专利名称：能够检测光纤的被保持姿势的光学连接器检测设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光学连接器检测设备，所述光学连接器检测设备用于在设计为将 光纤保持和固定在正确姿势的光线连接器的装配过程中检测光线连接器中的光纤的被保 持姿势，即，检测光学连接器是否将光纤保持在正确姿势。
背景技术：
涉及此种类型的光学连接器检测设备的技术公开在例如JP-B_3778090(专利文 献1)中。公开在专利文献1中的光学连接器检测设备检测形成于光学连接器中以保持其 中的光纤的多个光纤孔的偏心率。在光学连接器中，一对导向孔平行于光纤孔的延伸方向 形成。通过保持光学连接器，辐射从设置在光学连接器的后面的光源发射到光学连接器的 后端的检测光线，然后进行通过导向孔和光纤孔从光学连接器的前端发射的光束的图像处 理，此光学连接器检测设备检测光纤孔相对于光学连接器的的偏心率。公开在专利文献1中的光学连接器检测设备是不仅要检测光学连接器中的光纤 的被保持姿势、而且还要检测保持光纤之前的光纤孔的偏心率并由此用于在光纤连接到光 学连接器之前进行检测的设备。因此，如果试图在光纤连接到光学连接器的状态下进行检 测，则从设置在光学连接器的后面的光源发射的检测光线被光纤遮蔽。考虑到此种情况，为 了防止检测光线被光纤遮蔽，考虑的技术是在保持强迫光纤离开检测光线的行进路径时进 行检测。然而，此技术要求很复杂的操作。此外，在公开在专利文献1中的光学连接器检测设备中，由于检测光线辐射到通 过设备保持的光学连接器的后端，光源设置在光学连接器的后端。因此，包括光源的此光学 连接器检测设备总体上尺寸很大。

发明内容
因此，本发明的一个目的是提供一种光学连接器检测设备，所述光学连接器检测 设备尺寸小，且即使在光纤连接到光学连接器的状态下也能够检测光纤的被保持姿势。本发明的另一个目的是提供一种光学连接器检测设备，所述光学连接器检测设备 即使在光纤连接到光学连接器的状态下也能够检测光纤的被保持姿势，因此很容易保持和 固定光纤。根据本发明的一个方面，提供一种光学连接器检测设备，所述光学连接器检测设 备检测具有沿轴向穿过并保持光纤的光纤保持部分以及沿轴向穿过的基准孔部分的光学 连接器，所述设备包括适于保持光学连接器的光学连接器保持件、适于发射检测光的光源 以及摄像装置，所述摄像装置设置在轴向上的光学连接器的前面，并适于捡取使辐射到由 所述光学连接器保持件保持的光学连接器在轴向上的后端的检测光透射通过所述基准孔部分而获得的透射光束的图像，并捡取由所述光纤保持部分保持的光纤的端面的图像。光 学连接器检测设备根据由所述摄像装置产生的摄像结果检测光学连接器中的光纤的被保 持姿势。光源沿横交于光学连接器的轴向的方向设置。光学连接器保持件包括检测光反射 部分，检测光反射部分将来自所述光源的检测光偏转并反射到光学连接器的轴向，使得检 测光进入光学连接器的所述基准孔部分。根据本发明的另一个方面，提供一种光学连接器检测方法，所述方法检测具有沿 轴向穿过并保持光纤的光纤保持部分以及沿轴向穿过的基准孔部分的光学连接器，所述方 法包括以下步骤保持光学连接器；发射检测光；将检测光辐射到保持的光学连接器在轴 向上的后端；以及捡取使辐射到光学连接器在轴向上的后端的检测光透射通过所述基准孔 部分而获得的透射光束的图像，并捡取由所述光纤保持部分保持的光纤的端面的图像。所 述方法根据透射光束以及由所述光纤保持部分保持的光纤的端面的摄像结果检测光学连 接器中的光纤的保持姿势。检测光发射步骤在横交于光学连接器的轴向的方向上发射检测 光。检测光辐射步骤在将检测光辐射到光学连接器在轴向上的后端之前，向光学连接器的 轴向偏转并反射检测光，使得检测光进入光学连接器的所述基准孔部分。


图IA和图IB分别是根据本发明的第一和第二实施例的光学连接器检测设备中的 每个的检测目标的光线连接器的前视立体图和后视立体图；图2A和图2B分别是沿图IA所示的光学连接器的剖面线2A-2A和2B-2B剖开的 剖视图；图3是显示根据本发明的第一实施例的在保持光学连接器之前的光学连接器检 测设备的主要部分的立体图；图4是显示根据本发明的第一实施例的保持光学连接器的光学连接器检测设备 的立体图；图5是沿图4所示的光学连接器检测设备的剖面线5-5剖开的剖视图；图6是显示根据本发明的第二实施例的保持光学连接器的光学连接器检测设备 的立体图；以及图7是沿图6所示的光学连接器检测设备的剖面线7-7剖开的剖视图。
具体实施例方式在下文中，将参照附图，分别给出根据本发明第一和第二实施例的光学连接器检 测设备和使用所述光学连接器检测设备的光学连接器检测方法。首先，将说作为检测目标的光学连接器100。参照图IA和图IB以及图2A和图2B，光学连接器100包括壳体101、夹紧件103 以及由壳体101保持的光纤软线102。光纤软线102包括多个平行布置的光纤102a。在图IA和图IB以及图2A和图2B 中，光纤软线102只预先连接到壳体101，但还没有固定到所述壳体上。壳体101具有在其轴向(相对于未显示的配合光学连接器的插入/移走方向)A 上形成于该壳体的前端的用于装配到配合光学连接器上的配合孔部分101a、保持涂层被剥去的光纤软线102的光纤102a的光纤保持部分101b、以及形成于配合孔部分IOla内部的 拐角处的四个基准孔部分101c。每个基准孔部分IOlc都在轴向A上穿过壳体101。在本 发明中，壳体的使配合孔部分打开的一端被限定为光学连接器(壳体)的前端，而壳体的与 前端相对的另一端被限定为光学连接器(壳体)的后端。第一实施例下面将说明根据本发明的第一实施例的光学连接器检测设备。参照图3到图5，光学连接器检测设备检测光学连接器100中的光纤软线102 (即， 光纤软线102的光纤102a)的被保持姿势，并且包括光学连接器保持件10、光源20以及摄 像装置30。光学连接器保持件10保持光学连接器100并具有支撑基座11和压紧件12。光学 连接器100放置在支撑基座11上。压紧件12与支撑基座11 一起在使用未显示的如螺旋 弹簧的偏压装置的压力下保持光学连接器100。例如，光学连接器保持件10由金属制成。 光学连接器保持件10也可以用树脂以高尺寸精度制成。光源20发出检测光，并由例如卤素灯、氙灯或多个LED形成。摄像装置30设置在光学连接器100的前面，并适于捡取使辐射到由光学连接器保 持件10保持的光学连接器100的后端的检测光透射通过四个基准孔部分IOlc而获得的透 射光束的图像，并捡取由光纤保持部分IOlb保持的光纤软线102的端面的图像。摄像装置 30由例如CCD照相机形成。例如，摄像装置30连接到具有计算装置和储存装置的未显示的 个人计算机，其中计算装置根据储存在储存装置中的专用软件进行计算。然后，根据摄像装置30的摄像结果，个人计算机进行图像判断以检测光学连接器 100中的光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保持姿势。通过检测光透射通 过基准孔部分IOlc获得的四个透射光束用作屏面坐标系中的基准位置。由于已经公知此 种类型的图像判断，所以在此省略其具体说明。在确认光学连接器100中的光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保 持姿势的检测结果的同时，光学连接器的装配者将光纤102a的姿势调节到正确的姿势，并 在此状态下通过利用例如紫外线固化粘合剂将光纤102a固定到光纤保持部分101b。具体地，在此光学连接器检测设备中，光源20沿横交于光学连接器100的轴向A 的方向设置。在此实施例中，光源20沿垂直于轴向A(图中向上)的方向设置，但也可以不 垂直而以一定角度设置。为了允许来自光源20的检测光进入到光学连接器100的四个基 准孔部分101c，光学连接器保持件10具有用于使检测光向光学连接器100的轴向A偏转和 反射的检测光反射部分13。例如，检测光反射部分13通过镜面精加工形成并成45度角。下面，将参照图3到图5说明采用此光学连接器检测设备的光学连接器检测方法。首先，通过光学连接器保持件10保持光学连接器100。然后，从光源20发射检测光。来自光源20的检测光通过光学连接器保持件10的 检测光反射部分13在轴向A上被偏转和反射，并从光学连接器100的后端进入到四个基准 孔部分IOlc0摄像装置30捡取由检测光透射通过四个基准孔部分IOlc获得的透射光束的图 像、以及由光纤保持部分IOlb保持的光纤软线102(即，光纤软线102的光纤102a)的端面 的图像。连接到摄像装置30的未显示的计算装置进行预定的图像处理，以检测光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保持姿势。在确认光学连接器100中的光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保 持姿势的检测结果的同时，光学连接器的装配者将光纤102a的姿势调节到正确的姿势，并 在此状态下通过利用例如紫外线固化粘合剂将光纤102a固定到光纤保持部分101b。第二实施例根据本发明的第二实施例的光学连接器检测设备不同于第一实施例之处在于具 有第二摄像装置。因此，同样的附图标记被指定给与第一实施例中相同或相似的部分并省 略其具体说明。参照图6和图7，此光学连接器检测设备检测光学连接器100中的光纤软线 102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保持姿势，并且包括光学连接器保持件10、光源20 以及摄像装置30。摄像装置30设置在光学连接器100的前面，并适于捡取使辐射到由光学连接器保 持件10保持的光学连接器100的后端的检测光透射通过四个基准孔部分IOlc而获得的透 射光束的图像，并捡取由光纤保持部分IOlb保持的光纤软线102的端面的图像。摄像装置 30由例如CXD照相机形成。例如，摄像装置30连接到由个人计算机和专用软件形成的未显 示的计算部分。光源20沿横交于光学连接器100的轴向A的方向设置。在此实施例中，光源20 沿垂直于轴向A(图中向上)的方向设置，但也可以不垂直而以一定成角度设置。为了允许来自光源20的检测光进入到光学连接器100的四个基准孔部分101c，光 学连接器保持件10具有用于使检测光向光学连接器100的轴向A偏转和反射的检测光反 射部分13。具体地，此光学连接器检测设备进一步包括第二摄像装置40，所述第二摄像装置 沿正交于由光学连接器保持件10保持的光学连接器100的轴向A的方向设置，并适于捡取 从由光学连接器保持件10保持的光学连接器100的前端突出的光纤软线102(即，光纤软 线102的光纤102a)的侧面(上表面)的图像。第二摄像装置40也由例如CXD照相机形 成。同摄像装置30 —样，第二摄像装置40也连接到未显示的计算部分。第二摄像装置40可以靠近光源20设置，或可以与光源20形成为一个整体。除了由摄像装置30产生的摄像结果外，还根据也作为光学连接器100中的光纤的 被保持姿势的因素的第二摄像装置40产生的摄像结果，计算部分做出图像判断以检测光 学连接器100中的光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保持姿势。由第二摄像 装置40产生的摄像结果可知，可以检测从光学连接器100的前端突出的光纤软线102(即， 光纤软线102的光纤102a)的突出量。在确认光学连接器100中的光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保 持姿势的检测结果的同时，光学连接器的装配者将光纤102a的姿势调节到正确的姿势，并 在此状态下通过利用例如紫外线固化粘合剂将光纤102a固定到光纤保持部分101b。下面，将参照图6和图7说明采用此光学连接器检测设备的光学连接器检测方法。首先，由光学连接器保持件10保持光学连接器100。然后，从光源20发射检测光。来自光源20的检测光通过光学连接器保持件10的 检测光反射部分13向轴向A偏转和反射，并从光学连接器100的后端进入到四个基准孔部分 IOlc0摄像装置30捡取由检测光透射通过四个基准孔部分IOlc获得的透射光束的图 像、以及由光纤保持部分IOlb保持的光纤软线102(即，光纤软线102的光纤102a)的端面 的图像。第二摄像装置40捡取从由光学连接器保持件10保持的光学连接器100的前端突 出的光纤软线102( S卩，光纤软线102的光纤102a)的侧面的图像。连接到摄像装置30和第二摄像装置40的未显示的计算部分进行预定的图像处 理，以检测光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保持姿势，所述被保持姿势包 括从光学连接器100的前端突出的光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的突出量。在确认光学连接器100中的光纤软线102 (即，光纤软线102的光纤102a)的被保 持姿势的检测结果的同时，光学连接器的装配者将光纤102a的姿势调节到正确的姿势，并 在此状态下通过利用例如紫外线固化粘合剂将光纤102a固定到光纤保持部分101b。本发明不局限于上述实施例，而在权利要求书中说明的技术范围内可以做出各种 改变。
权利要求
一种检测光学连接器的光学连接器检测设备，所述光学连接器具有沿轴向穿过并保持光纤的光纤保持部分以及沿轴向穿过的基准孔部分，所述设备包括光学连接器保持件，所述光学连接器保持件适于保持所述光学连接器；光源，所述光源适于发射检测光；以及摄像装置，所述摄像装置设置在轴向上的所述光学连接器的前面，并适于捡取使辐射到由所述光学连接器保持件保持的所述光学连接器在所述轴向上的后端的检测光透射通过所述基准孔部分而获得的透射光束的图像，以及捡取由所述光纤保持部分保持的光纤的端面的图像，其中，所述光学连接器检测设备根据由所述摄像装置产生的摄像结果检测所述光学连接器中的光纤的被保持姿势；其特征在于，所述光源沿横交于所述光学连接器的所述轴向的方向设置；以及所述光学连接器保持件包括检测光反射部分，所述检测光反射部分将来自所述光源的检测光线偏转并反射到所述光学连接器的所述轴向，使得检测光进入所述光学连接器的所述基准孔部分。
2.根据权利要求1所述的光学连接器检测设备，进一步包括第二摄像装置，所述第二 摄像装置沿正交于由所述光学连接器保持件保持的所述光学连接器的所述轴向的方向设 置，并适于捡取从由所述光学连接器保持件保持的所述光学连接器的前端突出的光纤的侧 面的图像，其中，所述设备根据作为所述光学连接器中的光纤的被保持姿势的因素的由所述第 二摄像装置产生的摄像结果，进一步检测从所述光学连接器的所述前端突出的光纤的突出量。
3.—种检测光学连接器的光学连接器检测方法，所述光学连接器具有沿轴向穿过并保 持光纤的光纤保持部分以及沿轴向穿过的基准孔部分，所述方法包括以下步骤保持所述光学连接器； 发射检测光；将检测光辐射到保持的所述光学连接器在所述轴向上的后端；以及 捡取使辐射到所述光学连接器在所述轴向上的后端的检测光透射通过所述基准孔部 分而获得的透射光束的图像，并捡取由所述光纤保持部分保持的光纤的端面的图像；其中，所述方法根据透射光束和由所述光纤保持部分保持的光纤的所述端面的摄像结 果检测所述光学连接器中的光纤的被保持姿势；其特征在于，所述检测光发射步骤在横交于所述光学连接器的所述轴向的方向上发射检测光；以及 所述检测光辐射步骤在将检测光辐射到所述光学连接器在所述轴向上的后端之前向 所述光学连接器的所述轴向偏转并反射检测光，使得检测光进入所述光学连接器的所述基 准孔部分。
4.根据权利要求3所述的光学连接器检测方法，进一步包括以下步骤 捡取从保持的所述光学连接器的前端突出的光纤的侧面的图像；其中，所述方法根据作为所述光学连接器中的光纤的被保持姿势的因素的从所述光学 连接器的前端突出的光纤的所述侧面的摄像结果作为，进一步检测从所述光学连接器的前 端突出的光纤的突出量。
全文摘要
本发明涉及能够检测光纤的被保持姿势的光学连接器检测设备。具体地，本发明提供了一种检测光学连接器的光学连接器检测设备以及一种检测光学连接器的光学连接器检测方法。光源(20)沿横交于光学连接器(100)的轴向(A)的方向设置。光学连接器保持件(10)包括检测光反射部分(13)。检测光反射部分(13)将来自光源(20)的检测光偏转并反射到轴向(A)，使得检测光进入光学连接器(100)的基准孔部分(101c)。
文档编号G01B11/00GK101923191SQ20101017005
公开日2010年12月22日 申请日期2010年5月4日 优先权日2009年5月25日
发明者小田三纪雄, 小野秀之, 是枝雄一, 本间博之, 浅田一仁, 阿曾智彦, 高桥久弥 申请人:日本航空电子工业株式会社