专利名称：Pcb板阻抗测试探头的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测试装置领域，尤其涉及一种PCB板阻抗测试探头。
背景技术：
目前的PCB板阻抗测试探头是由测试基板与测试探针两部分构成，且将测试探针 焊接到测试基板上，两者固接形成一个整体。由于测试探针的针头与该测试探针的其他部分是一个固定的整体，一旦针头损 坏，必须将整个测试探针从测试基板上拆卸下来，重新将一个新的测试探针焊接到测试基 板上。通过以上描述可知，目前的阻抗测试探头存在以下问题由于测试探针是一体式 的焊接到测试基板上的，一旦测试探针的针头出现问题，整个测试探针将无法用于测量，必 须从测试基板上拆下损坏的测试探针，重新选取合格的测试探针焊接到测试基板上；由于 测试基板与测试探针最多只能焊接3次，因此，每次焊接均会对测试基板造成一定的损坏， 影响阻抗测试探头的使用寿命。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种可显著减少测试探针与测试基板 之间的焊接次数的PCB板阻抗测试探头。本实用新型是这样实现的，一种PCB板阻抗测试探头，包括测试基板及测试探针， 所述测试探针包括针套和插接于所述针套内的针头，所述针套固设于所述测试基板上，所 述针套与位于所述测试基板上的信号线连接。具体地，所述针套焊接于所述测试基板上。进一步地，所述针套内设有一弹性件，所述弹性件与所述针头连接，所述针头滑设 于所述针套内。优选地，所述弹性件为弹簧。进一步地，所述信号线与外部测试设备连接。更进一步地，所述信号线有一根，与两个测试探针连接，形成单线阻抗测试探头。更进一步地，所述信号线有两根，每根信号线分别与两个测试探针连接，形成双线 阻抗测试探头。本实用新型的测试探针更换方便，当测试探针的针头出现损坏时，只需将损坏的针 头取出，再将一个合格的针头与针套进行插接即可。与现有技术相比，本实用新型避免了将损 坏的测试探针从测试基板上拆卸下来，不需将新的测试探针与测试基板再次进行焊接，减少 了测试探针与测试基板之间的焊接次数，延长了 PCB板阻抗测试探头的实际使用寿命。

图1是本实用新型实施例提供的PCB板阻抗测试探头的针套和针头插接前的示意
3图；图2是本实用新型实施例提供的PCB板阻抗测试探头的针套和针头插接后的示意 图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施 例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释 本实用新型，并不用于限定本实用新型。如图1和图2所示，本实用新型实施例提供的PCB板阻抗测试探头1，包括测试基 板11及测试探针12，所述测试探针12包括针套121和插接于所述针套121内的针头122， 所述针套121固设于所述测试基板11上，所述针套121与位于所述测试基板11上的信号 线111连接。本实用新型将阻抗测试探头1的测试探针12进行改进，将现有的测试探针改 进成一个相同型号的针套121，再将一个与针套121相同型号的针头122插入改进后的针套 121内，两者结合形成新的测试探针12 ；使用中当测试探针12的针头122损坏无法测量时， 将损坏的针头122从针套121内取出，再向针套121内重新插接一个合格的的针头122，即 可继续进行阻抗测试。具体地，所述针套121焊接于所述测试基板11上，采用焊接方式，针套121在测试 基板11固定牢靠，不易脱落。进一步地，所述针套121内设有一弹性件(图中未示出)，所述弹簧与所述针头 122连接，所述针头122滑设于所述针套121内，本实施例中，所述弹性件优选弹簧。测试 时，当针头122与PCB板(图中未示出)接触时，针头122会压缩针套121内的弹簧，受压 缩的弹簧一方面可以缓冲针头122受到的外力，另一方面也可以对针头122施加一个向下 的弹力，使针头122与PCB板接触更可靠，保证PCB板阻抗测试的可靠性。进一步地，所述信号线111与外部测试设备(图中未示出)连接。当需要对PCB 板进行阻抗测试时，将针头122与PCB板接触，外部测试设备发出一阻抗测试信号，并通过 信号线111传递给PCB板，然后阻抗测试信号再从PCB板传递回外部测试设备，外部测试设 备将返回的阻抗测试信号与原始的阻抗测试信号进行比较，并通过波形显示出来，如果前 后两次波形没有变化，说明PCB板合格，如果前后两次波形产生变化，则说明PCB板不合格， 从而实现了通过测试PCB板的阻抗来检验PCB板是否合格的目的。更进一步地，所述信号线111可以有一根，与两个测试探针12连接，形成单线阻抗 测试探头(即阻抗测试特性测试探头)；所述信号线111也可以有两根，每根信号线分别与 两个测试探针12连接，形成双线阻抗测试探头(即阻抗测试差分测试探头)。这两种阻抗 测试探头都是现有技术中常用的结构，具体采用哪一种，可根据客户要求和实际情况而定， 两者都可以很好地测试出PCB板的阻抗。综上所述，本实用新型提供的测试探针12更换方便，当测试探针12的针头122出 现损坏时，只需将损坏的针头122取出，再将一个合格的针头122与针套121进行插接即 可。与现有技术相比，本实用新型避免了将损坏的测试探针12从测试基板11上拆卸下来， 不需将新的测试探针12与测试基板11再次进行焊接，减少了测试探针12与测试基板11 之间的焊接次数，延长了 PCB板阻抗测试探头1的实际使用寿命。[0023] 以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本 实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型 的保护范围之内。
权利要求一种PCB板阻抗测试探头，包括测试基板及测试探针，其特征在于所述测试探针包括针套和插接于所述针套内的针头，所述针套固设于所述测试基板上，所述针套与位于所述测试基板上的信号线连接。
2.如权利要求1所述的PCB板阻抗测试探头，其特征在于所述针套焊接于所述测试 基板上。
3.如权利要求1所述的PCB板阻抗测试探头，其特征在于所述针套内设有一弹性件， 所述弹性件与所述针头连接，所述针头滑设于所述针套内。
4.如权利要求3所述的PCB板阻抗测试探头，其特征在于所述弹性件为弹簧。
5.如权利要求1或4所述的PCB板阻抗测试探头，其特征在于所述信号线与外部测 试设备连接。
6.如权利要求5所述的PCB板阻抗测试探头，其特征在于所述信号线有一根，与两个 测试探针连接，形成单线阻抗测试探头。
7.如权利要求5所述的PCB板阻抗测试探头，其特征在于所述信号线有两根，每根信 号线分别与两个测试探针连接，形成双线阻抗测试探头。
专利摘要本实用新型适用于测试装置领域，提供了一种PCB板阻抗测试探头，包括测试基板及测试探针，所述测试探针包括针套和插接于所述针套内的针头，所述针套固设于所述测试基板上，所述针套与位于所述测试基板上的信号线连接，所述信号线与外部测试设备连接。本实用新型的测试探针更换方便，当测试探针的针头出现损坏时，只需将损坏的针头取出，再将一个合格的针头与针套进行插接即可。与现有技术相比，本实用新型避免了将损坏的测试探针从测试基板上拆卸下来，不需将新的测试探针与测试基板再次进行焊接，减少了测试探针与测试基板之间的焊接次数，延长了PCB板阻抗测试探头的实际使用寿命。
文档编号G01R1/067GK201628728SQ20092026190
公开日2010年11月10日 申请日期2009年12月22日 优先权日2009年12月22日
发明者李刚, 杨青枝, 胡小锋 申请人:深南电路有限公司