80秒每件，降低检验员的劳动强度，具有测量精确快捷的特点。


附图是本实用新型的结构原理图。
具体实施方式
下面参照附图对本实用新型的结构原理和工作原理作详细叙述。 参照附图，弹簧片孔深测量固定装置，包括基座1，基座1的工作曲面上开有让位槽3和凹槽4，凹槽4内装有磁块2，基座1的 工作曲面与待测弹簧片曲面相似且平行，基座1底面平面度为0.01。 本实用新型的工作原理是待测弹簧片凭重力及磁块2的磁力快 速与基座1接触，待测弹簧片的孔翻边在重力及磁力作用下导入让位 槽3中，使得弹簧片稳定地形成水平状态，水平度依靠基座1的工作 曲面保证，无需检验员手工调整，确保了测量所需要的平面度。
权利要求1、弹簧片孔深测量固定装置，包括基座(1)，其特征在于，基座(1)的工作曲面上开有让位槽(3)和凹槽(4)，凹槽(4)内装有磁块(2)。
2、 根据权利要求1所述的弹簧片孔深测量固定装置，其特征在于，所述的基座(1)的工作曲面与待测弹簧片曲面相似且平行。
3、 根据权利要求1所述的弹簧片孔深测量固定装置，其特征在于，所述的基座(1)底面平面度为0.01。
专利摘要弹簧片孔深测量固定装置，包括基座1，基座1的工作曲面上开有让位槽3和凹槽4，凹槽4内装有磁块2，基座1的工作曲面与待测弹簧片曲面相似且平行，基座1底面平面度为0.01，使用时，将待测弹簧片凭重力及磁块2的磁力快速与基座1接触，使得弹簧片稳定地形成水平状态，无需检验员手工调整，确保了测量所需要的平面度，具有测量精确快捷的特点。
文档编号G01B5/02GK201407974SQ20092003324
公开日2010年2月17日 申请日期2009年5月21日 优先权日2009年5月21日
发明者何永科, 鲁东见 申请人:彩虹集团电子股份有限公司