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一种圆度检测装置的制作方法

时间:2025-07-02    作者: 管理员

专利名称:一种圆度检测装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种圆度检测装置。
背景技术
现在,陶瓷材料与石英光纤热匹配性好,并且理化性能稳定,因此, 以陶瓷插芯为核心器件的光纤连接器在光纤通信系统中得到了很快的发 展。陶瓷插芯的内孔是否足够圆,将严重制约其品质。
目前,对于陶瓷插芯内孔是否足够圆的检测,主要是依靠人工完成。 即人工检测,插芯检测质量状况由检测员决定,这种检测方法很难保证 产品质量的稳定性。而且,由于人工的效率较低,难以与生产的速度相匹 配,这样很难实现产品生产规模化、高质量、高稳定性。

实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种自动对待测件的形状进行 检测的装置。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的
一种圆度检测装置,包括用于放置待测件的待测件工作位、用于向 放置在所述待测件工作位上的待测件发出检测光的发光单元、用于接收经 过所述待测件的检测光并转换为相应电信号的光电转换单元,以及,用于 处理所述光电转换单元传送来的电信号对待测件的形状进行判断的处理单 元。
本实用新型所称的圆度检测,是指对待测件的形状圆满程度的检测, 即通过实际的形状与目标设定的形状之间的对比,实现相应的检测目的, 当然,所述圆度检测包括检测圆形的待测件是否足够的圆。采用上述技术方案,设待测件为陶瓷插芯,所述发光单元发出的检测 光射到该陶瓷插芯端面上,则一部分检测光在陶瓷插芯的端面发生了反射, 该反射光由所述光电转换单元将光信号转为相应的电信号传送给处理单 元,进行处理分析。
通常,该处理单元为计算机,经过相应的处理后,所述陶瓷插芯端面 可以以亮白图案的方式显示在处理单元上。而同时,另一部分检测光经过 该陶瓷插芯内孔射向外界,而没有相应的反射光被所述光电转换单元接收, 这样陶瓷插芯内孔就相应的以圆形黑色图案的方式进行显示,这样处理单 元能够通过对上述图案进行拟合、分析计算,并最后获得该陶瓷插芯内孔 检测值。当然,可以根据该陶瓷插芯内孔检测值来判断其质量状况,从而 实现了检测自动化。
以上仅仅只是以陶瓷插芯为例,说明上述技术方案是如何自动的捡测 出任意待测件的形状是否符合设定的标准的。
进一步而言,所述发光单元包括用于发出所述检测光的光源,以及, 用于将所述检测光汇集射向所述待测件的光路汇集模块。 进一步而言,所述光源选择采用发光二极管。
采用上述技术方案,由于发光二极管的成本低廉,功耗较低,且发光 具有很强的方向性,具有较好的实用效果。
进一步而言,所述光路汇集模块包括反射镜和聚光孔;所述聚光孔 设置在与所述待测件相应的位置,所述反射镜设置在所述光源附近,用于 将所述光源所发出的检测光反射透过所述聚光孔到达所述待测件。
采用上述技术方案,能够使得检测光更有效率的发射到所述待测件上, 进一步提高其实用效果。
进一步而言,所述的圆度检测装置还包括用于调整所述聚光孔与所 述待测件之间位置的调节单元。
采用上述技术方案,可以通过调整聚光孔的方式,来获得最佳的检测 效果。
进一步而言,所述光电转换单元包括透过所述聚光孔对准所述待测 件的检测镜头、用于调整所述检测镜头焦距的微动滑台、用于将所述检测镜头采集的光转换为相应电信号的电荷耦合器件相机,以及,用于传送检
测镜头汇聚的光到所述检测镜头的检测光通道;所述检测光通道的内壁采 用螺纹结构。
采用上述技术方案,所述光电转换单元接收透过所述聚光孔的待测件 的反射光,消除了其他杂光的干扰,能够进一步提高检测效果。而且,通 过调节所述检测镜头的焦距,能够提高成像质量和检测效果。另外,由于 所述检测光通道的内壁采用螺纹结构,能够有效的消除所述检测光通道内 壁的光的漫反射,提高检测的质量。
进一步而言,待测件工作位包括用于让所述待测件沿其滑动到相应
位置的滑动斜面,以及设置在所述滑动斜面上,用于限制所述待测件的滑
动槽;所述滑动槽沿所述滑动斜面为上宽下窄的结构。
采用上述技术方案,待测件能够沿所述滑动斜面和滑动槽,借助重力 的作用,自动达到相应的检测位置。
进一步而言,所述滑动槽为V形结构,所述待测件工作位还包括采
用聚四氟乙烯,用于增加与所述待测件之间滑动的滑动条。
采用上述技术方案,非常容易实现自动固定于特定位置的目的,而且 能够保证待测件与检测光路处于同一平面。
进一步而言,所述圆度检测装置还包括用于调整所述光电转换单元
与放置在所述待测件工作位上的待测件之间位置的X-Y方向调整机构。
与现有技术相比本实用新型的优点在于,能够自动高效并准确的对待 测件的形状进行检测,提高了待测件生产的质量稳定性。


图1是本实用新型圆度检测装置实施例的剖面结构示意图; 图2是本实用新型圆度检测装置实施例的俯视图。
具体实施方式
以下结合附图和较佳的实施例对本实用新型作进一步说明。
如图1和图2所示,待测件4为陶瓷插芯,其内径为0. 125毫米至0. 127 毫米,放置在沿滑动斜面2上、并镶嵌有聚四氟乙烯制成的滑动条3的V形滑动槽,以对准检聚光孔13处。滑动斜面2与整个检测光路14与水平 面呈30度的倾斜。其中,检测光路14指检测光所经过的光路,所述聚光 孔13设置在探测头5处的一小通孔。调节单元采用调整螺钉l,用于调整 所述聚光孔13与所述待测件4之间位置的。
发光二极管8所发出的检测光经过反射镜9的反射,透过所述聚光孔 13射向待测件4。所述待测件4对该检测光的反射光,透过所述聚光孔, 被检测镜头7获取,所述检测镜头7的放大倍数是400,然后该光经过内 壁采用螺纹结构的检测光通道10,被电荷耦合器件相机12接收,并转换 为相应的电信号,被处理单元分析处理。
其中,可以通过设置微动滑台11来调整所述检测镜头7的焦距。而通 过X-Y方向调整机构6来调整所述光电转换单元与放置在所述待测件工作 位上的待测件4之间位置,以使得对准所述待测件4成像。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详 细说明,本实用新型也还包括以上所列举的技术细节另外相应组合而成实 施例。但是,不能认定本实用新型的具体实施只局限于上述说明。对于本 实用新型所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的 前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本实用新型的 保护范围。
权利要求1、一种圆度检测装置,其特征在于,包括用于放置待测件(4)的待测件工作位、用于向放置在所述待测件工作位上的待测件(4)发出检测光的发光单元、用于接收经过所述待测件(4)的检测光并转换为相应电信号的光电转换单元,以及,用于处理所述光电转换单元传送来的电信号对待测件(4)的形状进行判断的处理单元。
2、 如权利要求1所述的圆度检测装置,其特征在于,所述发光单元包括用于发出所述检测光的光源,以及,用于将所述检测光汇集射向所述 待测件(4)的光路汇集模块。
3、 如权利要求2所述的圆度检测装置,其特征在于,所述光源选择采 用发光二极管(8)。
4、 如权利要求2所述的圆度检测装置,其特征在于,所述光路汇集模块包括反射镜(9)和聚光孔(13);所述聚光孔(13)设置在与所述待测件(4)相应的位置,所述反射镜(9)设置在所述光源附近,用于将所 述光源所发出的检测光反射透过所述聚光孔(13)到达所述待测件(4)。
5、 如权利要求4所述的圆度检测装置,其特征在于,还包括用于调 整所述聚光孔(13)与所述待测件(4)之间位置的调节单元。
6、 如权利要求4所述的圆度检测装置,其特征在于,所述光电转换单 元包括透过所述聚光孔(13)对准所述待测件(4)的检测镜头(7)、用 于调整所述检测镜头(7)焦距的微动滑台(11)、用于将所述检测镜头(7) 采集的光转换为相应电信号的电荷耦合器件相机,以及,用于传送检测镜 头(7)汇聚的光到所述检测镜头(7)的检测光通道(10);所述检测光通 道(10)的内壁采用螺纹结构。
7、 如权利要求1所述的圆度检测装置,其特征在于,所述光电转换单 元包括用于采集经过所述待测件(4)的所述检测光的检测镜头(7)、用 于将所述检测镜头(7)采集的光转换为相应电信号的电荷耦合器件相机(12),以及,用于传送检测镜头(7)汇聚的光到所述检测镜头(7)的检 测光通道(10);所述检测光通道(10)的内壁采用螺纹结构。
8、 如权利要求1至7中任一权利要求所述的圆度检测装置,其特征在 于,待测件工作位包括用于让所述待测件(4)沿其滑动到相应位置的滑动斜面(2),以及设置在所述滑动斜面(2)上,用于限制所述待测件(4) 的滑动槽;所述滑动槽沿所述滑动斜面(2)为上宽下窄的结构。
9、 如权利要求8所述的圆度检测装置,其特征在于,所述滑动槽整体 呈V形,所述待测件工作位还包括采用聚四氟乙烯,用于增加与所述待 测件(4)之间滑动的滑动条。
10、 如权利要求1所述圆度检测装置,其特征在于,还包括用于调 整所述光电转换单元与放置在所述待测件工作位上的待测件(4)之间位置 的X-Y方向调整机构(6)。
专利摘要本实用新型提供一种圆度检测装置,包括用于放置待测件(4)的待测件工作位、用于向放置在所述待测件工作位上的待测件(4)发出检测光的发光单元、用于接收经过所述待测件(4)的检测光并转换为相应电信号的光电转换单元,以及,用于处理所述光电转换单元传送来的电信号对待测件(4)的形状进行判断的处理单元。与现有技术相比本实用新型的优点在于,能够自动高效并准确的对待测件的形状进行检测,提高了待测件生产的质量稳定性。
文档编号G01B11/24GK201364147SQ200920135550
公开日2009年12月16日 申请日期2009年3月10日 优先权日2009年3月10日
发明者杜利明 申请人:深圳太辰光通信有限公司

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