专利名称：压力可控的薄膜按键阻抗测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及薄膜按键测试设备领域技术，尤其是指一种压力可控的薄膜按键 阻抗测试系统。
背景技术：
薄膜按键是一块包含金属弹片(锅仔片)的PET薄片，其用在PCB或FPC等线路 板上作为开关使用，在使用者与仪器之间起到一个重要的触感型开关的作用。主要用于手 机、网络电话、各类遥控器、MP3/MP4、收音机、数码相机、学习机、游戏控制键盘、微波炉、汽 车仪表板、望远镜、玩具等。薄膜按键上的金属弹片位于PCB板上的导电部位(大部分位于 线路板上的金手指上方)，当受到按压时，弹片的中心点下凹，接触到PCB上的线路，从而形 成回路，电流通过，整个产品就得以正常工作，这就是它的工作原理。与传统的硅胶按键相 比，薄膜按键更具有更好的手感、更长的寿命、也可以间接地提高使用薄膜按键的各类型开 关的生产效率。然而，现在市场上生产的薄膜按键越来越精密，所以薄膜按键生产后也就要求更 精密的薄膜按键阻抗测试系统。而现有市场上大多数的薄膜按键测试机都没办法控制击打 薄膜按键的力度，操作不规范容易压伤产品，测试精度不佳。

实用新型内容本实用新型针对现有技术存在之缺失，其主要目的是提供一种薄膜按键压力精密 测试系统，其可有效控制测试过程中对薄膜按键的击打力度，避免在测试过程中对薄膜按 键造成损坏，同时改善薄膜按键之阻抗测试的精度。为实现上述目的，本实用新型采用如下之技术方案一种压力可控的薄膜按键阻抗测试系统，包括上治具、下治具、气缸、电磁铁、压力 侦测模块、阻抗测试模块、恒流源模块和电脑主控单元，其中，该上治具固装于可被气缸带 动上下升降的活动压床上，气缸的工作由电脑主控单元控制；恒流源模块连接于电脑主控 单元与电磁铁之间用于供电给电磁铁，电磁铁安装于上治具中用于通电后压紧待测薄膜按 键；压力侦测模块设置于下治具中，其输出端连接于电脑主控单元，用于侦测电磁铁的压力 并转换成数字压力值；电脑主控单元用于通过改变恒流源模块送出的电流来校正电磁铁产 生的压力值为客户需要的压力值，并将该电流值记录归档以备阻抗测试所需；阻抗测试模 块设置于下治具中用于分析待测薄膜按键的阻抗性能。作为一种优选方案，所述压力侦测模块包括有依次连接的压力传感器、信号放大 模块和A/D转换模块，A/D转换模块的输出端连接电脑主控单元，该压力传感器安装于下治 具中，电磁铁通电后击打压力传感器，压力传感器用于感应电磁铁的即时压力值，信号放大 模块用于将即时压力信号进行放大处理，A/D转换模块用于将经放大处理后的即时压力信 号转换成数字压力值。作为一种优选方案，进一步包括有一机架，前述气缸固装于机架中并位于下治具的上方，上治具和活动压床位于气缸与下治具之间。作为一种优选方案，所述机架上针对该活动压床设置有多个竖向导轨，活动压床 套装于各竖向导轨上，沿竖向导轨上下滑动。本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果，具体而言，由上述技术 方案可知，其主要系利用电磁铁来压紧待测薄膜按键，并在进行阻抗测试之前先利用压力 侦测模块校正和调整电磁铁的压力值，然后再依据该调整好的电磁铁输出压力值来对待测 薄膜按键进行压紧作业，从而实现对于待测薄膜按键测试的压力控制。其可依客户需要而 任意调整压紧力度，赶到改善薄膜按键测试稳定性的作用，同时亦可避免因压力过大而对 薄膜按键造成损伤，保证测试品质，降低不良率。为更清楚地阐述本实用新型的结构特征和功效，
以下结合附图与具体实施例来对 本实用新型进行详细说明

图1是本实用新型之实施例的机械结构示图；图2是本实用新型之实施例的方框原理结构示图。附图标识说明10、机架11、竖向导轨20、上治具30、下治具40、气缸41、压床80、恒流源模块
具体实施方式
请参照图1和图2所示，其显示出了本实用新型之较佳实施例的具体结构，包括有 机架10和设置于机架10中的上治具20、下治具30、气缸40、电磁铁50、压力侦测模块60、 阻抗测试模块70、恒流源模块80和电脑主控单元90。下治具30固装于一机架10的底座上，气缸40位于下治具30的上方，上治具20 位于气缸40与下治具30之间，并上治具20固装于可被气缸40带动上下升降的活动压床 41上，气缸40的工作由电脑主控单元90控制。机架10上针对该活动压床41设置有四个 竖向导轨11，活动压床41套装于各竖向导轨11上，沿竖向导轨11上下滑动。压床41上升 时，将上下治具20、30分开；压床41下降时，将上下治具20、30靠拢。该恒流源模块80连接于电脑主控单元90与电磁铁50之间，恒流源模块80用于 供电给电磁铁50，该电磁铁50具有多个，它们均勻地密布于上治具20中，对应各薄膜按键 部位设置。电磁铁50用于通电后压紧待测薄膜按键，以便于待测薄膜按键进行测试。该阻 抗测试模块70设置于下治具30中用于分析待测薄膜按键的阻抗性能，该阻抗测试模块70 的具体结构和测试方式乃公知之现有技术，本实施例在此不作赘述。压力侦测模块60设置于下治具30中，其输出端连接于电脑主控单元90，用于侦
50、电磁铁
60、压力侦测模块
61、压力传感器
62、信号放大模块
63、A/D转换模块 70、阻抗测试模块 90、电脑主控单元测电磁铁50的压力并转换成数字压力值。具体而言，该压力侦测模块60包括有依次连接 的压力传感器61、信号放大模块62和A/D转换模块63，A/D转换模块63连接电脑主控单 元90，该压力传感器61安装于下治具30中，电磁铁50通电后击打压力传感器61，压力传 感器61用于感应电磁铁50的即时压力值，信号放大模块62用于将即时压力信号进行放大 处理，A/D转换模块63用于将经放大处理后的即时压力信号转换成数字压力值；电脑主控 单元90用于通过改变恒流源模块80送出的电流来校正电磁铁50产生的压力值为客户需 要的压力值，并将该电流值记录归档以备阻抗测试所需。详述本实施例的工作原理如下首先进行压力学习由电脑主控单元90控制气缸40动作促使压床下41降，压床 41让上治具20的电磁铁50接近压力传感器61。此时，由电脑主控单元90控制恒流源模 块80送出恒定电流，给电磁铁50通电，让电磁铁50击打压力传感器61，压力传感器61把 感应到的压力送出压力信号，信号经过信号放大模块62将信号放大，放大的信号通过A/D 转换模块63转换，给电脑主控单元90返回一个电压值，电脑软件系统便根据这个电压值将 电磁铁50产生的压力转换出来。我们通过改变恒流源模块80送出的电流，改变电磁铁50 产生的压力为客户所需要的压力值。通过这方法校正好治具上所有电磁铁50的电流，然 后将这些电流值保存到电脑电流档案中，以后测试，所有电磁铁50便根据电流档案送出电 流，让电磁铁50产生的压力为客户所需的压力。接着进行薄膜按键的阻抗测试将待测薄膜按键放置于下治具30上，接着同样由 电脑主控单元90控制气缸40动作促使压床41下降，压床41让上治具20的电磁铁50接 近待测薄膜按键。此时，由电脑主控单元90控制恒流源模块80依据前述电脑档案中的电 流送出恒定电流，给电磁铁50通电，让电磁铁50产生客户需要的压力压紧待测薄膜按键， 将薄膜按键固定稳固。然后再利用阻抗测试模块70的阻抗测试比较法，比较量测出这个薄 膜按键的这个按键的阻抗Rx和客户填写的按键标准值R，当Rx <= R，判定这个按键为良 品，否则，判定这个按键为不良品。本实用新型的设计重点在于，主要系利用电磁铁来压紧待测薄膜按键，并在进行 阻抗测试之前先利用压力侦测模块校正和调整电磁铁的压力值，然后再依据该调整好的电 磁铁输出压力值来对待测薄膜按键进行压紧作业，从而实现对于待测薄膜按键测试的压力 控制。其可依客户需要而任意调整压紧力度，赶到改善薄膜按键测试稳定性的作用，同时亦 可避免因压力过大而对薄膜按键造成损伤，保证测试品质，降低不良率。以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型的技术范围作 任何限制，故凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变 化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
权利要求一种压力可控的薄膜按键阻抗测试系统，其特征在于包括上治具、下治具、气缸、电磁铁、压力侦测模块、阻抗测试模块、恒流源模块和电脑主控单元，其中，该上治具固装于可被气缸带动上下升降的活动压床上，气缸的工作由电脑主控单元控制；恒流源模块连接于电脑主控单元与电磁铁之间用于供电给电磁铁，电磁铁安装于上治具中用于通电后压紧待测薄膜按键；压力侦测模块设置于下治具中，其输出端连接于电脑主控单元，用于侦测电磁铁的压力并转换成数字压力值；电脑主控单元用于通过改变恒流源模块送出的电流来校正电磁铁产生的压力值为客户需要的压力值，并将该电流值记录归档以备阻抗测试所需；阻抗测试模块设置于下治具中用于分析待测薄膜按键的阻抗性能。
2.根据权利要求1所述的压力可控的薄膜按键阻抗测试系统，其特征在于所述压力 侦测模块包括有依次连接的压力传感器、信号放大模块和A/D转换模块，A/D转换模块的 输出端连接电脑主控单元，该压力传感器安装于下治具中，电磁铁通电后击打压力传感器， 压力传感器用于感应电磁铁的即时压力值，信号放大模块用于将即时压力信号进行放大处 理，A/D转换模块用于将经放大处理后的即时压力信号转换成数字压力值。
3.根据权利要求1所述的压力可控的薄膜按键阻抗测试系统，其特征在于进一步包 括有一机架，前述气缸固装于机架中并位于下治具的上方，上治具和活动压床位于气缸与 下治具之间。
4.根据权利要求3所述的压力可控的薄膜按键阻抗测试系统，其特征在于所述机架 上针对该活动压床设置有多个竖向导轨，活动压床套装于各竖向导轨上，沿竖向导轨上下 滑动。
专利摘要本实用新型涉及薄膜按键测试设备领域技术，尤其是指一种压力可控的薄膜按键阻抗测试系统，其可有效控制测试过程中对薄膜按键的击打力度，避免在测试过程中对薄膜按键造成损坏，同时改善薄膜按键之阻抗测试的精度。其包括上治具、下治具、气缸、电磁铁、压力侦测模块、阻抗测试模块、恒流源模块和电脑主控单元，该上治具固装于可被气缸带动上下升降的活动压床上，恒流源模块连接于电脑主控单元与电磁铁之间用于供电给电磁铁，电磁铁安装于上治具中用于通电后压紧待测薄膜按键；压力侦测模块设置于下治具中，用于侦测电磁铁的压力并转换成数字压力值；电脑主控单元用于通过改变恒流源模块送出的电流来校正电磁铁产生的压力值为客户需要的压力值。
文档编号G01R1/04GK201689135SQ20102017242
公开日2010年12月29日 申请日期2010年4月21日 优先权日2010年4月21日
发明者杨世光 申请人:东莞中逸电子有限公司