专利名称：一种非插拔电路板测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电气测量技术领域，具体涉及一种非插拔电路板测试装置。
背景技术：
现有技术中，对电路板同一线路的多个触点进行测试时，需要人工手动将测试插头连接到此线路的每个触点上进行测试，人力成本大，测试效率低；当对另一线路的多个触点进行测试时，需要重新人工手动将测试插头连接到另一线路的每个触点上，极易引入人为因素造成误操作；此外，测试插头在频繁插拔的情况下，缩短了使用寿命。

实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是现有技术对电路板触点进行测试时，需要利用测试插头重复插拔，测试效率低，易引入人为误操作。本实用新型的技术方案如下所述本实用新型的非插拔电路板测试装置包括1#至50#共50个触点，其中13#触点与29#触点内部连通且接地，对上述触点分组进行内部连通，引出若干个开关触点，将开关触点分别别连接至四刀双置开关的公共端或非公共端。作为优选方案，将电路板触点1#、14#、16#连通形成开关触点1#，将电路板触点姊、30#、3姊连通形成开关触点11#，将电路板触点15#、31#、46#、48#连通形成开关触点 111#，将电路板触点47#、49#连通形成开关触点IV# ；将开关触点1#、开关触点11#、开关触点III#及开关触点IV#依次连接到四刀双置开关的公共端；将触点17#、33#、四#、50#作为开关触点17#、开关触点33#、开关触点、开关触点50#，连接到分别与开关触点1#、开关触点Π#、开关关触点III#及开关触点IV#位置相应的同一侧的四刀双置开关①号非公共端；四刀双置开关另一侧②号非公共端四个触点导通。本实用新型的有益效果为本装置根据电路板触点所在线路进行排列连接，引出比触点数目显著减少的开关触点，利用电子开关控制开关触点的连接/断开状态。测试过程中，测试插头只需与电子开关相连，无需频繁插拔，延长了使用寿命；电子开关自动控制开关触点的状态即可实现不同线路触点的测试，高效准确，避免由于人为因素引入误操作。

图1为本实用新型的非插拔电路板测试装置实施例中测试插头A待测触点分布图；图2为本实用新型的非插拔电路板测试装置实施例中测试插头B待测触点分布图；图3为本实用新型的非插拔电路板测试装置实施例中开关触点分布图；图4为本实用新型的非插拔电路板测试装置实施例中四刀双置开关连接示意图；[0013]图5为本实用新型的非插拔电路板测试装置实施例的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图和实施例对本实用新型的非插拔电路板测试装置进行详细说明。本实用新型的非插拔电路板测试装置包括1#至50#共50个触点，其中13#触点与29#触点内部连通且接地，对上述触点分组进行内部连通，引出若干个开关触点，将开关触点分别别连接至四刀双置开关的公共端或非公共端。本实施例中，电路板上有50个触点，其中13#触点与29#触点内部连通。如图1所示，需要测试插头A测量的触点内部连通线路为1#-14#-16#-17# ；2#-30#-32#-33# ；13#-15#-29#-31#-46#-48#-GND ；47#-49#-50#o如图2所示，需要测试插头B测量的触点内部连通线路为l#-2#-14#-15#-16#-30#-31#-32#-46#-47#-48#-49#o如图3所示，将测试插头A的触点内部连通线路分为下表所示的两组开关触点
第一组连通第二组开关触点--开关触点17#开关触点--开关触点33#开关触点 ΙΙΙ (15 -31 -46 -48 )--开关触点29#开关触点--开关触点50#对于上表需要说明的是，由于本实施例中13#触点与29#触点内部连通，故所有状态下13#触点与29#触点均可视为同一触点。上述开关触点1#与开关触点17#连通、开关触点11#与开关触点33#连通、开关触点III#与开关触点29#连通、开关触点IV#与开关触点50#连通，即为测试插头A需要测试的四条触点线路。上述开关触点1#、开关触点11#、开关触点III#及开关触点1乂#相连接，即为测试插头B需要测试的一条触点线路。将电路板上属于同一开关触点的触点连在一起，引出上述8个开关触点。如图4 所示，其中开关触点1#、开关触点11#、开关触点III#及开关触点IV#依次连接到四刀双置开关的公共端；开关触点17#、开关触点33#、开关触点29#及开关触点50#连接到四刀双置开关分别与开关触点1#、开关触点Π#、开关触点III#及开关触点IV#位置相应的同一侧的四刀双置开关①号非公共端；四刀双置开关另一侧②号非公共端四个触点导通。当公共端与①号非公共端接触时，为测试插头A需要测试的四条触点线路；当公共端②号非公共端接触时，为测试插头B需要测试的一条触点线路。
4[0030] 本实施例的结构示意图如图5所示，当电子四刀双置开关公共端与①号非公共端接触时，为测试插头A的内部线路；当电子四刀双置开关公共端与②号非公共端接触时，为测试插头B的内部线路。
权利要求1.一种非插拔电路板测试装置，包括1#至50#共50个触点，其中13#触点与29#触点内部连通且接地，其特征在于对上述触点分组进行内部连通，引出若干个开关触点，将开关触点分别别连接至四刀双置开关的公共端或非公共端。
2.根据权利要求1所述的非插拔电路板测试装置，其特征在于将电路板触点1#、14#、 16#连通形成开关触点1#，将电路板触点姊、30#、3姊连通形成开关触点11#，将电路板触点 15#、31#、46#、48#连通形成开关触点111#，将电路板触点47#、49#连通形成开关触点IV# ； 将开关触点1#、开关触点Π#、开关触点III#及开关触点IV#依次连接到四刀双置开关的公共端；将触点17#、33#、四#、50#作为开关触点17#、开关触点33#、开关触点、开关触点50#，连接到分别与开关触点1#、开关触点11#、开关关触点III#及开关触点IV#位置相应的同一侧的四刀双置开关①号非公共端；四刀双置开关另一侧②号非公共端四个触点导ο
专利摘要本实用新型属于电气测量技术领域，具体涉及一种非插拔电路板测试装置。本实用新型的非插拔电路板测试装置包括1#至50#共50个触点，其中13#触点与29#触点内部连通且接地，对上述触点分组进行内部连通，引出若干个开关触点，将开关触点分别别连接至四刀双置开关的公共端或非公共端。本实用新型解决的技术问题是现有技术对电路板触点进行测试时，需要利用测试插头重复插拔，测试效率低，易引入人为误操作。本实用新型的有益效果为测试插头只需与电子开关相连，无需频繁插拔，延长了使用寿命；电子开关自动控制开关触点的状态即可实现不同线路触点的测试，高效准确，避免由于人为因素引入误操作。
文档编号G01R31/28GK202204913SQ20112033736
公开日2012年4月25日 申请日期2011年9月9日 优先权日2011年9月9日
发明者朱涛, 李靖 申请人:中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所