专利名称：电学测试架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种电学测试架。
背景技术：
目前电学上对信号放大器等测试时，是将被测物水平放置，这样在测量时对被测 物不容易固定，测量精度往往达不到要求；而将被测物垂直放置测试时，对测试高度的调节 难以控制。
试平台上的调节杆和一端套接在调节 试平台上与测试孔相对应处开有测试

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种装夹方便，测试准确的电学测试架。 本实用新型采用的技术方案是 —种电学测试架，包括测试平台、固定在》J 杆上的升降杆，该升降杆的另一端开有测试孔，在》 底孔；在升降杆与调节杆套接的一侧设有可调节升降杆升降的调节装置，所述测试平台上 设有可拆卸的小支架，该小支架上开有与测试孔和测试底孔相对应的测试固定孔，该测试 固定孔的一侧设有固定装置。 所述小支架底部固定有关于测试固定孔直径相对称的两个脚销，该脚销与测试平
台上开在测试底孔两侧的脚孔相插接。 所述脚销通过螺纹与小支架固定连接。 所述调节装置由平头螺钉I和螺母I组成，该螺母I与调节杆相平行设置在升降 杆内，所述平头螺钉I通过升降杆开有的导向孔I与螺母I相配合。 所述固定装置由平头螺钉II和螺母II组成，该螺母II与测试固定孔相平行设置
在小支架内，所述平头螺钉II通过小支架上开有的导向孔II与螺母II相配合。 所述测试平台上设有至少三个围绕测试底孔等距分布的安装脚。 所述调节装置可根据测试物所需测试高度的要求，调节高度，保证测试的精度，尤
其是该装置通过平头螺钉I的调节，使得调节方便、快速。 所述测试平台测试底孔两侧设有两个脚孔，该脚孔上安装有可拆卸的小支架，该
小支架上开有与测试孔和测试底孔相对应的测试固定孔，该测试固定孔的一侧设有固定装
置，这样使得本实用新型对被测物测试时的装夹比较方便可靠，对测试精度有一定的保证。
尤其是测试平台上设有至少三个围绕测试底孔等距分布的安装脚，这样不仅可对较小的被
测物测试，还可以对较大的被测物进行测试，提高了本实用新型的使用范围。 本实用新型的优点对被测物测试时装夹方便，测试准确，提高了测试效率。

图1为本实用新型的整体结构示意图。 图2为本实用新型的小支架结构示意图,[0016] 图3为本实用新型测试较小测试物的结构示意图。 图4为本实用新型升降杆结构示意图。 其中，1、调节杆，2、平头螺钉I，3、升降杆，4、测试平台，5、安装脚，6、测试固定孔， 7、小支架，8、平头螺钉11，9、脚销，10、脚孔，11、测试底孔，12、测试孔，13、螺母II， 14、导向 孔11，15、螺母1，16、导向孔I。
具体实施方式如图1、图2和图4所示，一种电学测试架，包括测试平台4、固定在测试平台4上 的调节杆1和一端套接在调节杆1上的升降杆3，该升降杆3的另一端开有测试孔12，在测 试平台4上与测试孔12相对应处开有测试底孔11 ;在升降杆3与调节杆1套接的一侧设 有可调节升降杆3升降的调节装置，该调节装置由平头螺钉12和螺母115组成，该螺母115 与调节杆1相平行设置在升降杆3内，平头螺钉？通过升降杆3开有的导向孔116与螺母 115相配合；测试平台4上开有在测试底孔11两侧的脚孔10，该脚孔10上插接有脚销9， 脚销9通过螺纹固定有可拆卸的小支架7，该小支架7上开有与测试孔12和测试底孔11相 对应的测试固定孔6，该测试固定孔6的一侧设有固定装置，该固定装置由平头螺钉118和 螺母1113组成，该螺母1113与测试固定孔6相平行设置在小支架7内，平头螺钉118通过 小支架7上开有的导向孔1114与螺母1113相配合。 测试平台4上设有至少三个围绕测试底孔11等距分布的安装脚5。 本实用新型是这样运作的将被测物放入小支架7测试固定孔6中，拧紧平头螺钉 118固定被测物，根据被测物所需测试高度，调节平头螺钉12调节升降杆3的高度，调节好 后将测试装置通过测试孔12，即可对被测物进行测试。 当被测物较大时，可对本实用新型如图3所示的调整，将小支架7拆卸下，将被测 物安装在安装脚5上，根据被测物所需测试高度，调节平头螺钉12调节升降杆3的高度，调 节好后将测试装置通过测试孔12，即可对被测物进行测试。
权利要求一种电学测试架，包括测试平台、固定在测试平台上的调节杆和一端套接在调节杆上的升降杆，该升降杆的另一端开有测试孔，在测试平台上与测试孔相对应处开有测试底孔，其特征在于在升降杆与调节杆套接的一侧设有可调节升降杆升降的调节装置，所述测试平台上设有可拆卸的小支架，该小支架上开有与测试孔和测试底孔相对应的测试固定孔，该测试固定孔的一侧设有固定装置。
2. 根据权利要求1所述的电学测试架，其特征在于所述小支架底部固定有与测试固 定孔直径相对称的两个脚销，该脚销与测试平台上开在测试底孔两侧的脚孔相插接。
3. 根据权利要求2所述的电学测试架，其特征在于所述脚销通过螺纹与小支架固定 连接。
4. 根据权利要求1所述的电学测试架，其特征在于所述调节装置由平头螺钉I和螺 母I组成，该螺母I与调节杆相平行设置在升降杆内，所述平头螺钉I通过升降杆开有的导 向孔I与螺母I相配合。
5. 根据权利要求1所述的电学测试架，其特征在于所述固定装置由平头螺钉II和螺 母II组成，该螺母II与测试固定孔相平行设置在小支架内，所述平头螺钉II通过小支架 上开有的导向孔II与螺母II相配合。
6. 根据权利要求1所述的电学测试架，其特征在于所述测试平台上设有至少三个围 绕测试底孔等距分布的安装脚。
专利摘要本实用新型涉及一种电学测试架，包括测试平台、固定在测试平台上的调节杆和一端套接在调节杆上的升降杆，该升降杆的另一端开有测试孔，在测试平台上与测试孔相对应处开有测试底孔；在升降杆与调节杆套接的一侧设有可调节升降杆升降的调节装置，所述测试平台上设有可拆卸的小支架，该小支架上开有与测试孔和测试底孔相对应的测试固定孔，该测试固定孔的一侧设有固定装置。本实用新型的优点对被测物测试时装夹方便，测试准确，提高了测试效率。
文档编号G01R1/04GK201477125SQ200920304080
公开日2010年5月19日 申请日期2009年6月8日 优先权日2009年6月8日
发明者沈晓明 申请人:沈晓明