专利名称：一种快速检测粉体物料混合均匀性的方法
技术领域：
本发明属于粉 体材料技术领域，特别涉及ー种快速检测粉体物料混合均匀性的方法。
背景技术：
物料混合的程度用均匀度来衡量。理论上，如果物质的一部分(単元)特性值与另一部分(单元)特性值没有差异，则该物质就该特性而言，是完全均匀的。然而，在实际上，如果物质的一部分(単元)特性值与另一部分(単元)特性值之间的差异不能被实验检测出来的话，则该物质就该特性而言，可以视为均匀。目前，常用混合均匀度评估的技术有比较法、扫描电镜法、质量组成法、像素格分析法、反射光谱法。比较法是用试样的标准无偏离方差，与偏聚程度，在大量的实验基础上得出粉体分布均勻度；扫描电镜法观察试样虽直观、方便，但此法的取样很少、代表性差，也不能对粉体的均匀性加以定量地描述；质量组成法用变异系数来描述均匀度，此法只能用于易于分离的混合粉体，否则难于求出变异系数；像素格分析法是利用计算机灰度相差较大的混合粉体分割成像素格来进行对比，此法直观、简单、易于操作且可以避免取样时带来的问题，但拍照覆盖的范围太小、代表性差，且只能对灰度相差较大的混粉进行比较好的分析；反射光谱法用显微傅里叶变换红外反射光谱法，计算每个样品峰高比相对标准偏差来确定是否均匀，此法操作复杂，取样少代表性差。

发明内容
为了克服上述现有技术的缺陷，本发明的目的在于提供ー种快速检测粉体物料混合均匀性的方法，能够克服现有方法存在的步骤复杂，适用范围窄，同时由于取样少而导致的代表性差的问题。本发明采用的技术方案为ー种快速检测粉体物料混合均匀性的方法，包括以下步骤步骤ー、混合物料属性的确定确定混合物料中每种物料的粒径大小，每种物料占混合物料的质量百分数，以及混合物料的粒径是否相同，若混合物料的粒径相同，还需确定每种物料的理论密度P，其中混合物料中的物料粒径相同是指粒径之差不大于10微米；步骤ニ、取样在混合物料中以半径为R的取样圆截取混合物料，然后数取该圆内所包含的颗粒
数总量；步骤三、计算若混合物料的粒径不同，计算偏差值
权利要求
1.一种快速检测粉体物料混合均匀性的方法，其特征在于，包括以下步骤 步骤一、混合物料属性的确定 确定混合物料中每种物料的粒径大小，每种物料占混合物料的质量百分数，以及混合物料的粒径是否相同，若混合物料的粒径相同，还需确定每种物料的理论密度P， 其中混合物料中的物料粒径相同是指粒径之差不大于10微米； 步骤二、取样 在混合物料中以半径为R的取样圆截取混合物料，然后数取该圆内所包含的颗粒数总量; 步骤三、计算 若混合物料的粒径不同，计算偏差值
2.根据权利要求I所述的方法，其特征在于，步骤二中取样圆的半径R= 2 14mm。
全文摘要
本发明公开了一种快速检测粉体物料混合均匀性的方法，首先了解被混物料的各项性能，然后混合后取样，然后通过计算，算出偏差值，然后根据偏差值的大小进行评估，当偏差值不大于10％时就认为物料已经混合均匀，如果大于10％，则要重新继续混合，然后重新取样检测，直至达到所要求的偏差值，本发明采用计算的方法来评估物料混合均匀程度，能够克服现有方法存在的步骤复杂，适用范围窄，同时由于取样少而导致的代表性差的问题，是一种全新的技术，为企业降低成本、提高效率、增强了产品的竞争力。
文档编号G01N15/00GK102661911SQ20121012480
公开日2012年9月12日 申请日期2012年4月26日 优先权日2012年4月26日
发明者张剑, 罗启文, 陈文革 申请人:西安理工大学