专利名称：有载开关测试仪校准装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种有载开关测试仪校准装置，用于校准目前存在的有载开关特
性测试仪。
背景技术：
目前，市场上存在各种型号、样式的有载开关特性测试仪，有载开关特性测试仪主要为了测量有载开关性能。目前市场上针对有载开关特性测试仪计量溯源校准存在如下的问题 1.有载调压变压器在电网中可用于调压、电网联络、无功分配以及调整负荷潮流，所以，随着电力系统的发展，有载调压变压器已成为现代化电网不可缺少的关键设备之一。[0004] 2.随着我国经济社会发展，用电量日益增长，变压器也在不断提高电压等级，500kV变压器在逐渐推广，1000kV变压器也开始在电网中应用。有载开关作为调节分节比的重要仪器，大量应用于变压器中。且100kV以上变压器有载开关总是在带电状态下运作，因此其能否正常工作直接关系到用电安全，甚至人员安全。因此有载开关测试仪已大量应用于变压器生产和使用单位。而目前计量部门并没有开展有载开关测试仪相关校准工作。[0005] 3.随着变压器电压等级逐步提升，有载开关能否正常已逐渐成为影响变压器能否安全稳定运行的重要因素。而目前因有载开关发生故障造成的用电事故也由升高的趋势，造成了很大的经济损失，甚至危及人身安全。因此及早对有载开关的安全状态进行判断，对变压器生产和使用单位意义重大。 4.有载开关测试仪校准装置主要用来模拟有载开关动作，包括过渡时间和过渡电阻。目前国内的过渡过程大多用继电器模拟，因继电器本身不稳定，容易产生闭合弹跳，且有几毫秒的动作延时，造成目前有载开关测试仪校准装置的研制一直难以突破准确测量的瓶颈，难以在全社会推广。

发明内容针对上述的问题，本实用新型提供了一种由综合测试系统和独立测试系统两部分组成的有载开关特性测试仪校准装置。综合测试系统集合时间和电阻两项分量，可以同时提供高精度电阻和信号变化时间；独立测试系统可分别提供电阻和时间分量，其中时间分量由单片机和高速电子开关控制，时间性能良好。 —种有载开关测试仪校准装置，包括一有载开关开关测试仪，与有载开关测试仪连接有一提供电阻量和时间量的综合测试系统，综合测试系统连接到一中央处理器，在综合测试系统和中央处理器之间还设置一继电器控制综合测试系统；在有载开关测试仪和中央处理器之间还设置一时间提供系统和一电阻提供系统，其中时间提供系统和中央处理器之间设置有一电子开关控制时间提供系统。 所述中央处理器包括一单片机，单片机连接到一计算机。 综合测试系统集合电阻和时间两项分量，可以同时提供高精度电阻和信号变化时间，可以模拟有载开关带点工作过程，而由继电器作为开关切换元件，电阻在切换前后，电阻值产生响应变化，整个过程由单片机监控，变化过程可以显示出来，达到校准有载开关测试仪的目的。 而时间提供系统和电阻提供系统则分别提供时间分量和电阻分量，时间提供系统由电子开关特别是高速电子开关控制，高速电子开关精度高，在纳秒级别，时间性能良好。电阻参量由电阻提供系统单独提供，而不考虑时间。这样，极大的完善了有载开关测试仪的溯源校准方法，是对综合测试系统的有益补充。 上述各种装置受单片机控制，而测得的数据则有单片机传输给计算机，还设置有显示装置和打印接口 ，便于显示、打印等。 这样，本实用新型提供的有载开关测试仪校准装置，在对有载开关动作过程完全模拟的情况下，又提供了动过过程高精度独立测量的途径，确保有载开关测试仪校准的准确可靠。通过对硬件设计和软件设计的不断修正和调试，确保该校准装置的稳定性、准确性和安全性。

图1是本实用新型实施例的电气原理图。
具体实施方式
下面以非限定性的实施例来进一步解释、说明本技术方案。 —种有载开关测试仪校准装置，包括一有载开关开关测试仪l，与有载开关测试仪1连接有一提供电阻量和时间量的综合测试系统2，综合测试系统2连接到一中央处理器，在综合测试系统和中央处理器之间还设置一继电器6控制综合测试系统2 ;在有载开关测试仪1和中央处理器之间还设置一时间提供系统3和一电阻提供系统4，其中时间提供系统3和中央处理器之间设置有一电子开关5控制时间提供系统。所述中央处理器包括一单片机7，单片机连接到一计算机8。 应用时，当使用综合测试系统2时，有载开关测试仪1接入综合测试系统回路，综合测试系统2模拟有载开关带电变化过程。由继电器6作为开关切换元件，电阻在切换前后，电阻值产生响应变化。整个过程由单片机7监控，变化过程可以打印成曲线图。具体时间和电阻量值可以在有载开关测试仪校准装置的显示界面上显示。 当使用独立测试系统(即时间提供系统3和电阻提供系统4)时，有载开关测试仪1当测量时间参量时，有载开关测试仪1接入时间提供系统3回路，由高速电子开关5作为开关切换元件，电阻在切换前后，电阻值产生响应变化。整个过程由单片机7监控，变化过程可以打印成曲线图。具体时间和电阻量值可以在有载开关测试仪校准装置的显示界面上显示。 当测量电阻参量时，有载开关测试仪1接入电阻提供系统4回路，回路提供标准电阻，有载开关测试仪将直接对此电阻值进行测量。
权利要求一种有载开关测试仪校准装置，包括一有载开关开关测试仪，其特征在于与有载开关测试仪连接有一提供电阻量和时间量的综合测试系统，综合测试系统连接到一中央处理器，在综合测试系统和中央处理器之间还设置一继电器控制综合测试系统；在有载开关测试仪和中央处理器之间还设置一时间提供系统和一电阻提供系统，其中时间提供系统和中央处理器之间设置有一电子开关控制时间提供系统。
2. 根据权利要求1所述的有载开关测试仪校准装置，其特征在于所述中央处理器包括一单片机，单片机连接到一计算机。
3. 根据权利要求2所述的有载开关测试仪校准装置，其特征在于与计算机连接设置有显示装置、打印接口。
专利摘要一种有载开关测试仪校准装置，包括一有载开关开关测试仪，与有载开关测试仪连接有一提供电阻量和时间量的综合测试系统，综合测试系统连接到一中央处理器，在综合测试系统和中央处理器之间还设置一继电器控制综合测试系统；在有载开关测试仪和中央处理器之间还设置一时间提供系统和一电阻提供系统，其中时间提供系统和中央处理器之间设置有一电子开关控制时间提供系统。在对有载开关动作过程完全模拟的情况下，又提供了动过过程高精度独立测量的途径，确保有载开关测试仪校准的准确可靠。通过对硬件设计和软件设计的不断修正和调试，确保该校准装置的稳定性、准确性和安全性。
文档编号G01R35/00GK201522551SQ200920240280
公开日2010年7月7日 申请日期2009年10月30日 优先权日2009年10月30日
发明者于晓琳, 孙书玉, 宋韬, 岳建疆, 崔建高 申请人:山东省计量科学研究院