专利名称：光学特性测量系统与方法
技术领域：
本发明涉及一种测量系统与方法，特别涉及一种光学特性测量系统与方法。
背景技术：
受到科技的发展，人们对能源的需求不断的增加，石油总有枯竭的一天，且这类以 石油气或煤碳等火力发电所造成的环境污染问题已引起全世界的关注，尤其以排放二氧化 碳之温室效应引发全球暖化的问题最为严重，随着石油价格的节节攀高，人们渐渐的意识 到，其他各种可行的替代能源开发之重要性。各种替代能源中，太阳能发电由于其系利用 太阳光之光源转换成电力，具有无污染、无公害、取之不竭、用之不尽等等优点，已经成为各 国所极力研究的替代能源之一，太阳能电池板的原理是当太阳光照射至半导体时，由于能 阶间的迁移造成导电带或价电子带上激发之电子或电洞以自由载体运动，造成导电率之增 加，此现象称为光导效应(Photo Conductive Effect)。太阳能系统主要利用光导效应来 发电，主要系以减少光源反射、且增加光源于太阳能电池板内的折射率来将光源予以封存， 又或提升聚光效果，使强光照射于太阳能板表面，如此亦可增加能阶间之电子或电洞的迁 移运动量。因此，以聚光方式来增加太阳能板的能阶间之电子或电洞的迁移运动量是一种 可行的方式，其主要是于太阳能板上加装具有折射与聚集光效果的设备，进可使太阳光之 光源聚集于太阳能板的特定位置，进而增加该太阳能板的能阶间之电子或电洞的迁移运动 量，以提高其发电效率，而能兼具低成本之效，例如台湾专利公开第200717034号与公告第 545519号、第463955号等专利前案，其均在于利用集光技术来增加太阳能板的发电效率。 使得太阳光之光源经由聚光透镜穿入、且折射后，聚射于太阳能板表面的特定部位，以有效 提升太阳光的聚光效果，增加太阳能板中电子、电洞的迁移活动力，进一步增进太阳能板产 生电流的效率。聚光型太阳能电池板可通过使用透镜将光聚集到狭小的面积上来提高发电 效率。因此，聚光透镜的品质好坏，以及能否准确测量聚光透镜的实际以将太阳能电池 板准确放置在聚光点上，将会大幅影响太阳能电池板的效能。目前太阳能聚光透镜制作完成后的检测方式是利用显微镜将聚光镜的齿状结构 放大，测量每一个齿状结构的角度是不是符合理论设计值，从而通过推算出透镜的理论设 计值与测量值的偏差得出聚光镜的实际参数。然而，这种检测方式相当费时、缺乏效率低同 时直观性。

发明内容
有鉴于此，有必要提供一种可便捷、直观地得出聚光镜参数的光学特性测量系统 与方法。一种光学特性测量系统，包括一聚光元件、一用于把持所述聚光元件的把持部、一 用于获取光斑的影像处理装置、一用于承放所述影像处理装置的承载台和一测量仪，所述 承载台与所述把持部相对并可相对于把持部移动，以调整光线通过所述聚光元件在所述影像处理装置的光斑大小，所述测量仪用于在所述影像处理装置获取最小光斑时，记录所述 聚光元件与所述影像处理装置间的距离。—种光学特性量测方法，用于测量一聚光元件的实际焦距，包括以下步骤a.提 供一影像处理装置；b.将影像处理装置放置于聚光元件聚光的一侧；C.提供一承载台和一 把持部，所述影像处理装置承放于承载台上面，所述把持部将所述聚光元件把持固定，所述 承载台可相对于把持部移动；d.移动承载台直至影像处理装置获得最小光斑；e.提供一测 量仪记录此时影像处理装置受光面到聚光元件中心的距离值为聚光元件的焦距值。上述光学特性测量系统与方法，通过影像处理装置获取影像信息，再通过显示装 置观测影像处理装置上的光斑，可以便捷、直观地影像处理装置获得最小光斑的位置，从而 准确测得聚光元件的实际焦距。下面参照附图，结合具体实施例对本发明作进一步的描述。


图1是本发明一实施例中光学特性测量系统的示意图。图2是图1中光学特性测量方法的流程图。图3是本发明另一实施例中光学特性测量系统的示意图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种光学特性测量系统，其特征在于所述测量系统包括一聚光元件、一用于把持 所述聚光元件的把持部、一用于获取光斑的影像处理装置、一用于承放所述影像处理装置 的承载台和一测量仪，所述承载台与所述把持部相对并可相对于把持部移动，以调整光线 通过所述聚光元件在所述影像处理装置的光斑大小，所述测量仪用于在所述影像处理装置 获取最小光斑时，记录所述聚光元件与所述影像处理装置间的距离。
2.如权利要求1所述的光学特性测量系统，其特征在于所述影像处理装置包括一CXD 传感器。
3.如权利要求1所述的光学特性测量系统，其特征在于所述影像处理装置包括一 CMOS传感器。
4.如权利要求1所述的光学特性测量系统，其特征在于还包括与影像处理装置相连 的一显示装置，所述显示装置显示影像处理装置获取的光斑影像。
5.如权利要求1所述的光学特性测量系统，其特征在于还包括一比较器，所述比较器 在影像处理装置获取的光斑最小时向测量仪输出控制信号，使测量仪记录此时的影像处理 装置到聚光元件中心的距离。
6.一种光学特性量测方法，用于测量一聚光元件的实际焦距，包括以下步骤a.提供一影像处理装置；b.将影像处理装置放置于聚光元件聚光的一侧；c.提供一承载台和一把持部，所述影像处理装置承放于承载台上面，所述把持部将所 述聚光元件把持固定，所述承载台可相对于把持部移动；d.移动承载台直至影像处理装置获得最小光斑；e.提供一测量仪记录此时影像处理装置受光面到聚光元件中心的距离值为聚光元件 的焦距值。
7.如权利要求6所述的光学特性量测方法，其特征在于所述影像处理装置系包括一 C⑶传感器。
8.如权利要求6所述的光学特性量测方法，其特征在于所述影像处理装置系包括一 CMOS传感器。
9.如权利要求6所述的光学特性量测方法，其特征在于还提供一与影像处理装置相 连的一显示装置，所述显示装置显示影像处理装置获取的光斑影像。
10.如权利要求6所述的光学特性量测方法，其特征在于还提供一比较器，所述比较 器在影像处理装置获取的光斑最小时向测量仪输出控制信号使测量仪记录此时的影像处 理装置受光面到聚光元件中心的距离。
全文摘要
一种光学特性测量系统，包括一聚光元件、一用于把持所述聚光元件的把持部、一用于获取光斑的影像处理装置、一用于承放所述影像处理装置的承载台和一测量仪，所述承载台与所述把持部相对并可相对于把持部移动，以调整光线通过所述聚光元件在所述影像处理装置的光斑大小，所述测量仪用于在所述影像处理装置获取最小光斑时，记录所述聚光元件与所述影像处理装置间的距离。上述光学特性测量系统与方法，通过影像处理装置获取影像信息，再通过显示装置观测影像处理装置上的光斑，可以便捷、直观地影像处理装置获得最小光斑的位置，从而准确测得聚光元件的实际焦距。
文档编号G01M11/02GK102103034SQ200910311948
公开日2011年6月22日 申请日期2009年12月21日 优先权日2009年12月21日
发明者叶肇懿, 颜荣毅, 黄仲志 申请人:富士迈半导体精密工业(上海)有限公司, 沛鑫能源科技股份有限公司