专利名称：多功能非接触式13.56mhz的ic卡及读卡器的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种非接触式IC卡及读卡器测试装置，特别是一种多功能非接触式13. 56MHZ的IC卡及读卡器的测试装置。
背景技术：
非接触式13. 56MHZ IC卡已广泛应用于公交、轮渡、轨道交通、停车场的自动收费领域，同时也应用在门禁管理、身份证明、电子钱包等领域。由于非接触式IC卡与读卡器之间的交互信息隐含着交易数据、信息安全数据等，因此非接触式IC卡及读卡器的接口、功能、性能好坏严重的影响着其实用性，必须对其进行接口、功能、性能测试。传统的非接触式13. 56MHZ IC卡及读卡器测试装置的测试方法及测试项目的测试环境单一、自动化程度较 低，且不能进行动态调整测试条件参数或在模拟非接触式13. 56MHZ IC卡及读卡器实际应用环境条件下进行测试等问题，导致测试环境与实际应用环境不匹配。

实用新型内容为克服传统非接触式13. 56MHZ IC卡及读卡器测试装置技术的不足，本实用新型的目的是在于提供一种多功能非接触式13. 56MHZ的IC卡及读卡器的测试装置。一种多功能非接触式13. 56MHZ的IC卡及读卡器的测试装置，其特征在于，它包括万向轮、非接触式IC卡托盘、非接触式IC卡、可调节角度旋钮机构、非接触式IC卡托架、非接触式IC卡旋转驱动电机、读卡器托架、一体式读卡器或分体式读卡器天线、丝杠、伞齿轮传动组、伞齿轮驱动电机、分体式读卡器、控制单元、控制工作站；所述非接触式IC卡放置在非接触式IC卡托架上的非接触式IC卡托盘中，非接触式IC卡托盘与非接触式IC卡托架使用万向轮及可调节角度旋钮机构连接；所述非接触式IC卡托架设置12个非接触式IC卡托盘，每相邻非接触式IC卡托盘夹角为30°，均在非接触式IC卡托架的12个整点时针方向上，非接触式IC卡长轴中心线分别与12个整点时针重合；所述非接触式IC卡托架固定在非接触式IC卡旋转驱动电机转轴上；所述读卡器托架上设置有一体式读卡器或分体式读卡器天线，所述非接触式IC卡旋转驱动电机与伞齿轮传动组使用丝杠连接，控制伞齿轮驱动电机，可调节非接触式IC卡托架与读卡器托架之间的垂直距离；所述伞齿轮驱动电机固定在读卡器托架上；所述控制单元为驱动控制板，包括非接触式IC卡旋转驱动电机、伞齿轮驱动电机、伞齿轮传动组控制；所述控制工作站安装测试界面及测试用例。所述读卡器托架上设置有3个一体式读卡器或分体式读卡器天线，读卡器托架还可用来存放分体式读卡器。非接触式IC卡托架固定在非接触式IC卡旋转驱动电机转轴上，通过控制非接触式IC卡旋转驱动电机,可控制非接触式IC卡托架上的非接触式IC卡在一体式读卡器或分体式读卡器天线的上方旋转速度、停留时间。控制单元与控制工作站的模块化组合，构成了可配置化的测试装置。
本实用新型与现有技术相比，其有益效果有由于非接触式IC卡托盘(2)与非接触式IC卡托架(5)使用万向轮(I)及可调节角度旋钮机构(4)连接，通过调节可调节角度旋钮机构(4)，可使每个非接触式IC卡托盘(2)中的非接触式IC卡(3)平面与一体式读卡器(或分体式读卡器天线)平面的倾斜角度具有三维角度空间的可调节性，非接触式IC卡(3)平面与一体式读卡器(8)(或分体式读卡器天线)平面三维夹角(Γ90°范围内可调，角度调节步长精度不大于3° ;由于读卡器托架(7)上设置3个一体式读卡器(8)(或分体式读卡器天线)，可模拟公交、轮渡、轨道交通、停车场、门禁管理领域中的发卡、进、出使用环境，同时也可对非接触式IC卡(3)及读卡器寿命进行测试；由于非接触式IC卡托架(5)固定在非接触式IC卡(6)旋转驱动电机转轴上，通过控制非接触式IC卡旋转驱动电机(6),可控制非接触式IC卡托架(5)上的非接触式IC卡(3)在一体式读卡器(8)(或分体式读卡器天线)上方旋转速度、停留时间，以便测试非接触式IC卡(3)与读卡器之间的读写接口、功能、性能，每个一体式读卡器(8)(或分体式读卡器天线)上方停留时间(T500ms可调；由于非接触式IC卡旋转驱动电机(6)与伞齿轮传动组(10)使用丝杠(9)连接，通过伞齿轮驱动电机组(11)合成非接触式IC卡托架(5)垂直升降机构，可在测试的过程中在不停止非接触式IC卡旋转驱动电机(6)旋转的情况下灵活调节非接触式IC卡托架(5)与一体式读卡器(8)(或分体式读卡器天线)之间的垂直距离，以便进行非接触式IC卡(3)与一 体式读卡器(8)(或分体式读卡器天线)之间的(T200mm范围内的非接触式IC卡(3)识别距离，垂直距离调节步长精度可达到Imm ;由于控制单元(13)与控制工作站(14)的模块化组合，构成了可配置化的测试装置，在进行不同非接触式13. 56MHZ IC卡及读卡器测试时，只需更改软件程序即可，不需对本实用新型硬件部分做任何调整。

图I多功能非接触式13. 56MHZ的IC卡及读卡器的测试装置结构总图。
具体实施方式
参照图1，本实用新型包括万向轮I、非接触式IC卡托盘2、非接触式IC卡3、可调节角度旋钮机构4、非接触式IC卡托架5、非接触式IC卡旋转驱动电机6、读卡器托架7、一体式读卡器8或分体式读卡器天线、丝杠9、伞齿轮传动组10、伞齿轮驱动电机11、分体式读卡器12、控制单元13、控制工作站14。所述非接触式IC卡3放置在非接触式IC卡托架5上的非接触式IC卡托盘2中，非接触式IC卡托盘2与非接触式IC卡托架5使用万向轮I及可调节角度旋钮机构4连接，通过调节可调节角度旋钮机构4，可使非接触式IC卡托盘2中的非接触式IC卡3平面与一体式读卡器8 (或分体式读卡器天线)平面的倾斜角度具有三维角度空间的可调节性；所述非接触式IC卡托架5设置12个非接触式IC卡托盘2，每相邻非接触式IC卡托盘2夹角为30°，均在非接触式IC卡托架5的12个整点时针方向上，且与非接触式IC卡3长轴中心线分别与12个整点时针重合；所述非接触式IC卡托架5固定在非接触式IC卡旋转驱动电机6转轴上，通过控制非接触式IC卡旋转驱动电机6，可控制非接触式IC卡托架5上的非接触式IC卡3在一体式读卡器8 (或分体式读卡器天线)上方旋转速度、停留时间，以便测试非接触式IC卡3与读卡器之间的读写接口、功能、性能；所述读卡器托架7上设置的3个一体式读卡器8或分体式读卡器天线，可模拟公交、轮渡、轨道交通、停车场、门禁管理领域中的发卡、进、出使用环境，读卡器托架7还可用来存放分体式读卡器12 ;所述非接触式IC卡旋转驱动电机6与伞齿轮传动组10使用丝杠9连接，通过控制伞齿轮驱动电机11，调节非接触式IC卡托架5与读卡器托架7之间的垂直距离，进而调整非接触式IC卡3与一体式读卡器8或分体式读卡器天线的之间的垂直距离，以测试非接触式IC卡3与一体式读卡器8或分体式读卡器天线的之间的读写距离；所述伞齿轮 驱动电机11固定在读卡器托架7上；控制单元13为本实用新型测试装置的驱动控制板，包括非接触式IC卡旋转驱动电机6、伞齿轮驱动电机11、伞齿轮传动组10控制；所述14控制工作站安装本实用新型测试装置测试界面及测试用例，可将测试过程自动化、可视化、追溯化，以便测试分析读卡器启动时间等。
权利要求1.一种多功能非接触式13. 56MHZ的IC卡及读卡器的测试装置，其特征在于，它包括万向轮、非接触式IC卡托盘、非接触式IC卡、可调节角度旋钮机构、非接触式IC卡托架、非接触式IC卡旋转驱动电机、读卡器托架、一体式读卡器或分体式读卡器天线、丝杠、伞齿轮传动组、伞齿轮驱动电机、分体式读卡器、控制单元、控制工作站；所述非接触式IC卡放置在非接触式IC卡托架上的非接触式IC卡托盘中，非接触式IC卡托盘与非接触式IC卡托架使用万向轮及可调节角度旋钮机构连接；所述非接触式IC卡托架设置12个非接触式IC卡托盘，每相邻非接触式IC卡托盘夹角为30°，均在非接触式IC卡托架的12个整点时针方向上，非接触式IC卡长轴中心线分别与12个整点时针重合；所述非接触式IC卡托架固定在非接触式IC卡旋转驱动电机转轴上；所述读卡器托架上设置有一体式读卡器或分体式读卡器天线，所述非接触式IC卡旋转驱动电机与伞齿轮传动组使用丝杠连接，控制伞齿轮驱动电机，可调节非接触式IC卡托架与读卡器托架之间的垂直距离；所述伞齿轮驱动电机固定在读卡器托架上；所述控制单元为驱动控制板，包括非接触式IC卡旋转驱动电机、伞齿轮驱动电机、伞齿轮传动组控制；所述控制工作站安装测试界面及测试用例。
2.根据权利要求I所述的多功能非接触式13.56MHZ的IC卡及读卡器测试装置，其特征在于所述读卡器托架上设置有3个一体式读卡器或分体式读卡器天线，读卡器托架还可用来存放分体式读卡器。
3.根据权利要求I所述的多功能非接触式13.56MHZ的IC卡及读卡器测试装置，其特征在于非接触式IC卡托架固定在非接触式IC卡旋转驱动电机转轴上，通过控制非接触式IC卡旋转驱动电机，可控制非接触式IC卡托架上的非接触式IC卡在一体式读卡器或分体式读卡器天线的上方旋转速度、停留时间。
4.根据权利要求I所述的多功能非接触式13.56MHZ的IC卡及读卡器测试装置，其特征在于控制单元与控制工作站的模块化组合，构成了可配置化的测试装置。
专利摘要一种新型多功能非接触式13.56MHZ的IC卡及读卡器的测试装置，它通过调节可调节角度旋钮机构，可使每个非接触式IC卡托盘中的非接触式IC卡平面与一体式读卡器或分体式读卡器天线的平面的倾斜角度具有三维角度空间的可调节性；所述读卡器托架上设置3个一体式读卡器；所述非接触式IC卡旋转驱动电机，可控制非接触式IC卡托架上的非接触式IC卡在一体式读卡器上方旋转速度、停留时间；所述通过伞齿轮驱动电机组合成非接触式IC卡托架垂直升降机构；所述本实用新型在非接触式IC卡及读卡器识别距离、识别三维角度、模拟实际实用环境等测试全部采用自动化方式实现，具有可测试性强、模拟使用环境强、实时性高、测试准确度高、抗干扰能力强、安全性与可靠性高。
文档编号G01R31/00GK202494741SQ20122012684
公开日2012年10月17日 申请日期2012年3月29日 优先权日2012年3月29日
发明者丁国栋, 何跃齐, 刘桂林, 吴金然, 喻智宏, 宋毅, 崔少楠, 张义鑫, 徐文, 李道全, 李金龙, 赵华伟 申请人:北京城建设计研究总院有限责任公司