专利名称：基于电阻分压的光耦测试方法
技术领域：
本发明涉及一种光耦测量系统，特别是一种基于电阻分压的光耦测试方法。
背景技术：
继电保护及安全自动装置的发展，微机保护已得到普及应用。微机保护装置中光耦因其良好的抗干扰性能得到广泛应用。另一方面由于对厂站二次电缆对地电容的广泛关注，大功率中间继电器也普遍使用；因电站结构的原因500KV升压站及200KV开关站空间布置上距离远，长电缆对地电容过大引起保护曾给安全生产带来极大压力，根据继电保护专业的反措要求，在装置中大量采用了大功率启动的中间继电器。根据继电保护规程要求，测试光耦或中间继电器的动作电压及动作功率是一项重要工作。传统的继电器都是显露在外的，因此测量继电器动作值的电网标准方法是直接在 线圈两端加电压，测试开出接点，将电压由低往高调整，直到继电器保护动作，记录动作电压电流，从而计算保护启动功率。然而由于微机保护光耦的继电器都是集成在整体设备中，单一的继电器没有了引出端子，欲测保护启动功率，根据电网标准方法需给整体装置加电压并短接受测继电器的开入接点，同时还需开入至CPU中，由CPU反映状态，此时依然调整电压由低到高，直到受测继电器动作，由上述方法测试光耦保护启动功率时带来的问题在于:
(I)保护装置的显示启动电压(CPU)和光耦保护动作的启动电压不一致，也就是说，随着外加电压的逐渐升高，可能产生光耦保护已经动作，但由于保护装置的微机电路启动时间过长;CPU电源未能启动，导致即便保护动作，也无法显示，不能获得保护动作的准确时间；(2)另外，对于微机而言，无论外加电压大小(>24V)，其电源稳定后电压基本也稳定在24V值，这对于已经被短接的继电器来说，就只能停留在24V，因此当某一继电器动作值低于24V时，无法测试；(3)接线较为复杂，且现在保护(如非电量装置)开入点多，严重影响工作效率。因此由于光耦集成在保护装置中，对上述测量已经无法采用电网标准的测量方法来实现，需要另避蹊径。

发明内容
本发明的目的在于根据现有技术的不足之处而提供一种结构简单，操作方便，测量可靠有效的基于电阻分压的光耦测试方法。本发明是通过以下途径来实现的
基于电阻分压的光耦测试方法，其要点在于，包括如下步骤
提供一种测试装置，其包括有可调电阻箱、电流表计和电压表计，电流表计和可调电阻箱串联后，与电压表计并联，并联电路提供两个连接点；
将该两个连接点分别接入保护装置的开路节点的两端；
先将可调电阻箱的电阻调到最大，然后慢慢将可调电阻箱的电阻调小，
通过保护装置的显示屏观察保护动作状况，电阻的减小到某一值时，光耦发生动作，记录动作时的电压表计和电流表计读数，计算保护动作的启动功率。将带有电压表计和电流表计的可调电阻箱并接在线路两端，这样，就由微机的正电源经由可调电阻箱到线圈(继电器)，再到微机负电源形成一条串联回路，此时需保持开路节点的断路状态。由于可调电阻箱与线圈串联，因此可调电阻箱便对线圈起到了分压作用，当可调电阻箱电阻为零时，也就等同于线路短接。因此可调电阻箱的电阻最大时，其所分电压最大，而线圈所受电压最小，随着可调电阻箱的电阻变小，其所分电压也减小，相应的线圈电压增大，直到保护动作，此时可根据电流表计和电压表计上获得的读数进行计算，从而获得继电器的保护动作功率。在现有技术中，由于日趋成熟的技术发展使得本领域的技术人员受电网标准影响很深，难以获得新的思路和技术方案。本发明的发明人基于最基础的电路知识，克服电网标准所形成的技术偏见，将传统的电阻分压技术用于先进的微机光耦测试中，解决了微机保护光耦所带来的一系列测试问题，不但能够安全可靠的对光耦保护进行测试，接线简单、结构简单、操作方便、成本低廉，实用性极强，同时不影响微机光耦线路的正常运行，保持其 CPU能够正常启动，及时获得保护动作的准确时间。综上所述，本发明提供了一种基于电阻分压的光耦测试方法，利用电阻分压原理方便测试装置内部光耦及中间继电器动作电压及功率。将测试装置与开入接点两端并接，通过调节可调电阻箱，读取电压电流值计算功率。对于大功率启动继电器，还可观察动作电流从大到小的阶跃。本发明发明人在多年现场调试中认真分析总结发明了专用的微机保护光耦功率测试仪。具有轻便携带、精度等级高，接线方接线方式简单，操作方便等特点。


图I所示为本发明所述基于电阻分压的光耦测试装置的电路结构和测试方法示意图。下面结合实施例对本发明做进一步描述。
具体实施例最佳实施例
参照附图1，基于电阻分压的光耦测试方法，包括如下步骤
提供一种基于电阻分压的光耦测试装置，其包括有可调电阻箱R、毫安电流表计A和电压表计V，电流表计A和可调电阻箱R串联后，与电压表计V并联，并联电路提供两个连接点
1、2 ；
将该两个连接点分别接入保护装置的开路节点的两端3、4 ；
先将可调电阻箱R的电阻调到最大，然后慢慢将可调电阻箱R的电阻调小，
通过保护装置的显示屏观察保护动作状况，电阻的减小到某一值时，光耦发生动作，记录动作时的电压表计V和电流表A计读数，计算保护动作的启动功率。本发明未述部分与现有技术相同。
权利要求
1.基于电阻分压的光耦测试方法，其要点在于，包括如下步骤 提供一种测试装置，其包括有可调电阻箱、电流表计和电压表计，电流表计和可调电阻箱串联后，与电压表计并联，并联电路提供两个连接点； 将该两个连接点分别接入保护装置的开路节点的两端； 先将可调电阻箱的电阻调到最大，然后慢慢将可调电阻箱的电阻调小， 通过保护装置的显示屏观察保护动作状况，电阻的减小到某一值时，光耦发生动作，记录动作时的电压表计和电流表计读数，计算保护动作的启动功率。
全文摘要
本发明涉及一种光耦测量系统，特别是一种基于电阻分压的光耦测试方法,利用电阻分压原理方便测试装置内部光耦及中间继电器动作电压及功率:将测试装置与开入接点两端并接，通过调节可调电阻箱，读取保护动作时的电压电流值并计算保护启动功率。基于最基础的电路知识，克服电网标准所形成的技术偏见，将传统的电阻分压技术用于先进的微机光耦测试中，解决了微机保护光耦所带来的一系列测试问题，不但能够安全可靠的对光耦保护进行测试，接线简单、结构简单、操作方便、成本低廉，实用性极强，同时不影响微机光耦线路的正常运行，保持其CPU能够正常启动，及时获得保护动作的准确时间。
文档编号G01R31/327GK102692575SQ20121019777
公开日2012年9月26日 申请日期2012年6月15日 优先权日2012年6月15日
发明者余永龙, 吴昌旺, 周璇, 林锋, 陈亨思, 陈琼 申请人:福建水口发电集团有限公司