专利名称：量测仪器示值误差计算系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种误差计算系统及方法，特别是关于一种量测仪器示值误差计算系 统及方法。
背景技术：
示值就是由量测仪器所指示的被量测值。量测仪器的示值误差是量测器具指示出 来的量测值与被量测值的实际数值之差，它是量测仪器最主要的计量特性之一，本质上反 映了量测仪器准确度的大小。示值误差大，则其准确度低；示值误差小，则其准确度高。现使用的精密影像量测仪器的量测精度较普通量具量测准确，但其仍然存在量测 误差，因此，需要量测出仪器的示值误差做精度补偿以达到较高的精度等级。目前，量测仪 器示值误差的量测都是工作人员自己编写程序进行量测，没有统一的操作流程，操作过程 繁琐，容易出错。

发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种量测仪器示值误差计算系统，可以使量测仪器根 据设置的参数自动进行量测，并快速得到量测仪器的示值误差。此外，还有必要提供一种量测仪器示值误差计算方法，可以使量测仪器根据设置 的参数自动进行量测，并快速得到量测仪器的示值误差。一种量测仪器示值误差计算系统，运行于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设 备，该系统包括设置模块，用于设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量 测距离及量测选项；获取模块，用于从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定 的刻度处的刻度误差及线纹尺的零点刻度；调整模块，用于调整所量测的线纹尺的方向，使 所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行；量测模块，用于控制量测仪器根据所设置的量 测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储设备；及计算模块，用于根据线纹尺 在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量测距离的示值误 差，并所述示值误差存储至存储设备。—种量测仪器示值误差计算方法，适用于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设 备，该方法包括步骤设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及 量测选项；从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线 纹尺的零点刻度；调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平 行；控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储 设备；及根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在 各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。相较于现有技术，本发明所提供的量测仪器示值误差计算系统及方法，可以使量 测仪器根据设置的参数自动进行量测，并快速得到量测仪器的示值误，操作简单方便，提高 了工作效率。


图1为本发明量测仪器示值误差计算系统较佳实施例的应用环境示意图。图2为图1中示值误差量测系统的功能模块图。图3为本发明量测仪器示值误差计算方法较佳实施例的流程图。
具体实施例方式参阅图1所示，是本发明量测仪器示值误差计算系统较佳实施例的应用环境示意 图。所述示值误差量测系统10运行于量测仪器1中。所述量测仪器1可以是精密影像量 测仪器或其它任意适用的具备数据处理功能的量测仪器。所述量测仪器1还包括存储设备 12及处理器14。所述存储设备12用于存储测试相关参数、测试结果以及示值误差量测系统10的 计算机化程序代码。存储设备12可以是量测仪器1内置的存储器，也可以是量测仪器1外 接的存储器。所述处理器14执行示值误差量测系统10的计算机化程序代码，对量测仪器的示 值误差进行快速量测。参阅图2所示，是图1中示值误差量测系统10的功能模块图。所述示值误差量测 系统10包括输入模块100、判断模块102、设置模块104、获取模块106、调整模块108、量测 模块110及计算模块112。本发明所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更 适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此在本发明以下对软件描述中都以模块描述。所述输入模块100用于输入示值误差量测系统10的参数修改密码。所述判断模块102用于判断所述输入的参数修改密码正确。若所述输入的参数修 改密码与存储设置12中所保存的参数修改密码相同，则判断模块102判断所述输入的参数 修改密码正确，进入参数设置界面；若所述输入的参数修改密码与存储设置12中所保存的 参数修改密码不相同，则判断模块102判断所述输入的参数修改密码不正确，提示用户参 数修改密码输入错误。所述设置模块104用于设置量测仪器1的量测参数。在本实施例中，所述设置模 块104提供参数设置界面，以供使用者进行量测参数的设置。在本发明的其他实施例中，所 述设置模块104自动进行量测参数的设置，也就是说，在本发明的其他实施例中，所述输入 模块100及判断模块102非必要。所述量测参数包括，但不限于，量测方向、量测距离、量测 选项及所量测的线纹尺的类型。在本实施例中，所述量测方向包括四个量测方向，分别为量测作业坐标系的X轴 方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成135度角的方向。所述量测方向为X轴 方向时，即将线纹尺沿X轴方向摆放进行量测；所述量测方向为Y轴方向时，即将线纹尺沿 Y轴方向摆放进行量测；所述量测方向为与X轴成45度角的方向时，即将线纹尺沿与X轴 成45度角的方向摆放进行量测；所述量测方向为与X轴成135度角的方向时，即将线纹尺 沿与X轴成135度角的方向摆放进行量测。所述量测距离是指线纹尺上的量测距离。所述量测距离的设置可以参照JIS B7440标准，也可以自定义。例如按照JIS B7440标准，量测距离分别为总行程的十分之一，五分之一，五分之二，五分之三及五分之四，若总行程为300mm，则量测距离分别为 30mm，60mm，120mm，180mm，及240mm。若选择自定义设置量测距离，且将量测距离的间隔设 置为 10mm，则量测距离分别为 10mm，20mm，30mm，40mm，50mm，60mm，70mm，80mm，90mm，100mm, 110mm,120mm,130mm,140mm,150mm,160mm,170mm,180mm,190mm,200mm,210mm,220mm, 230mm,240mm,250mm,260mm,270mm,280mm,290mm,300mm。在本实施例中，所述量测选项包括执行次数、暂停时间、自动调整光源及线纹尺指 定长度。所述执行次数是指循环量测的次数，例如，若量测距离分别为30mm，60mm，120mm， 180mm,及240mm，当设置执行次数为1时，该系统在量测距离为30mm，60mm, 120mm, 180mm,及 240mm处进行一次量测；当设置执行次数为2时，该系统在量测距离为30mm，60mm，120mm， 180mm,及240_处进行一次量测后，再分别在量测距离为30mm，60mm, 120mm, 180mm,及 240mm处进行第二次量测。所述暂停时间是指对每一量测距离进行量测所需的时间，例如 1秒。所述自动调整光源是指自动调整光源至最佳状态。所述线纹尺指定长度是指线纹尺 的总长度。所述线纹尺的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。所述刻度下对 齐线纹尺是指线纹尺的下部刻度长度对齐，量测仪器在量测时以线纹尺的下部刻度进行量 测；所述刻度上对齐线纹尺是指线纹尺的上部刻度长度对齐，量测仪器在量测时以线纹尺 的上部刻度进行量测。所述获取模块106用于从存储设备12中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定 的刻度处的刻度误差。所述线纹尺的误差是指线纹尺的刻度误差，例如在线纹尺刻度为 IOmm处的误差为+0. 0012mm,在线纹尺刻度为20mm处的误差为-0. 0018mm,在线纹尺刻度为 30mm处的误差为+0. 002mm。所述获取模块106还用于获取所量测的线纹尺上的零点刻度。所述调整模块108用于调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置 的量测方向平行。所述量测模块110用于控制量测仪器1根据所设置的量测参数进行量测，并将量 测结果存储至存储设备12中。所述计算模块112用于根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和 量测结果，计算量测仪器1在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备 12中。例如若量测距离为30mm，该线纹尺在30mm刻度处的误差为+0. 002mm，量测模块 110对该量测距离的量测结果为30. 0012mm,则量测仪器1在该量测距离的示值误差为 30mm+0. 002mm-30. 0012mm = 0. 0008mm。参阅图3所示，是本发明量测仪器示值误差计算方法较佳实施例的流程图。步骤S10，输入模块100输入量测仪器示值误差计算系统10的参数修改密码。步骤S12，判断模块102判断所述输入的参数修改密码正确。若所述输入的参数修 改密码与存储设置12中所保存的参数修改密码相同，则判断模块102判断所述输入的参数 修改密码正确，进入参数设置界面；若所述输入的参数修改密码与存储设置12中所保存的 参数修改密码不相同，则判断模块102判断所述输入的参数修改密码不正确，提示用户参 数修改密码输入错误。步骤S14，设置模块104设置量测参数。所述量测参数包括，但不限于，量测方向、量测距离、量测选项及所量测的线纹尺的类型。在本实施例中，所述量测方向包括四个量 测方向，分别为量测作业坐标系的X轴方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成 135度角的方向。所述量测距离是指线纹尺上的量测距离。所述量测距离的设置可以参照 JIS B7440标准，也可以自定义。所述量测选项包括执行次数、暂停时间、自动调整光源及线 纹尺指定长度。所述暂停时间是指对每一量测距离进行量测所需的时间。所述自动调整光 源是指自动调整光源至最佳状态。所述线纹尺指定长度是指线纹尺的总长度。所述线纹尺 的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。所述刻度下对齐线纹尺是指线纹尺的 下部刻度长度对齐，在量测时以线纹尺的下部刻度进行量测；所述刻度上对齐线纹尺是指 线纹尺的上部刻度长度对齐，在量测时以线纹尺的上部刻度进行量测。步骤S16，获取模块106从存储设备12中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定 的刻度处的刻度误差。例如在线纹尺刻度为IOmm处的仪器误差为+0.0012mm，在线纹尺 刻度为20mm处的仪器误差为-0. 0018mm，在线纹尺刻度为30mm处的仪器误差为+0. 002mm。步骤S18，获取模块106获取所量测的线纹尺上的零点刻度。步骤S20，调整模块108调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置 的量测方向平行。步骤S22，量测模块110控制量测仪器1根据所设置的量测参数进行量测，并将量 测结果存储至存储设备12中。步骤S24，计算模块112根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和 量测结果，计算量测仪器1在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备 12中。例如若量测距离为30mm，该线纹尺在30mm刻度处的误差为+0. 002mm，量测模块 110对该量测距离的量测结果为30. 0012mm,则量测仪器1在该量测距离的示值误差为 30mm+0. 002mm-30. 0012mm = 0. 0008mm。以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照以上较佳实施方 式对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案 进行修改或等同替换都不应脱离本发明技术方案的精神和范围。
权利要求
1. 一种量测仪器示值误差计算系统，运行于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设备， 其特征在于，该系统包括设置模块，用于设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量 测选项；获取模块，用于从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度 误差及线纹尺的零点刻度；调整模块，用于调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向 平行；量测模块，用于控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测 结果存储至存储设备；及计算模块，用于根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算 量测仪器在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。
2.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，该系统还包括 输入模块，用于输入量测仪器示值误差计算系统的参数修改密码；判断模块，用于判断所述输入的参数修改密码是否正确； 其中所述设置模块在所述输入的参数修改密码正确时，提供参数设置界面以进行量测参数 的设置。
3.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，所述量测方向包括X 轴方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成135度角的方向。
4.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，所述量测选项包括 执行次数、暂停时间、自动调整光源及线纹尺指定长度。
5.如权利要求1所述的量测仪器示值误差计算系统，其特征在于，所述量测参数还包 括线纹尺的类型，线纹尺的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。
6. 一种量测仪器示值误差计算方法，所述量测仪器包括存储设备，其特征在于，该方法 包括步骤设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量测选项； 从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线纹尺 的零点刻度；调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行； 控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储 设备；及根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量 测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。
7.如权利要求6所述的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，该方法还包括步骤 输入量测仪器示值误差计算系统的参数修改密码。判断所述输入的参数修改密码正确。
8.如权利要求6所述的的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，所述量测方向包 括X轴方向，Y轴方向，与X轴成45度角的方向及与X轴成135度角的方向。
9.如权利要求6所述的的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，所述量测选项包 括执行次数、暂停时间、自动调整光源及线纹尺指定长度。
10.如权利要求6所述的的量测仪器示值误差计算方法，其特征在于，所述量测参数还 包括线纹尺的类型，线纹尺的类型包括刻度下对齐线纹尺和刻度上对齐线纹尺。
全文摘要
一种量测仪器示值误差计算方法，适用于量测仪器中，所述量测仪器包括存储设备，该方法包括步骤设置量测仪器的量测参数，所述量测参数包括量测方向、量测距离及量测选项；从存储设备中获取所量测的线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差及线纹尺的零点刻度；调整所量测的线纹尺的方向，使所量测的线纹尺与所设置的量测方向平行；控制量测仪器根据所设置的量测距离及量测选项进行量测，并将量测结果存储至存储设备；及根据线纹尺在各量测距离限定的刻度处的刻度误差和量测结果，计算量测仪器在各量测距离的示值误差，并所述示值误差存储至存储设备。本发明还提供一种量测仪器示值误差计算系统。
文档编号G01D18/00GK101995268SQ200910305889
公开日2011年3月30日 申请日期2009年8月21日 优先权日2009年8月21日
发明者张旨光, 张江红, 薛晓光, 袁忠奎, 陈贤艺 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司