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支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用试块的制作方法

时间:2025-06-30    作者: 管理员

专利名称:支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用试块的制作方法
技术领域
本实用新型是一种做试验检测用的一种试块,尤其是一种对支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用探头进行检测试验用的专用工具支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用试块。
背景技术
目前对支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用探头的校对试验及检测,多用专用仪器进行,比较校对并确定出专用探头缺陷量的大小,目前,还没有很好的既简单又实用的专用试块出现。

发明内容
为了解决支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用探头校对试验及检测问题,本实用新型体提供了一种支柱绝缘子及瓷套超声波探头专用试块。该试块结构简单实用,可以精确的测试出探头缺陷量的大小,是对专用探头校对、试验及检测的必备的专用工具。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是该试块包括薄板体1、厚板体5、横向、纵向刻度线3、7、及探测孔4、6四部分;其特征是该试块为一个矩形的钢板,在它的左半部,有一道曲线把该矩形板划分为薄板体1及厚板体5两部分,厚板体5的上部及右侧,带有毫米级的刻度线3、7,在靠近厚板体5的下侧边处,由近及远顺序开有3个大探测孔4,在靠近上侧边处,由上至下,顺序开有3个小探测孔6,该试块下侧边的左半部,为一个弧形边,右半部边为一道直边;该板体的上侧面,为一个凸出的带有弧度的面,它的凸起弧度面与探头的凹陷弧度面相吻合。使用时,用专用探头的接触面顺着弧形突起侧面移动,使超声波在不同的位置发射,即会得到不同的波形,通过比较,可测出精确的比值及缺陷的大小。
其有益效果是,由于采用了上述方案,使该专用试块结构特别简单,实用,可以精确测试出探头缺陷量的大小,是对专用探头校对、试验及检测的必备专用工具。


以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。
附图1为本实用新型的主视结构示意图,
附图2为本实用新型的左视结构示意图,附图3为本实用新型的仰视结构示意图。
图中,1、薄板体,2、弧形凸起面,3、横向刻度线,4、大探测孔,5、厚板体,6、小探测孔,7、纵向刻度线。
具体实施方式
在图中,该专用探块由20号钢做成,其厚板体5的厚度为25±0.5mm,其薄板体1的厚度为20±0.5mm;其大探测孔4的直径为φ6±0.10mm,其弧形凸起侧面2的弧度半径为120±0.5mm,该厚、薄板体5、1的分界曲线的弧度半径为80±0.5mm,该探头下左测边的弧形半径为120±0.5mm,该探头的长宽为φ120±0.5mm×160±0.5mm。
权利要求1.一种支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用试块,该试块包括薄板体1、厚板体5、横向,纵向刻度线3、7、及探测孔4、6;其特征是该试块为一个矩形的钢板,在它的左半部,有一道曲线把该矩形板划分为薄板体1及厚板体5,厚板体5的上部及右侧,带有毫米级的刻度线3、7,在靠近厚板体5的下侧边处由近及远顺序开有3个大探测孔4,在靠近上侧边处,由上至下,顺序开有3个小探测孔6,该试块下侧边的左半部,为一个弧形边,右半部边为一道直边;该板体的上侧边,为一个凸出的带有弧度的面,它的凸起弧度与探头的凹陷弧度相吻合。
2.根据权利要求1所述的一种支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用试块,其特征是该专用探块由20号钢做成,其厚板体5的厚度为25±0.5mm,其薄板体1的厚度为20±0.5mm;其大探测孔4的直径为Ф6±0.10mm,其弧形凸起侧面2的弧度半径为Ф120±0.5mm,该厚,薄板体5、1的分界曲线的弧度半径为80±0.5mm,该探头下左测边的弧形半径为120±0.5mm,该探头的长宽为260±0.5mm×160±0.5mm。
专利摘要本实用新型是一种做试验检测用的一支柱绝缘子及瓷套超声波探伤专用试块。该试块为一个矩形的钢板,它的左半部,有一道曲线把该矩形板划分为薄板体及厚板体,厚板体的上部及右侧,带有毫米级的刻度线,在靠近厚板体下侧边处,由近及远顺序开有3个大探测孔,在靠近上侧边处,由上至下,顺序开有3个小探测孔,该试块下侧边的左半部,为一个弧形边,右半部为一道直边;该板体的上侧面,为一个凸出的带有弧度的面,它的凸起弧度与探头的凹陷弧度相吻合。它结构特别简单,实用,可以精确测试出探头缺陷量的大小,是专对探头的校对试验及检测的必备专用工具。
文档编号G01N29/14GK2692666SQ20042002603
公开日2005年4月13日 申请日期2004年4月3日 优先权日2004年4月3日
发明者王维东, 刘勇, 王鲜凤 申请人:徐州市发电厂

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