专利名称：老化测试控制装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种控制器，尤其涉及的是用于LED显示屏生产中，控制显示屏 上的LED光源老化测试的时间或其它指标的测试控制装置。
技术背景LED显示屏生产过程中，LED光源与基板焊接后往往会出现虚焊和坏品等问题，故 还需要对LED显示屏进行一次虚焊和坏品的测试工序。其理论是通过瞬间电流对LED光源 的冲击测试，来鉴别虚焊和坏品等问题。当前都是通过人工来控制测试的开关动作和测试 时间，给使用者带来诸多的不便，也给业内提出了新的要求
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型提供了 LED显示屏老化测试控制装置，能随意 设定自动开关测试电源和设定测试时间，其电路实现简单，操作安全，给使用者带来更多的 方便。本实用新型是采用以下技术方案实施的老化测试控制装置，包括与测试电源连接的测试电路，其特征在于还包括一个定 时器和一个开关电路，所述开关电路的输入端连接至测试电源，输出电信号至测试电路。该 开关电路还与一个定时器相连，定时器输出信号控制开关电路的通断。所述的开关电路并联连接有多路测试电路，所述的定时器输出信号控制开关电路 的通断时间实现显示屏测试时间的设定。采用上述方案后的老化测试控制装置，其电路实现简单，操作安全，能随意设定自 动开关测试电源和设定测试时间，给使用者带来更多的方便。

图1为本实用新型的电路原理图。
具体实施方式
下面依据附图对本实用新型做进一步的详细说明如图1所示的老化测试控制装置，包括测试电源、测试电路，定时器和开关电路， 其中开关电路的输入端连接测试电源，输出电信号至测试电路。开关电路还与一个定时器 相连，定时器输出信号控制开关电路的通断。其中的开关电路可同时并联连接有多路测试 电路，定时器输出信号控制开关电路的通断时间，从而实现显示屏老化测试时间的设定。采 用上述方案后的老化测试控制装置，其电路实现简单，操作安全，能随意设定自动开关测试 电源和设定测试的时间，给使用者带来更多的方便。
权利要求老化测试控制装置，包括与测试电源连接的测试电路。其特征在于还包括一个定时器和一个开关电路，所述开关电路的输入端连接至测试电源，输出电信号至测试电路。该开关电路还与一个定时器相连，定时器输出信号控制开关电路的通断。
2.根据权利要求1所述的老化测试控制装置，其特征在于所述的开关电路并联连接 有多路测试电路，所述的定时器输出信号控制开关电路的通断时间实现显示屏测试时间的 设定。
专利摘要本实用新型公开了一种用于老化测试的控制装置，包括与测试电源连接的测试电路，其还包括一个定时器和一个开关电路。所述开关电路的输入端连接至测试电源，输出电信号至测试电路。该开关电路还与一个定时器相连，定时器输出信号控制开关电路的通断。采用上述方案后的老化测试控制装置，其电路实现简单，操作方便，能随意设定自动开关测试电源和设定测试时间，给使用者带来更多的方便。
文档编号G01R31/00GK201749158SQ20102024875
公开日2011年2月16日 申请日期2010年7月6日 优先权日2010年7月6日
发明者卢少鹏 申请人:卢少鹏