专利名称：用于动态试验台的定位圈的制作方法
技术领域：
本实用新型是一种定位圈，特别涉及一种用于联轴器动态试验台的定位圈。
背景技术：
现有技术中的没有专门用于联轴器动态试验台，导致试验数据不准确，产品质量
无法掌握。
发明内容本实用新型主要是解决现有技术中存在的不足，提供一种结构简单的用于动态试验台的定位圈。本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的一种用于动态试验台的定位圈，包括圈体，所述的圈体的中间为圈孔，所述的圈孔的直径为186mm，所述的圈体的直径为215mm。因此，本实用新型提供的用于动态试验台的定位圈，结构简单，稳定性高，安装方便。

图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面通过实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。实施例如图1所示，一种用于动态试验台的定位圈，包括圈体1，所述的圈体1的中间为圈孔2，所述的圈孔2的直径为186mm，所述的圈体1的直径为215mm。
权利要求1. 一种用于动态试验台的定位圈，其特征在于包括圈体(1)，所述的圈体(1)的中间为圈孔O)，所述的圈孔O)的直径为186mm，所述的圈体(1)的直径为215mm。
专利摘要本实用新型是一种定位圈，特别涉及一种用于联轴器动态试验台的定位圈。包括圈体，所述的圈体的中间为圈孔，所述的圈孔的直径为186mm，所述的圈体的直径为215mm。用于动态试验台的定位圈结构简单，稳定性高，安装方便。
文档编号G01M13/02GK202153185SQ201120278799
公开日2012年2月29日 申请日期2011年8月1日 优先权日2011年8月1日
发明者陈玉珍 申请人:沈艳艳