专利名称：光棒检测机台及其检测方法
技术领域：
本发明关于一种光棒检测机台及其检测方法，特别是指一种用于COB型光棒检测时，将可精准的定位出待测光棒上该些发光元件的实际位置。
背景技术：
请参阅图IA及图1B，为习用LED光棒的侧视图及俯视图，由图中可知，习用LED光棒(LED light bar) 1，乃将多个发光元件11设置于一承部12 (例如电路板)上，再经封装制程时，藉由封装层13将承部12上的多个发光元件11个别封装成一个单元。后将LED 光棒1置放于光棒检测机台的承载装置21上进行成品测试时(请参阅图幻，将透过光学检测装置(Optical Inspection) 22,即可明确定位并检测出LED光棒1上的每一个发光元件，是否符合规格的要求。由于LED光棒逐渐应用在各式科技产品上，故制造厂商也随之因应进而设计出不同型式的LED光棒，其中的一种类型便是COB型光棒(Chip On Board)。请参阅图3A、图及图3C，为COB型光棒的侧视图、俯视图及俯视透视图，由图中可知，该COB型光棒3，乃将多个发光元件31设置于一承部32上，再经封装制程时，藉由封装层33将承部32上的多个发光元件31封装成一体。当COB型光棒3成品，置放于上述习用的光棒检测机台的承载装置21上进行测试时(请参阅图4)，由于多个发光元件皆被包覆于封装层33中，故光学检测装置22，将因封装层33 —体的缘故无法明确定位出每个发光元件31的实际位置，便无法进一步检测出每个发光元件31是否符合规格的要求。因此，若能提供一种能有效定位出COB型光棒的每个发光元件位置的检测机台及检测方法，将可提高后续COB型光棒的检测精准度，即可降低产品出厂的不良率，应为一最佳解决方案。

发明内容
本发明的目的即在于提供一种光棒检测机台及其检测方法，主要用于COB型光棒检测时，将可精准的定位出待测光棒上该些发光元件的实际位置。为达成上述发明目的，本发明公开了一种光棒检测机台，用以检测至少一个待测光棒，该待测光棒具有一承部以及设置于该承部上的多个发光元件，其中该多个发光元件可受一个预定致能讯号致能而发光，其特征在于该检测机台包含—承载装置，用以承载该至少一个待测光棒；一致能装置，用以提供该些待测光棒一检测电流，使该些待测光棒的多个发光元件被驱动发光；一取像装置，用以至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料，并将该些影像资料输出；以及处理分析装置，用以接收来自该取像装置的该些影像资料，并将该些影像资料进行分析，以获得待测光棒上该些发光元件的位置资讯。
其中，更包括一组打光装置，用于该些发光元件被驱动发光时进行打光，并由该取像装置顺序撷取该些发光元件的发光时影像资料。其中，该致能装置所提供的检测电流一致使该待测光棒上的发光元件产生微亮的电流。其中，该取像装置设置于一组二维移动机构上，藉由该二维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。其中，该取像装置设置于一组三维移动机构上，藉由该三维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。其中，该处理分析装置储存有至少一组对比影像资料，用以与来自该取像装置的该些影像资料进行分析。还公开了一种光棒检测方法，该方法用以检测至少一个待测光棒，该待测光棒具有一承部以及设置于该承部上的多个发光元件，其中该多个发光元件系可受一个预定致能讯号致能而发光，包含下列步骤(A)该些待测光棒接收致能装置所输出的电流，使多个发光元件被驱动发光；(B) 一取像装置被驱动至该些发光元件相对位置处，依顺序撷取各发光元件的发光时影像资料，并将该些影像资料输出；以及(C)以一具有影像分析并储存有至少一组对比影像资料的处理分析装置接收该些影像资料，并与该处理分析装置的对比影像资料进行分析比对，以获得待测光棒上该些发光元件的位置资讯。其中，在步骤(B)取像装置顺序撷取各发光元件的发光时影像资料的同时，透过一组打光装置对该些发光元件被驱动发光时进行打光，并由该取像装置顺序撷取该些发光元件的发光时影像资料。其中，步骤(A)该致能装置所提供的检测电流是一致使该待测光棒上的发光元件产生微亮的电流。其中，步骤(B)该取像装置系藉由一组二维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。其中，步骤(B)该取像装置系藉由一组三维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。通过上述结构，本发明实现了以下技术效果1.本发明的光棒检测机台及其检测方法，主要用于COB型光棒检测时，将可精准的定位出待测光棒上该些发光元件的实际位置。2.本发明的光棒检测机台及其检测方法，虽主要用于COB型光棒定位及检测，但其他型式的光棒定位检测，亦可透过本发明来达成。3.透过本发明精准定位，可大为提升光棒检测作业的精度，提升产业的整体发展。


图IA为习用LED光棒的侧视图；图IB为习用LED光棒的俯视图；图2为习用LED光棒透过习用检测机台进行测试的实施示意图3A为COB型光棒的侧视图；图;3B为COB型光棒的俯视图；图3C为COB型光棒的俯视透视图；图4为COB型光棒透过习用检测机台进行测试的实施示意图；图5为本发明光棒检测机台的外观示意图；图6为该COB型光棒置放于光棒检测机台的承载装置上测试的实施示意图；图7为该光棒检测机台的电路方块图；图8为该光棒检测机台的检测方法流程图；图9为该COB型光棒的发光元件透过本发明进行定位的实施示意图；以及图10为该COB型光棒的发光元件透过本发明进行定位的影像示意图。
具体实施例方式有关于本发明的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。请参阅图5，为本发明光棒检测机台的外观示意图，由图中可知，该光棒测试机台 5，其内部为一测试空间，该测试空间藉由外盖51形成一封闭区域，该封闭区域将用来进行光棒检测，而该测试空间一侧为一控制台52，用以操控光棒检测作业的进行。请参阅图6，为该COB型光棒置放于光棒检测机台的承载装置上测试的实施示意图，由图中可知，其中该待检测光棒3，将排列于承载装置61上，该承载装置61上方乃设置一取像装置62，而该取像装置上方则连结有一组移动机构，而熟悉该项技艺人士可知，该移动机构63可为二维移动机构或三维移动机构，藉由移动机构63的带动，将取像装置62带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。另一种可解决方案为该移动机构63系设置于承载装置61下方，藉由移动承载装置61来达成与取像装置62的相对运动，同样能达到本发明预见的效果。请参阅图7，为该光棒检测机台的电路方块图，由图中可知，该检测机台7包含一承载装置71，用以承载该至少一个待测光棒；—致能装置72，用以提供该些待测光棒一检测电流，使该些待测光棒的多个发光元件被驱动发光，该发光元件将接收到可产生微亮的电流，该检测电流将视待测光棒种类或规格，设定介于100 μ A 150mA ；上述该多个发光元件被驱动发光时，可视需要增设一组打光装置75，用于该些发光元件被驱动发光时进行打光；一取像装置73，用以至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料，并将该些影像资料输出；以及一处理分析装置74，用以接收来自该取像装置73的该些影像资料，并将该些影像资料直接进行分析或与内存的对比影像资料相比对，以获得待测光棒上该些发光元件的位置资讯。为了更清楚说明本发明检测过程，本段将说明一具体实施例。该检测机台透过预先设置的资讯及设定值，如欲对光棒检测的项目、测值范围分类及LED座标位置…等等， 使处理分析装置具有一套检验标准。该待测光棒在测试过程至少会放置数组于承载装置，移动机构带动取像装置自检测起始位置等待，该起始位置可依照使用者习惯进行设定。在通常状况下，同批待测光棒的规格应趋于一致，所以在预先设置的资讯及设定值之下，开始检测后该移动机构将带动取像装置迅速在待测光棒上方位移，而在取像装置移动的同一时间待测光棒中的LED将接收到致能装置的驱动电流而产生微亮，当取像装置移动到每一颗LED的相对上方位置时将会拍摄一张影像，以此类推。继续请参阅图8，为该光棒检测机台的检测方法流程图，由图中可知，本发明光棒检测方法，包含下列步骤(A)将待测光棒置放于光棒检测机台的承载装置上801 ；(B)该些待测光棒接收一电流，使多个发光元件被驱动发光802 ；(C) 一取像装置被驱动至该些发光元件相对位置处，依顺序撷取各发光元件的发光时影像资料，并将该些影像资料输出803 ；(D)以一具有影像分析并储存有至少一组对比影像资料的处理分析装置接收该些影像资料，并与该处理分析装置的对比影像资料进行分析比对，以获得待测光棒上该些发光元件的位置资讯804。请参阅图9及图10，为该COB型光棒的发光元件透过本发明进行定位的实施示意图及影像示意图，由图中可知，当致能装置提供一检测电流，使该待测光棒3的多个发光元件31被驱动发光时，可选择在较暗的检测环境中实施，此时发光元件31虽然微亮，但却可凸显于较暗的环境中，以便取像装置能精准的撷取影像资料。本发明所提供的一种光棒检测机台及其检测方法，与其他习用技术相互比较时， 更具备下列优点1.本发明的光棒检测机台及其检测方法，主要用于COB型光棒检测时，将可精准的定位出待测光棒上该些发光元件的实际位置。2.本发明的光棒检测机台及其检测方法，虽主要用于COB型光棒定位及检测，但其他型式的光棒定位检测，亦可透过本发明来达成。3.透过本发明精准定位，可大为提升光棒检测作业的精度，提升产业的整体发展。藉由以上较佳具体实施例的详述，希望能更加清楚描述本发明的特征与精神，而并非以上述所揭露的较佳具体实施例来对本发明的范畴加以限制。相反地，其目的是希望能涵盖各种改变及具相等性的安排于本发明所欲申请的专利范围的范畴内。
权利要求
1.一种光棒检测机台，用以检测至少一个待测光棒，该待测光棒具有一承部以及设置于该承部上的多个发光元件，其中该多个发光元件可受一个预定致能讯号致能而发光，其特征在于该检测机台包含一承载装置，用以承载该至少一个待测光棒；一致能装置，用以提供该些待测光棒一检测电流，使该些待测光棒的多个发光元件被驱动发光；一取像装置，用以至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料，并将该些影像资料输出；以及一处理分析装置，用以接收来自该取像装置的该些影像资料，并将该些影像资料进行分析，以获得待测光棒上该些发光元件的位置资讯。
2.如权利要求1的光棒检测机台，其特征在于，更包括一组打光装置，用于该些发光元件被驱动发光时进行打光，并由该取像装置顺序撷取该些发光元件的发光时影像资料。
3.如权利要求1的光棒检测机台，其特征在于，该致能装置所提供的检测电流一致使该待测光棒上的发光元件产生微亮的电流。
4.如权利要求1的光棒检测机台，其特征在于，该取像装置设置于一组二维移动机构上，藉由该二维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。
5.如权利要求1的光棒检测机台，其特征在于，该取像装置设置于一组三维移动机构上，藉由该三维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。
6.如权利要求1的光棒检测机台，其特征在于，该处理分析装置储存有至少一组对比影像资料，用以与来自该取像装置的该些影像资料进行分析。
7.一种光棒检测方法，该方法用以检测至少一个待测光棒，该待测光棒具有一承部以及设置于该承部上的多个发光元件，其中该多个发光元件系可受一个预定致能讯号致能而发光，包含下列步骤(A)该些待测光棒接收致能装置所输出的电流，使多个发光元件被驱动发光；(B)一取像装置被驱动至该些发光元件相对位置处，依顺序撷取各发光元件的发光时影像资料，并将该些影像资料输出；以及(C)以一具有影像分析并储存有至少一组对比影像资料的处理分析装置接收该些影像资料，并与该处理分析装置的对比影像资料进行分析比对，以获得待测光棒上该些发光元件的位置资讯。
8.如权利要求7的光棒检测方法，其特征在于，在步骤(B)取像装置顺序撷取各发光元件的发光时影像资料的同时，透过一组打光装置对该些发光元件被驱动发光时进行打光， 并由该取像装置顺序撷取该些发光元件的发光时影像资料。
9.如权利要求7的光棒检测方法，其特征在于，步骤㈧该致能装置所提供的检测电流是一致使该待测光棒上的发光元件产生微亮的电流。
10.如权利要求7的光棒检测方法，其特征在于，步骤(B)该取像装置系藉由一组三维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。
11.如权利要求7的光棒检测方法，其特征在于，步骤(B)该取像装置系藉由一组三维移动机构的带动移至被驱动发光的发光元件相对位置处，依序撷取该些发光元件的发光时影像资料。
全文摘要
一种光棒检测机台及其检测方法，其中该光棒检测机台，至少包含一承载装置、一致能装置、一取像装置、一处理分析装置；系将待测光棒设置于承载装置上，透过致能装置提供待测光棒一检测电流，使待测光棒的多个发光元件被驱动发光，再藉由取像装置撷取该些发光元件的发光时影像资料，并将该影像资料输出至处理分析装置，最后透过处理分析装置分析比对处理，以获得待测光棒上该些发光元件的位置资讯；本发明用于COB型光棒检测时，将可精准的定位出待测光棒上该些发光元件的实际位置。
文档编号G01B11/00GK102455168SQ201010522619
公开日2012年5月16日 申请日期2010年10月28日 优先权日2010年10月28日
发明者高宏达 申请人:致茂电子(苏州)有限公司