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基于fpga专用延迟单元的同周期信号相位差测量方法

时间:2025-07-01    作者: 管理员

专利名称:基于fpga专用延迟单元的同周期信号相位差测量方法
技术领域
本发明涉及相同周期信号相位差测量方法,即就是以Xilinx FPGA为硬件平台,以 Verilog HDL和Xilinx FPGA原语为硬件描述语言的一种测量高精度相同周期信号相位差 的方法。
背景技术
在现代信号测量领域,测量一个信号的频率、周期及两路相同周期信号的相位差 在工程上有着极其重要的意义。高精度相同周期信号相位差测量技术,尤其是皮秒量级的 测量技术更显得极其重要。近年来,频率周期测量开始向数字化方向发展,如利用FPGA器 件等等,优点在于硬件简单、适应性强而且精度高。在工程实践中,主要用于时间同步技术、 卫星导航定位、激光测距、通信网的同步以及通信中角度调制信号解调等。选用一套精确的方法对于测量相同周期信号的相位差是非常重要的。相同周期 信号的相位差的测量方法主要有基于相关原理的相位差测量方法、基于相位差正交变换的 相位差测量方法、基于FFT的相位差测量方法以及基于FPGA、DSP实现的相位差测量方法。 前三者都是对于采样信号数值计算所得,测量误差较大。而像其他的基于脉冲填充的方法, 不仅要求很高的填充脉冲信号频率,而且测量精度也不高。本发明是基于抽头延迟法,利用 Xilinx FPGA的I0DELAY内部的抽头线对CLKl的延迟,可以达到每个对CLKl延迟78ps。

发明内容
本发明的目的在于提供一种高精度测量相同周期信号相位差的测量方法。即使用 抽头线延迟法使第一周期信号CLKl通过I0DELAY内部的抽头线延迟后,输入D触发器的数 据输入端,第二周期信号CLK2通过全局时钟网络输入D触发器的时钟输入端,通过D触发 器触进行边沿检测,检测变化值后,使计数器输出一个值,而后经过逻辑控制电路计算可以 得到同周期信号的相位差。本发明的优点1 精度高。由于I0DELAY的一个抽头的延迟是78ps,因此本发明可以达到较高的 分辨率可以满足大多数实验以及工程实践应用的需求。2 测量范围广。其测量范围可以达到测量1. 5MHZ以上的相同周期信号的相位差。3:结构简单。只需要一个Xilinx FPGA芯片,节省了设备体积和成本。4 设计方便。利用设计软件就可以迅速的对电路进行修改,开发周期短。5 性价比高。本发明采用的是价格相对比ASIC器件低很多的FPGA器件,性价比较高。


附图1本发明中基于I0DELAY抽头线延迟法测量相同周期信号相位差原理图附图2本发明中相同周期信号相位差测量原理框图
附图3本发明中相同周期信号起始态与触发态(1)图附图4本发明中相同周期信号起始态与触发态(2)图附图5本发明中I0DELAY专用可编程输入输出延迟单元图附图6本发明中I0DELAY内部结构图附图7本发明中测量相同周期信号相位差的时序图
具体实施例方式本发明提出了基于Xilinx FPGA的高精度相同周期信号相位差的测量方法。本发 明采用的测量方法是利用I0DELAY的抽头线,对CLKl进行精确延迟,并输入D触发器的D 端;CLK2通过FPGA的全局时钟网络输入到D触发器的CLK端和计数器的CLK端;通过D触 发器输出Q端值的变化,检测延迟后的CLKl和CLK2的边沿重合信息,触发逻辑控制电路, 从而控制、计算得到同周期信号的相位差。Xilinx Virtex-4和Virtex-5 FPGA器件在每一个IOB里都有一个可编程输入输 出延迟单元IODELAY。I0DELAY是一个可变的64位延迟链。使用时与IDELAYCTRL联合使 用时,IODELAY可以提供一个精确地时间增量延迟,而且不受工艺、温度、电压变化的影响。 每个抽头可以精确地将输入信号延迟78ps。附图5为其基本输入输出信号图,附图6为其 内部结构图。IODELAY 管脚说明IDATAIN 数据输入端。此端口应用于对外部输入的数据进行延迟。0DATAIN 数据输入端。此端口应用于对输出的数据进行延迟。DATAIN 数据输入端。此端口应用于对内部输入的数据进行延迟。DATA0UT 数据输出端。经过IODELAY延迟后的数据输出端。T 输入端口,三态的输入控制,高电平时用于输入或者内部延迟,低电平时只可用 于输出路径。CE 输入端口,高有效,使能增加/减少延迟功能。INC 输入端口,增加/减少抽头延迟线的数量。C 输入端口,时钟输入,只可以在可变延迟模式下连接。RST 输入端口,高电平有效,复位到IDELAY_VALUE/ODELAY_VALUE的指定抽头延 迟线数目,如果没有指定数据,默认为0。IDELAYCTRL 管脚说明REFCLK 参考时钟输入信号。RST:复位输入信号。RDY 准备好输出信号,可表明时钟参考频率输入是否有效。IDELAYCTRL是对单个抽头延迟值的控制模块。IDELAYCTRL模块使用一个固定频 率的参考时钟为每一个抽头延迟线提供一个不受工艺,电压和温度变化影响的偏置电压, 所以可以提供准确的延迟调整。如果I0DELAY_TYPE属性设置为FIXED或VARIABLE,则必须 在代码中例化IDELAYCTRL模块。IDELAYCTRL模块在其区域内连续标定每个延迟单元以减 少随工艺、电压和温度变化的影响,该模块使用用户提供的REFCLK标定IODELAY。为了保证 数据手册中指定的每一个抽头的延迟值为78ps,参考时钟的频率必须保证在200MHz。
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I0DELAY可以被用在组合输入通路、寄存输入通路、组合输出通路或寄存输出通 路,还可以在内部资源中直接使用。I0DELAY可用做IDELAY、ODELAY或组合延迟。(1)当用作IDELAY时,T端必须被置高,数据可从管脚输入或从内部信号输入。IDELAY三种工作方式1 当设置成默认(DEFAULT)时,选择零保持模式。在这种模式下使用时,不需要例 化 IDELAYCTRL 单元。2:当被设置成固定模式(FIXED),选择固定延迟模式。延迟数目的值被固定成通 过IOBDELAY_VALUE设置的一个固定值。这个值是预先设置好的的而且不可以被动态地改 变。这种方式下必须例化IDELAYCTRL。3:当被设置成可变模式(VARIABLE),选择可变延迟模式。初始的延迟值由 IOBDELAY_VALUE设置一个固定的值。可变的延迟数目可以通过置位CE = 1,INC = 1设置 为增加模式和可以通过置位CE = 1,INC = 0设置为减小模式。增加减少的数目对于时钟 信号而言是同步的,即每经过一个有效的CLK,则延迟值会加1或减1。这种方式下必须例 化 IDELAYCTRL。(2)当用作ODELAY时,T端必须被置为低电平。这种方式有一种可用的操作模式, 即固定输出延迟模式。在这种延迟模式下,配置时将延迟值预设置成由属性0DELAY_VABLUE 确定的抽头延迟值,此值配置后不可更改。在这种模式下使用时,必须例化IDELAYCTRL单兀。(3)当用作双向延迟时,可以将IOB配置成双向模式。此时此刻,I0DELAY交替延 迟输入通路和输出通路上的数据。有如下两种可操作模式 固定IDELAY和固定ODELAY模式在这种模式下。IDELAY和ODELAY的值都是在 配置时预设置,分别由IDELAY_VABLUE和0DELAY_VABLUE属性确定,此值配置后不可更改。 在这种模式下使用时,必须例化IDELAYCTRL单元。 可变IDELAY和固定ODELAY模式在这种模式下,只有IDELAY值可以在配置后通 过操控控制信号CE和INC来动态更改。I0DELAY基元中T引脚的逻辑级别动态确定模块是 IDELAY模式还是ODELAY模式,当T为高电平时为IDELAY模式,当T为低电平时为ODELAY 模式。当在这种模式下使用时,必须例化IDELAYCTRL单元。本发明采用的是I0DELAY在IDELAY方式下的可变延迟增模式,因此应该将 I0BDELAY_TYPE设置成“VARIABLE”,INC设置为高电平,T设置为高电平。如附图2所示为 相同周期信号相位差基本测量原理框图,第一周期信号CLKl和第二周期信号CLK2由外部 输入,从FPGA芯片管脚进入测量系统。CLKl信号直接进入I0DELAY,由于CLKl信号是从外 部管脚输入的,故而CLKl信号必须从I0DELAY的IDATAIN管脚输入,并且DATAIN必须设置 为0。而进入下一级时,输入信号是内部的输出信号,因此必须从DATAIN管脚进入I0DELAY, IDATAIN和0DATAIN必须被设置成0。CLK2由全局时钟网络进入D触发器时钟信号输入端, 目的是减少CLK2信号到达计数器时钟端和D触发器时钟端的延迟和抖动。同周期信号的相位差测量过程包括四个阶段,如下所述第一阶段系统初始化将测量系统全部复位所有I0DELAY复位,所有计数器清零,D触发器输出初始化 为低电平。I0DELAY工作在IDELAY方式下的可变延迟增模式,则I0BDELAY_TYPE设置成“VARIABLE”,INC = 1,T = 1。第二阶段信号延迟阶段如附图7所示,当有一定相位差的第一周期信号CLKl和第二周期信号CLK2输入 后,通过逻辑控制电路使IODELAY(l)的CE = 1。IODELAY(l)在CE = 1时,开始在CLK2驱 动下对延迟值在每一个时钟周期加1,而计数器(1)也在同样的时钟信号CLK2下对计数器 加1。因此延迟值的增加与计数器计数值的增加是同步的,有多少个延迟抽头就会计多少个数。第三阶段触发停止阶段CLKl进入IODELAY(l)进行可变延迟,CLK2进入全局时钟网络进入D触发器和计 数器的时钟端。当计数器值(1)记满时(抽头数=63),且Q输出的值未出现由高变低的情 况时,此时,计数器(1)会使逻辑控制电路触发下一级的I0DELAY (2)的CE= 1,并控制下一 计数器(2)开始进行计数,同时使IODELAY(l)的CE = 0,使延迟值保持在63。这样,就可 以继续对CLKl信号进行63个抽头以后的延迟。以此类推,若相位差很大,可以将CLKl信 号逐级进行每级0-63的抽头精确延迟,并记下经过几级的延迟,直到D触发器的输出值Q 由高变低为止。这样的触发有两种情况第一种是CLK2上升沿在CLKl的低电平,如附图3所示。 这种情况下,要测量周期信号的相位差,则直到Q输出由高电平变为低电平为止。第二种是 CLK2上升沿在CLKl的高电平,如附图4所示此时由于D触发器初始值是0,故而会变高, 之后当在D触发器的Q值出现由高变低的情况时,表明测量结束。第四阶段结束测量阶段如附图7所示,当检测到D触发器的Q端输出由高变为低电平时,逻辑控制电路使 这一级I0DELAY的CE = 0,停止增加延迟值,与此同时控制这一级的计数器停止计数并保持 计数结果M。逻辑控制电路内部存储着经过多少级才使D触发器出现由高变低的值N。则 在不考虑FPGA内部信号延迟情况下,相同周期信号之间相位差ΔΤ为ΔΤ = (N-I) X63X78+MX78(ps)。而实际上,系统存在FPGA内部的信号延迟。分析表明,信号CLKl通过一个I0DELAY 器件、除抽头线延迟之外的固定延迟为1. 338ns,同时I0DELAY之间也会存在延迟,设CLKl 从FPGA器件管脚到D触发器的D端的信号延迟为A。CLK2虽然进入全局时钟网络,但是到 D触发器的时钟端之间也会存在信号延迟,设为B。A和B为测量系统的系统误差,通过系统 自校可以得到得到A-B的准确值,因此在测量结束后只需对测量结果进行修正即可得到正 确的相位差,并且不会影响测量分辨率。修正后的测量相位差ΔΤ为Δ T = (N-I) X 63 X 78+ΜΧ 78+ (A-B) (ps)。综上所述本发明公开了一种新颖的相同周期信号的测量方法,克服了原有测量 相同周期信号测量分辨率大的不足。I0DELAY抽头线延迟时间决定了相同周期信号相位差 的测量精度。本发明中的延迟单元采用的是Xilinx Virtex-5FPGA中的I0DELAY,每个抽头 可以精准延迟78ps,且不受外界条件的影响,测量非常稳定。
权利要求
一种相同周期信号相位差的测量方法,其特征在于包括128个IODELAY专用可编程输入输出延迟单元,128个6位计数器,1个D触发器,两路相同周期信号第一路周期信号CLK1,第二路周期信号CLK2;所述的128个IODELAY作为CLK1的延迟器件,每个能够实现0 63个抽头延迟;所述128个6位计数器存储相关IODELAY的抽头延迟值,并通过逻辑控制电路计算,能够得到相同周期信号的相位差;所述D触发器用于检测CLK1与CLK2的边沿重合;所述两个相位差为ΔT的同周期信号CLK1与CLK2输入测量系统,CLK1经过IODELAY的逐级延迟,送入D触发器的数据端,CLK2经过全局时钟网络直接输入D触发器的CLK端和计数器的CLK端,当D触发器检测到CLK1与CLK2相重合时,输出值Q触发逻辑控制电路,并控制计数器记录下延迟的级数N和目前延迟的抽头数M,那么同周期信号相位差ΔT=(N 1)×63×78+M×78。
2.如权利要求1所述测量方法,是一种基于XilinxFPGA的相同周期信号相位差测量 方法,其特征在于使用抽头线延迟法即通过对第一周期信号CLKl经过I0DELAY内部抽头, 实现精确延迟,并实现与第二触发信号CLK2的边沿对齐,D触发器实现对CLKl与CLK2信 号的边沿检测。
3.如权利要求1所述测量方法,是一种基于XilinxFPGA的相同周期信号相位差测量 方法,其特征在于CLKl输入I0DELAY专用可编程抽头输入输出延迟基本单元,I0DELAY的 每一个抽头能精确对信号CLKl延迟78ps。
4.如权利要求1所述测量方法,是一种基于XilinxFPGA的相同周期信号相位差测 量方法,其特征在于CLKl经过每个I0DELAY时,均能够进行0-63个抽头延迟,共有128个 I0DELAY,因此能够实现频率为1. 5MHz 500MHz的周期信号相位差的测量,适合高精度测 量高频信号的相位差。
全文摘要
本发明公开了一种相同周期信号相位差测量电路,包括128个IODELAY(Xilinx FPGA专用可编程输入输出延迟单元),1个D触发器,128个6位计数器,1个逻辑控制电路,两路被测同周期信号第一路周期信号CLK1,第二路周期信号CLK2。本发明提出了一种高精度测量同周期信号相位差的方法CLK1送给IODELAY的输入端,经过IODELAY逐级延迟,输入D触发器的D端;CLK2通过FPGA的全局时钟网络输入到D触发器的CLK端和计数器的CLK端;并通过检测D触发器输出端Q值的变化,得到延迟后的CLK1和CLK2的边沿重合信息,可以根据IODELAY延迟量达到测量同周期信号相位差的目的。
文档编号G01R25/00GK101915875SQ20101024349
公开日2010年12月15日 申请日期2010年7月30日 优先权日2010年7月30日
发明者刘杰, 姚秦, 张敏, 曾宪雄, 王俭, 王海, 范慧娟 申请人:西安电子科技大学

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