专利名称：一种相位检测电路的制作方法
技术领域：
本发 明涉及一种应用电路，具体的涉及一种相位检测电路。
背景技术：
现有的相位检测电路形形色色种类繁多，但大多结构复杂，功能复杂，而在一 些只需要功能单一的应用场合下，往往是采用复杂电路结构的相位检测电路来完成单一 功能的相位检测功能，这样一方面成本会有所提高，另外一方面，电路结构一旦复杂化 后，其背后的不稳定因素也在增加，如此便在无形之中降低了产品合格率。

发明内容
为克服现有技术中的不足，本发明的目的在于提供一种结构简单的相位检测电路。为了解决上述技术问题，实现上述目的，本发明采用了如下技术方案一种相位检测电路，包括一检测芯片，所述检测芯片的检测端口 A/D连接在一 光耦Ul的集电极输出端，光耦Ul的集电极输出端连接一上拉电阻R3，所述光耦Ul的 发射极输出端接地，所述光耦Ul的第一输入端连接电阻R2，所述电阻R2连接电阻R1， 所述电阻Rl连接二极管D1，所述二极管Dl连接检测端N，所述光耦Ul的第二输入端 接地。进一步的，所述光耦Ul的集电极输出端与发射极输出端之间跨接有一滤波电容 C2。进一步的，所述光耦Ul的第一输入端与第二输入端之间跨接有一滤波电容 Cl。进一步的，所述光耦Ul的第一输入端与第二输入端之间跨接有一隧道二极管 D2。本发明的相位检测电路的工作过程如下当检测端N有电压时，电压通过二极管Dl和电阻Rl、R2使光耦Ul的集电极 输出端与发射极输出端导通，那么检测芯片的检测端口 A/D的电压就低于3V。相位检 测，正常时电压为高，当电压低于3V时判为相位接错。本发明具有以下优点本发明的相位检测电路结构简单，使用方便。上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手 段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明 如后。本发明的具体实施方式
由以下实施例及其附图详细给出。


图1为本发明的相位检测电路的电路原理图。
图中标号说明1、光耦Ul的第一输入端，2、光耦Ul的第二输入端，3、光耦 Ul的发射极输出端，4、光耦Ul的集电极输出端，5、检测芯片。
具体实施例方式下面结合附图和实施 例对本发明的技术实施过程做进一步说明。参见图1所示，一种相位检测电路，包括一检测芯片5，所述检测芯片5的检测 端口 A/D连接在一光耦Ul的集电极输出端4，光耦Ul的集电极输出端4连接一上拉电 阻R3，所述光耦Ul的发射极输出端3接地，所述光耦Ul的第一输入端1连接电阻R2， 所述电阻R2连接电阻R1，所述电阻Rl连接二极管D1，所述二极管Dl连接检测端N， 所述光耦Ul的第二输入端2接地。进一步的，所述光耦Ul的集电极输出端4与发射极输出端3之间跨接有一滤波 电容C2。进一步的，所述光耦Ul的第一输入端1与第二输入端2之间跨接有一滤波电容 Cl。进一步的，所述光耦Ul的第一输入端1与第二输入端2之间跨接有一隧道二极
管D2。上述实施例只是为了说明本发明的技术构思及特点，其目的是在于让本领域内 的普通技术人员能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范 围。凡是根据本发明内容的实质所作出的等效的变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护 范围内。
权利要求
1.一种相位检测电路，包括一检测芯片(5)，其特征在于所述检测芯片(5)的检测 端口 A/D连接在一光耦Ul的集电极输出端(4)，光耦Ul的集电极输出端⑷连接一上 拉电阻R3，所述光耦Ul的发射极输出端(3)接地，所述光耦Ul的第一输入端(1)连接 电阻R2，所述电阻R2连接电阻R1，所述电阻Rl连接二极管D1，所述二极管Dl连接 检测端N，所述光耦Ul的第二输入端(2)接地。
2.根据权利要求1所述的相位检测电路，其特征在于所述光耦Ul的集电极输出端 ⑷与发射极输出端⑶之间跨接有一滤波电容C2。
3.根据权利要求1所述的相位检测电路，其特征在于所述光耦Ul的第一输入端 (1)与第二输入端(2)之间跨接有一滤波电容Cl。
4.根据权利要求3所述的相位检测电路，其特征在于所述光耦Ul的第一输入端 (1)与第二输入端(2)之间跨接有一隧道二极管D2。
全文摘要
本发明公开了一种相位检测电路，包括一检测芯片，所述检测芯片的检测端口A/D连接在一光耦U1的集电极输出端，光耦U1的集电极输出端连接一上拉电阻R3，所述光耦U1的发射极输出端接地，所述光耦U1的第一输入端连接电阻R2，所述电阻R2连接电阻R1，所述电阻R1连接二极管D1，所述二极管D1连接检测端N，所述光耦U1的第二输入端接地。本发明的电路结构简单，使用方便。
文档编号G01R25/00GK102012459SQ20101053077
公开日2011年4月13日 申请日期2010年11月3日 优先权日2010年11月3日
发明者胡国良, 魏王江 申请人:苏州合欣美电子科技有限公司