专利名称：键盘性能测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种键盘性能测试治具。
背景技术：
目前所用的键盘测试治具为单ー固定模式，不可旋转治具软排线底板的方向，只能检测键盘软排线的单一方向；且不可以根据键盘软排线的大小做相应的调节定位，不能显示键盘测试的阻值，没有报警功能，共用性差
实用新型内容
本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种测试性能强的键盘性能测试治具。实现本实用新型目的的技术方案是一种键盘性能测试治具，具有承载机构、压合测试机构和电源机构；所述承载机构具有键盘承载底板、避位块和滑杆；所述键盘承载底板设置在避位块上方；所述避位块套接在滑杆上；所述压合测试机构具有“U”形滑槽、软排线底板、转接板、压合板、快速压头、性能测试板和测试启动开关；所述软排线底板设置在“U”形滑槽内，软排线底板上设有转接板；所述转接板上设有压合板；所述压合板与快速压头连接；所述性能测试板可以通过软排线与转接板导通；所述测试启动开关串接在测试电路中；所述电源机构具有串接的电源接入口和电源控制开关。上述技术方案所述承载机构还具有四组“L”形的定位块；所述定位块设置在键盘承载底板的四个角的外側，且每组定位块设置在两平行的滑槽内。上述技术方案所述软排线底板上具有两组左右对称设置的定位调节块。上述技术方案所述压合测试机构还具有限位块；所述限位块设置在转接板上方。上述技术方案所述压合测试机构还具有阻值显示块；所述阻值显示块并联在检测键盘的回路中。上述技术方案还具有指示灯；所述指示灯串接在测试电路中，指示灯包括良品指示灯、不良品指示灯、LED测试指示灯和电源指示灯。上述技术方案还具有报警器；所述报警器与不良指示灯并联。本实用新型具有积极的效果(I)本实用新型采用“ U”形滑槽，可以180°旋转软排线底板的方向，从而解决了检测键盘软排线的方向単一性的问题，测试性能强、移动方便，可以有效检测键盘的性能。(2)本实用新型采用条形避位块和“L”形定位块，可以根据键盘的不同尺寸和键盘螺丝柱位置的不同进行调节。(3)本实用新型的软排线底板上具有两组左右对称设置的定位调节块；可以根据键盘软排线的大小做相应调整，并定位。(4)本实用新型的压合测试机构还具有限位块；限位块设置在转接板上方；可以限制键盘软排线接触转接板的长短。[0016](5)本实用新型的压合测试机构还具有阻值显示块；阻值显示块并联在检测键盘的回路中；可以显示性能测试板检测键盘回路阻抗的阻值，并根据阻值准确判断键盘按钮是否为良品。(6)本实用新型还具有指示灯和报警器，可以起到显示状态和报警的作用，准确判断键盘的性能。

为了使本实用新型的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本实用新型作进ー步详细的说明，其中图I为本实用新型的等轴测结构示意图；图2为本实用新型的俯视图；图3为图2中A处的放大示意图；图中I.承载机构，11.键盘承载底板，12.避位块，13.滑杆，14.定位块，15.滑槽，2.压合测试机构，21. “U”形滑槽，22.软排线底板，221.定位调节块，23.转接板，24.压合板，25.快速压头，26.性能测试板，27.测试启动开关，28.限位块，29.阻值显示块，3.电源机构，31.电源接入口，32.电源控制开关，4.指不灯，41.良品指不灯，42.不良品指不灯，43. LED测试指示灯，44.电源指示灯，5.报警器。
具体实施方式
见图1-3，本实用新型具有承载机构I、压合测试机构2和电源机构3 ;承载机构I具有键盘承载底板11、避位块12和滑杆13 ;键盘承载底板11设置在避位块12上方；避位块12套接在滑杆13上；承载机构I还具有四组“L”形的定位块14 ;定位块14设置在键盘承载底板11的四个角的外側，且每组定位块14设置在两平行的滑槽15内。压合测试机构2具有“U”形滑槽21、软排线底板22、转接板23、压合板24、快速压头25、性能测试板26和测试启动开关27 ;软排线底板22设置在“U”形滑槽21内，软排线底板22上设有转接板23，且软排线底板22上具有两组左右对称设置的定位调节块221 ’转接板23上设有压合板24 ;压合板24与快速压头25连接；性能测试板26可以通过软排线与转接板23导通；测试启动开关27串接在测试电路中；电源机构3具有串接的电源接入口 31和电源控制开关32 ;压合测试机构2还具有限位块28 ;限位块28设置在转接板上方；压合测试机构2还具有阻值显示块29 ;阻值显示块29并联在检测键盘的回路中。还具有指示灯4 ;指示灯4串接在测试电路中，指示灯4包括良品指示灯41、不良品指示灯42、LED测试指示灯43和电源指示灯44。还具有报警器5 ;报警器5与不良指示灯42并联。本实用新型的工作原理为接通电源，打开电源控制开关32，电源指示灯44亮；将键盘放入键盘承载底板11上，键盘软排线放入转接板23上，按下快速压头25，压合块向下压合，键盘软排线与转接板23结合导通；按下测试启动开关27，LED测试指示灯亮，性能测试板26将自动检测键盘的LED性能；检测完成后，再依次点击每个按键，性能测试板26将检测键盘软排线线路的阻值，并将阻值通过阻值显示块29显示，根据阻值判断键盘按钮是否为良品，若为良品，则良品指不灯41売；若为不良品，则不良品指不灯42売,且报警器5报警。以上所述的具体实施例，对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进行了进ー步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包
含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种键盘性能测试治具，其特征在干具有承载机构(I)、压合测试机构(2)和电源机构(3);所述承载机构(I)具有键盘承载底板(11)、避位块(12)和滑杆(13);所述键盘承载底板(11)设置在避位块(12)上方；所述避位块(12)套接在滑杆(13)上；所述压合测试机构(2)具有“U”形滑槽(21)、软排线底板(22)、转接板(23)、压合板(24)、快速压头(25)、性能测试板(26)和测试启动开关(27);所述软排线底板(22)设置在“U”形滑槽(21)内，软排线底板(22)上设有转接板(23);所述转接板(23)上设有压合板(24);所述压合板(24)与快速压头(25)连接；所述性能测试板(26)可以通过软排线与转接板(23)导通；所述测试启动开关(27)串接在测试电路中；所述电源机构(3)具有串接的电源接入ロ(31)和电源控制开关(32)。
2.根据权利要求I所述的键盘性能测试治具，其特征在于所述承载机构(I)还具有四组“L”形的定位块(14);所述定位块(14)设置在键盘承载底板(11)的四个角的外側，且每组定位块(14)设置在两平行的滑槽(15)内。
3.根据权利要求I所述的键盘性能测试治具，其特征在于所述软排线底板(22)上具有两组左右对称设置的定位调节块(221)。
4.根据权利要求I所述的键盘性能测试治具，其特征在于所述压合测试机构(2)还具有限位块(28);所述限位块(28)设置在转接板(23)上方。
5.根据权利要求I所述的键盘性能测试治具，其特征在于所述压合测试机构(2)还具有阻值显示块(29);所述阻值显示块(29)并联在检测键盘的回路中。
6.根据权利要求I所述的键盘性能测试治具，其特征在干还具有指示灯⑷；所述指示灯⑷串接在测试电路中，指示灯⑷包括良品指示灯(41)、不良品指示灯(42)、LED测试指示灯(43)和电源指示灯(44)。
7.根据权利要求I所述的键盘性能测试治具，其特征在干还具有报警器(5);所述报警器(5)与不良指示灯(42)并联。
专利摘要本实用新型涉及一种键盘性能测试治具，具有承载机构、压合测试机构和电源机构；承载机构具有键盘承载底板、避位块和滑杆；键盘承载底板设置在避位块上方；避位块套接在滑杆上；压合测试机构具有“U”形滑槽、软排线底板、转接板、压合板、快速压头、性能测试板和测试启动开关；软排线底板设置在“U”形滑槽内，软排线底板上设有转接板；转接板上设有压合板；压合板与快速压头连接；性能测试板可以通过软排线与转接板导通；测试启动开关串接在测试电路中；电源机构具有串接的电源接入口和电源控制开关。本实用新型采用“U”形滑槽，可180°旋转软排线底板的方向，解决了检测键盘软排线的方向单一性的问题，且测试性能强。
文档编号G01R31/02GK202421397SQ201120536380
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者廖世伟, 王伟辉, 龙志顺 申请人:群光电子(苏州)有限公司