专利名称：光学镜片间隔距离测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光学镜片间隔距离测量装置。
背景技术：
在镜头的光学系统中有多片光学镜片组成，镜片与镜片之间或镜片与某些基准之 间有一定的距离要求，人们把它称作光学间隔距离。这些光学间隔距离是通过镜筒或隔圈 等结构件将镜片相互承靠，区隔形成，这些金属结构件的形状，尺寸精度将直接影响光学间 隔距离的大小。 光学间隔距离的控制是光学行业常见的重要的加工控制项目，为了确保制造后的 零件与装配后满足光学间隔距离要求，一般的方法是通过设计标准测量镜片和测量装置， 将标准镜片小心放入加工好的零件的上端面上，将测量套筒套入镜片的上部，再用测量表 头寻找镜片的测量点(凹球面最低点，凸球面最高点)，与图面设计规格做比较，判定合格 与否。该种测量方法找点困难，不易找到镜片的高点(凸镜片)，低点(凹镜片)；测量结果 受人的经验制约，因为找点时，测量头在玻璃面上频繁划动，测量玻璃极易磨损，不耐用，还 存在批量产品错误判断的潜在危险；光学玻璃脆性大，极易碰伤打碎，检测镜片的制造成本 较高。因为要等待测量镜片的制造完成才可以试制有光学间隔距离要求的零件，所以新产 品的研发周期拉长，不利于企业争取时间，面对市场竞争。 本实用新型改变传统测量思维模式，将基准玻璃转换成金属材质。并由表针寻找 高低点的测量方式变换成表针测平面的方式，节省了测量的时间，提高了测量的准确率。

发明内容本实用新型是提供一种测量方便快捷，测量精度高，稳定性好，使用寿命长的光学 镜片间隔距离测量装置。 本实用新型是通过下列技术方案来解决的该装置由金属检具座、套圈、检测块构 成，其中套圈设在金属检具座上，其套圈内孔与金属检具座外圆配合，待检零件的待测端面
与金属检具座的凸球面贴合，其外圆与套圈内孔配合，测量块装在套圈内，压在待检零件的 另一个端面。

图1为本实用新型实施例结构示意图具体实施方式如图l所示，该装置由金属检具座1、套圈3、测量块4构成，其中套圈3设在金属 检具座1上，其套圈3内孔与金属检具座1外圆配合，待检零件2的待测端面与金属检具座 1的凸球面贴合，其外圆与套圈3内孔配合，测量块4装在套圈3内，压在待检零件2的另一 个端面。[0009] 测量方法是通过测量L1，L2，L3，计算得出间隔尺寸为H0 = L1_L2_L3，与图面规 格比较，作出合格或不合格判定，调整加工，因为L2， L3事先已知，实际生产测量时，仅测量 Ll便可，非常方便快捷 检具结构设计时，充分考虑到了检具的可靠性和操作方便性，将测量头寻找光学 凹玻璃最低点改成在测量块4的上平面测量，还可以直接用分厘卡量出Ll尺寸，生产现场 非常容易操作使用。 测量块4可用45钢淬火后精磨而成，或用铜材加工后再做镀硬铬处理，这样的测 量块耐磨而且修正非常方便简单。 设计中将检测镜片转换成只有单面球面的金属检具座l，材料选用铜材，精确车加
工球面后做表面镀硬铬处理，提高球面在测量过程与零件接触的耐磨性。 即便是检测底座的球面R值与检测镜片R值存在差异，也不用担心测量精度，可以
根据实际测量的检测底座R值，经过计算修正图面规格要求，按修正后的规格要求来做判
定标准。 测量底座球面磨损后的处理方法同上述方法处理。 综上所述，本实用新型改变了传统测量思维模式，将基准玻璃转换成金属材质。并 由表针寻找高低点的测量方式变换成表针测平面的方式，使用简单快捷，测量方式灵活，便 于现场操作，测量精度和稳定性提高，检具耐磨，使用寿命长，縮短产品研发周期。
权利要求一种光学镜片间隔距离测量装置，其特征在于该装置由金属检具座、套圈、检测块构成，其中套圈设在金属检具座上，其套圈内孔与金属检具座外圆配合，待检零件的待测端面与金属检具座的凸球面贴合，其外圆与套圈内孔配合，测量块装在套圈内，压在待检零件的另一个端面。
专利摘要本实用新型涉及一种光学镜片间隔距离测量装置。该装置由金属检具座、套圈、检测块构成，其中套圈设在金属检具座上，其套圈内孔与金属检具座外圆配合，待检零件的待测端面与金属检具座的凸球面贴合，其外圆与套圈内孔配合，测量块装在套圈内，压在待检零件的另一个端面。使用简单快捷，测量方式灵活，便于现场操作，测量精度和稳定性提高，检具耐磨，使用寿命长，缩短产品研发周期。
文档编号G01B5/14GK201514184SQ200920177399
公开日2010年6月23日 申请日期2009年9月17日 优先权日2009年9月17日
发明者卢河源, 许庆林 申请人:凤凰光学股份有限公司