专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置，特别涉及一种用于测试连接器插槽信号完整性的测试
直O
背景技术：
存储桥接舱(StorageBridge Bay, SBB)工作组是 EMC、Dell、Intel 和 LSILogic 联手组建的致力于入门级外置存储标准化的非营利协作组织。该组织通过标准化存储控制卡的插槽接口，使之适用于多厂商多类型的存储器产品，以节省供货商们在硬件架构设计上的重复投入。SBB组织定义的存储控制卡插槽接口就是SBBMI (SBB Midplane Interconnect)接口。SBBMI接口是基于SBB架构的存储器用来连接存储控制卡和存储单元(如硬盘) 的接口，存储控制卡通过SBBMI接口来实现和存储单元的数据交换。为了确保存储器产品的品质，需对SBBMI接口中传输的SAS、SATA及FC等高频数字信号进行信号完整性测试，以验证其是否符合SBB规范。然而，因SBB规范定义的连接器的引脚数量较多，无法对所有的引脚一次完成测试。现有方式通常需要使用多个测试装置分别对不同的各引脚信号接入到测试仪器。如此，在测试连接器的一部分高频信号输出引脚时，由于没有对其余部分的高频信号输出引脚的信号进行终结，造成测试结果的不准确，无法真实反映待测连接器的质量。

发明内容
有鉴于此，有必要提供一种可提高测试准确性的测试装置。一种测试装置，用以对待测试的连接器进行测试。所述测试装置包括一测试电路板、多个转接器及一测试仪器。所述待测试的连接器可插拔地连接在所述测试电路板上。所述多个转接器分别连接至所述测试电路板。所述待测试的连接器的输出信号经所述测试电路板传输至所述转接器，并由所述转接器输出至所述测试仪器。所述测试电路板包括多个引脚。所述多个引脚采用9*10方式排列，其9行定义为A-I，10列定义为1-10。其中，所述测试电路板的引脚A5、B5、D5、E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、16与所述多个转接器—— 相连，引脚 C1、F1、I1、A2、D2、G2、C3、F3、13、A4、D4、G4、C5、F5、15、A6、D6、G6、C7、F7、17、 A8、D8、G8、C8、C9、F9、19、A10、CIO、GlO为接地引脚，其余各引脚分别通过一电阻与上述接地引脚电性连接。相较于现有技术，本发明的所述测试装置将所述测试电路板的引脚A5、B5、D5、E5、 G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、I6分别与一转接器相连，只需通过改变待测试连接器与测试电路板连接的引脚列数，即可将待测试连接器的引脚信号分别由转接器输出，使用方便。而且， 在测试待测试的连接器的第一组引脚时，其他两组的高频信号输出引脚均通过所述电阻与接地引脚相连，实现了对其余未测试的高频信号输出引脚的信号终结。因此，避免了未测试的高频信号输出引脚输出的高频信号的串扰，提高了测试的准确性。


图1为本发明实施方式的测试装置的功能模块图；图2为本发明实施方式的待测试的连接器的引脚封装图；图3为图2的待测试的连接器的引脚封装接器的引脚定义表；图4为图1的测试装置的示意图；图5为本发明实施方式的测试装置的测试电路板示意图；图6为本发明实施方式的测试装置对待测试的连接器的第一组引脚进行测试时， 待测试的连接器与测试电路板的连接示意图；图7为本发明实施方式的测试装置对待测试的连接器的第二组引脚进行测试时， 待测试的连接器与测试电路板的连接示意图；图8为本发明实施方式的测试装置对待测试的连接器的第三组引脚进行测试时， 待测试的连接器与测试电路板的连接示意图。主要元件符号说明
测试装置100
待测试的连接器200
测试电路板20
转接器60
测试仪器80
具体实施例方式下面将结合附图对本发明实施方式作进一步的详细说明。请一并参阅图1与图2，本发明较佳实施方式提供的测试装置100用以对待测试的连接器200的高频数字信号的完整性进行测试。本实施方式中，所述待测试的连接器200 的引脚采用9*6方式排列。其9行定义为A-I，6列定位为01-06 ；所述待测试的连接器200 的引脚定义如图3列表所示。其中，GND表示为接地引脚，HS为高频信号输出引脚，LS为低频信号输出引脚。其中，所述待测试的连接器200的15对引脚(A0U B01), (DOU E01), (B02、C02)，(E02、F02)，(H02、I02)，(A03、B03)，(D03、E03)，(G03、H03)，(B04、C04)，(E04、 F04), (A05、B05)，(D05、E05)，(G05.H05), (B06、C06)，(E06、F06)用以连接两个存储卡。所述待测试的连接器 200 的 12 对引脚(D01、E01)，(G01、H01)，(E02、F02)，(H02、I02)，(D03、 E03), (G03、H03)，(E04、F04)，(H04、104)，(D05、E05)，(G05、H05)，(E06、F06)，(H06、106) 用以连接存储控制卡或硬盘。所述测试装置100包括一测试电路板20、多个转接器60及一测试仪器80。所述测试电路板20分别与所述待测试的连接器200及转接器60相连。所述转接器60与所述测试仪器80相连。所述待测试的连接器200的输出信号经所述测试电路板20传输至所述转接器60，并由所述转接器60输出至所述测试仪器80。请一并参阅图4与图5，所述测试电路板20为一印刷电路板，其引脚采用9*10方式排列，其9行定义为A-1,10列定义为1-10。其中，所述测试电路板20的引脚A5、B5、D5、 E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、I6 分别与一转接器 60 相连。引脚 C1、F1、I1、A2、D2、G2、C3、 F3、13、A4、D4、G4、C5、F5、15、A6、D6、G6、C7、F7、17、A8、D8、G8、C8、C9、F9、19、A10、CIO、GlO为接地引脚。其余各引脚分别通过一电阻R与上述接地引脚电性连接。所述电阻R与所述待测试连接器200上的闲置信号走线的特征阻抗匹配。本实施方式中，所述电阻R的阻值为50欧姆。所述待测试的连接器200可插拔地设置于所述测试电路板20上。所述待测试的连接器200的引脚输出的信号接入至所述测试电路板20。所述转接器60用于将上述引脚六5、85、05工5、65、!15、86丄636、卩6、!16、16分别连接至所述测试仪器80，以进行测试。在本实施方式中，对应上述12个引脚A5、B5、D5、E5、 G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、16共有12个转接器60。所述测试仪器80为示波器。使用该测试装置100将所述待测试的连接器200的输出信号转接至所述测试仪器 80时，可将所述待测试的连接器200的引脚分为三组，其中，第一组为(A01、B01)，(D0U E01)，(G01、H01)，(B02、C02)，(E02、F02)，(H02、102)；第二组为(A03、B03)，(D03、E03)， (G03、H03)，(B04、C04)，(E04、F04)，(H04、104)；第三组为(A05、B05)，(D05、E05)，(G05、 H05)，(B06、C06)，(E06、F06)，(H06、106)。请一并参阅图6，当需要对第一组引脚进行测试时，将所述测试电路板20位于1-6 列的引脚相连至所述待测试的连接器200。此时，所述待测试的连接器200的第一组引脚即被连接至所述测试电路板20，并通过转接器60连接到测试仪器80。所述待测试的连接器 200的第二组引脚和第三组引脚的高频信号输出引脚均通过所述电阻R与接地引脚相连。请一并参阅图7，当需要对第二组引脚进行测试时，将测试电路板20位于3-8列的引脚相连至所述待测试的连接器200，此时，所述待测试的连接器200的第二组引脚即被连接至所述测试电路板20，并通过所述转接器60连接到所述测试仪器80。所述待测试的连接器200的第一组引脚和第三组引脚的高频信号输出引脚均通过所述电阻R与接地引脚相连。请一并参阅图8，当需要对第三组引脚进行测试时，将测试电路板20位于5-10列的引脚相连至所述待测试的连接器200，此时，所述待测试的连接器200的第三组引脚即被接入到所述测试电路板20，并通过所述转接器60连接到所述测试仪器80。所述待测试的连接器200的第一组引脚和第二组引脚的高频信号输出引脚均通过所述电阻R与接地引脚相连。本发明的所述测试装置100将所述测试电路板20的引脚々5、85、0535、65、!15、86、 C6、E6、F6、H6、I6与一转接器60相连，只需通过改变待测试连接器与测试电路板20连接的引脚列数，即可将待测试连接器的引脚信号分别由转接器60输出，使用方便。而且，在测试其中一组引脚时，其他两组的高频信号输出引脚均通过所述电阻R与接地引脚相连，实现了对其余未测试的高频信号输出引脚的信号终结，因此，避免了未测试的高频信号输出引脚输出的高频信号的串扰，提高了测试的准确性。虽然本发明已以较佳实施方式披露如上，但是，其并非用以限定本发明，另外，本领域技术人员还可以在本发明精神内做其它变化等。当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。
权利要求
1.一种测试装置，用以对待测试的连接器进行测试，所述测试装置包括一测试电路板、 多个转接器及一测试仪器，所述待测试的连接器可插拔地连接在所述测试电路板上，所述多个转接器分别连接至所述测试电路板，所述待测试的连接器的输出信号经所述测试电路板传输至所述转接器，并由所述转接器输出至所述测试仪器，其特征在于所述测试电路板包括多个引脚，所述多个引脚采用9*10方式排列，其9行定义为A-I，10列定义为1-10，其中，所述测试电路板的引脚A5、B5、D5、E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、16与所述多个转接器 ——相连，引脚 CUFU I1、A2、D2、G2、C3、F3、13、A4、D4、G4、C5、F5、15、A6、D6、G6、C7、F7、 17、A8、D8、G8、C8、C9、F9、19、A10、CIO、GlO为接地引脚，其余各引脚分别通过一电阻与上述接地引脚电性连接。
2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述电阻与所述待测试连接器上的闲置信号走线的特征阻抗匹配。
3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于所述电阻的阻值为50欧姆。
4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述测试仪器为示波器。
5.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于所述待测试的连接器的引脚分为三组， 其中，第一组为(A01、B01)，(D0U E01), (GOU HOI), (B02、C02)，(E02、F02)，(H02、102)； 第二组为(A03、B03)，(D03、E03)，(G03、H03)，(B04、C04)，(E04、F04)，(H04、104)；第三组为(A05、B05)，(D05、E05)，(G05、H05)，(B06、C06)，(E06、F06)，(H06、106)。
6.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于当需要对第一组引脚进行测试时，将所述测试电路板上位于1-6列的引脚相连至所述待测试的连接器，所述待测试的连接器的第二组引脚和第三组引脚的高频信号输出引脚均通过所述电阻与接地引脚相连。
7.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于当需要对第二组引脚进行测试时，将测试电路板上位于3-8列的引脚相连至所述待测试的连接器，所述待测试的连接器的第二组引脚即被连接至所述测试电路板，并通过所述转接器连接到所述测试仪器，所述待测试的连接器的第一组引脚和第三组引脚的高频信号输出引脚均通过所述电阻与接地引脚相连。
8.如权利要求5所述的测试装置，其特征在于当需要对第三组引脚进行测试时，将测试电路板上位于5-10列的引脚相连至所述待测试的连接器，所述待测试的连接器的第三组引脚即被接入到所述测试电路板，并通过所述转接器连接到所述测试仪器，所述待测试的连接器的第一组引脚和第二组引脚的高频信号输出引脚均通过所述电阻与接地引脚相连。
全文摘要
一种测试装置，其包括一测试电路板、多个转接器及一测试仪器。待测试的连接器可插拔地连接在测试电路板上。多个转接器分别连接至测试电路板。待测试的连接器的输出信号经测试电路板传输至转接器，并由转接器输出至测试仪器。测试电路板包括多个引脚。多个引脚采用9*10方式排列，其9行定义为A-I，10列定义为1-10。其中，测试电路板的引脚A5、B5、D5、E5、G5、H5、B6、C6、E6、F6、H6、I6与多个转接器一一相连，引脚C1、F1、I1、A2、D2、G2、C3、F3、I3、A4、D4、G4、C5、F5、I5、A6、D6、G6、C7、F7、I7、A8、D8、G8、C8、C9、F9、I9、A10、C10、G10为接地引脚，其余各引脚分别通过一电阻与上述接地引脚连接。本发明的测试装置的测试的准确性高。
文档编号G01R31/04GK102540004SQ201010579160
公开日2012年7月4日 申请日期2010年12月8日 优先权日2010年12月8日
发明者黄发生 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司