专利名称：用于测试陶瓷表面贴装元件及其它电子元件的接触器组合装置的制作方法
技术领域：
本发明总体上涉及微型电子电路元件的批处理，包括无源元件、二端元件、陶瓷电容器、电阻器、电感器、及类似的元件。具体地，其涉及用于与上述元件或其它被测器件(DUT)的一端进行电接触的接触器组合装置，该装置作为用于参数测试目的的批处理的一部分。
2.现有技术在此所感兴趣的电路元件的很小的尺寸使处理变得复杂。通常制造的平行六面体形状的元件具有如0.020″×0.010″×0.010″小的尺寸，或多或少，这些难处理的元件要求适当的设备及精密处理技术。有时被称作“载体极板”的东西在间隔开的位置垂直支撑上千个元件，每一元件的末端被涂以导电材料以产生电端子。在增加端子后，“测试极板”支撑大批元件以移动通过测试系统的接触器组合装置，从而用于参数测试目的及最后的归类。每一这些元件的有意义的设计均促进了有效的处理。对于一些现有技术中的元件处理系统和测试技术的例子，可参考美国专利申请6,204,464、6,294,747、6,194,679、6,069,480、4,395,184、4,669,416。
在此特别感兴趣于接触器组合装置。其为具有电触头的装置，电触头在测试极板移动DUT通过接触器组合装置时与DUT端子接触。其之所以接触是为了完成测试电路。一个问题是接触DUT端子不当可在物质上损坏端子。其还可能产生很弱的电接触，这会使测试结果降级。
现有的生产测试仪通常使用“滑动触头”和/或“滚动触头”来执行上面提及的电及机械功能。在电方面，触头应在测试元件和DUT端子之间耦合测试信号，在某种意义上提供足够准确的电测试。在机械方面，触头应用足够的力压靠DUT端子以获得较好的电接触，尽管在DUT端子的表面上通常存在非导电氧化层。足够的力使得触头(如滑动板弹簧型的触头)前进穿过氧化层到达位于下面的DUT端子的导电层，且这还减小了触头和DUT端子之间的电阻。
问题在于强迫触头靠向DUT端子可能在UT端子的表面留下痕迹或擦痕。元件的终端用户通常将这样的擦痕认作为缺陷。另一方面，不能获得良好的电接触将使测试结果降级。在这些方面电学和机械功能是冲突的，现有的接触器组合装置设计在减轻这种冲突方面取得了不同程度的成功。因而，致力于微电路元件的批处理的制造商寻求接触器组合装置设计的改进，从而需要更好的接触器组合装置。

发明内容
本发明致力于上面所关注的，其提供一具有至少三个并排关系的可独立移动触头的接触器组合装置，触头被弹压向DUT端子。三个触头有助于确保至少其中的两个与DUT端子接触，以得到较低的与DUT的有效串联阻抗(ESR)串联的串联阻抗。优选实施例实现了在正常的行程范围内(如1-3毫米)用恒力进行弹压，以减轻所关注的擦伤。
图解的实施例实现了前述及更多的内容。薄的并排叶片形式的滑动触头还是多触头的实施更容易，其中叶片具有朝向DUT端子布置的前边缘。在触头之间的绝缘层使触头之间相互隔离，以能够使用Kelvin测量技术。三个触头的中间一个可被保持在保护电位以有助于平衡泄漏电流，且叶片的数量也可被增加超过三个以使它们能更好地与DUT端子的形状一致。该“多点”技术降低或消除了与DUT的串联杂散阻抗，同时，“保护”技术降低或消除了与DUT的并联杂散阻抗效果。对于非常低的阻抗，多点技术工作得很好。对于较高的阻抗，保护技术工作得较好。
为用更准确的语言解释本发明的内容，本发明提供了一种可用在元件测试系统上以与DUT上的端子电接触的接触器组合装置。当元件测试系统移动DUT通过接触器组合装置进行参数测试和作为元件批处理的一部分的最后归类时进行接触。接触器组合装置包括至少三个触头(即三个或更多个触头)，在此称为第一、第二和第三触头。每一触头具有各自的前边缘，即第一、第二和第三前边缘，以用于在DUT移动通过接触器组合装置时与DUT端子进行物理和电接触。三个或更多个触头有助于确保至少两个前边缘与DUT端子接触，以降低或消除与DUT的有效串联阻抗(ESR)串联的杂散串联阻抗(SSI)。
可安装在元件测试系统上的触头支撑结构支撑并排关系的触头，用于第一、第二和第三前边缘移向或远离DUT端子的独立运动。第一弹簧独立于第二前边缘而使第一和第三前边缘偏向DUT端子，第二弹簧独立于第一和第三前边缘而使第二前边缘偏向DUT端子。这种安排有助于进一步确保触头的至少两前边缘挤向DUT端子，从而得到降低的SSI。
因而，本发明减轻了现有接触器组合装置存在的问题。用根据本发明构造的多触头、恒力接触器组合装置直接替代现有的接触器组合装置将大大改善性能。根据本发明构造的多触头、恒力接触器组合装置的四弹簧、十二叶片型的实施例包括由绝缘体隔开的叶片型触头。滚柱(roller)触头和弹簧针(pogo pin)触头也在本发明的范围之内。下面的说明性的附图及详细描述使得本发明的前述及其他目标、特征和优点更加清楚。


图1为根据本发明构造的多触头(contact)、恒力接触器组合装置的双弹簧、八叶片第一实施例的等角投影图，并示出了X-Y-Z笛卡儿坐标系统，以用在描述接触器组合装置中。
图2为第一实施例的侧视图。
图3为第一实施例的分解图。
图4为第一实施例的放大的正视图，其示出了测试系统、测试极板、及概略的DUT，接触叶片与DUT上的端子接触。
图5为闭塞电路简图，其示出了两个与DUT端子接触的相邻触头的触头-端子间阻抗，及触头-触头间阻抗。
图6为源于图5的闭塞电路简图的变换后的闭塞电路简图，其示出了理论测量定义点(definition point)和两个相邻的触头及DUT端子之间的杂散有效的串联阻抗(SSI)。
图7为根据本发明构造的接触器组合装置的四弹簧、十二叶片第二实施例的等角投影图。
图8为第二实施例的侧视图。
图9为在包含图7中的线9-9的垂直面看到的第二实施例的截面图。
图10为第二实施例的放大的正视图。
图11为第二实施例的另一放大的正视图，其示出了十二叶片的一部分。
图12为具有稍微不同的触头支撑结构的、四弹簧、十二叶片第三实施例的分解图，及示出更多组合装置细节并暴露更多叶片间的绝缘体的分解图。
图13为四弹簧、十二叶片第四实施例的分解图，其具有不同的叶片间绝缘体。
图14A为根据本发明构造的接触器组合装置的滚柱型第五实施例的侧视图。
图14B为在包含图14A中的线14b-14b的垂直面中看到的滚柱型第五实施例的截面图。
图14C为在包含图14A中的分段线14c-14c的垂直面中看到的滚柱型第五实施例的截面图。
图14D为滚柱型第五实施例的接触叶片和滚柱组件的放大侧视图。
图14E为在包含图14D中的线14e-14e的垂直面中看到的滚柱组件的另一放大截面图。
图15A为根据本发明构造的接触器组合装置的弹簧针型第六实施例的分解图。
图15B为弹簧针型第六实施例的等角投影图。
图15C为在包含图15B中的线15c-15c的垂直面中看到的弹簧针型第六实施例的截面图。
图15D为在包含图15C中的线15d-15d的垂直面中看到的弹簧针型第六实施例的截面图。
图15E为在包含图15D中的线15e-15e的水平面中看到的弹簧针型第六实施例的截面图。
图15F为在包含图15D中的线15f-15f的水平面中看到的弹簧针型第六实施例的截面图。及图15G为在包含图15F中的线15g-15g的垂直面中看到的弹簧针型第六实施例的截面图。
具体实施例方式
图1-4示出了根据本发明构造的接触器组合装置10的各个方面，该装置具有三个或更多触头，以确保至少其中的两个能与被测器件(DUT)的端子接触。接触器组合装置10包括八个触头。它们均是狭窄形式的滑动触头，导电叶片11-18(如金属)由触头支撑结构19(如绝缘塑料)支撑。所有八个叶片11-18均在图3和图4中标明，而在图1中仅标明了八个叶片触头的两个，在图2中也仅标明了两个。尽管图示的触头支撑结构19由不导电材料构成，在所公开的更宽的发明概念内其也可由导电材料构成，且附图也适用这些备选方案。当由导电材料构成时，其被保持在保护电位或接地电位。
叶片11-18的每一个均具有各自的前边缘21-28(在图1和4中标明)。前边缘21-28用于与图4中所示的DUT30上的端子29进行物理和电接触。接触在测试系统32(在图4中概略地示出)的测试极板元件31使DUT30移动而越过接触器组合装置10时出现。图4中的虚线33示意性地指示接触器组合装置10到测试系统32的物理和电连接，而虚线34指示以现有方式通过测试极板31使DUT30越过接触器组合装置10的物理支撑和运动，实线35指示测试极板31是测试系统32的一部分。触头支撑结构19安装在测试系统32上，作为用于支撑元件测试系统32上的叶片11-18的装置，同时，第一和第二端子36和37(图3)将叶片11-8电连接到测试系统32。
如图所示，八个叶片11-18包括四个较大的叶片11-14，较大的叶片与四个较小的叶片15-18呈交错插入的邻近并排关系。它们通过叶片支撑结构19和销38及39保持前述关系。这种安排使得叶片11-18的全部宽度(平行于X轴测量)可与端子29的宽度比较(例如，对于该大小的DUT端子宽度，全部叶片宽度为1.0到5.0毫米)，且这有助于在通过至少两个叶片的前边缘测试期间确保端子29的多重接触。此外，在DUT30移动越过接触器组合装置10(例如，它们关于销38轻微地转动)时，对于朝向和远离DUT30上的端子29的独立运动，叶片11-18可以并排关系被可移动地支撑在触头支撑结构19上。叶片11-18平行于Y轴独立移动，这有助于它们与端子31的形状一致。它们通常在Y方向行进约1-3毫米以适应典型的DUT端子的形状变化，该行程量在此被称为行程的正常范围。
接触器组合装置10包括第一和第二板弹簧40和41，它们被使用绝缘螺钉42(如塑料)及绝缘垫圈43以绝缘的关系保持在触头支撑结构19上。第一和第二弹簧40和41用作使前边缘21-28偏向DUT端子29的弹簧装置。第一弹簧40向较大的叶片11-14施压，从而弹簧使得较大的叶片11-14的前边缘22、24、26和28偏向独立于前边缘21、23、25和27的DUT端子29。类似地，第二弹簧向较小的叶片15-18施压，从而弹簧使得较小的叶片15-18的前边缘21、23、25和27偏向独立于前边缘22、24、26和28的DUT端子29。对于上面提及的1-3毫米的行程的正常范围，第一和第二板弹簧40和41仅仅沿相比于它们的长度(例如，20-25毫米，平行于Z轴测量的到螺钉42的距离)的一短弧稍微移动，从而它们可以说发挥了与叶片11-18相逆的相对恒力(例如，在整个行程范围内，与叶片相逆的力的变化小于其最大值的10％)。
现有的电路理论阐释了由接触器组合装置10获得的降低的SSI。图5和6中的点A代表DUT端子29。点B代表叶片12的前边缘24(即两个邻近的触头中的第一个)，点C代表叶片17的前边缘28(即两个邻近的触头中的第二个)。图5中的Zab代表前边缘24和DUT端子29之间的串联阻抗，图5中的Zac代表前边缘28和DUT端子29之间的串联阻抗。Zbc代表两个前边缘24和28之间的阻抗(例如，两个邻近的叶片12和17之间的阻抗)。
杂散串联阻抗(SSI)通过执行从图5到图6的阻抗变换而确定。在点0(理论测量定义点)和点A(DUT端子的表面)之间确定的SSI(Z1)计算自触头阻抗Zab和Zac及点B(第一叶片12)和点C(第二叶片17)之间的阻抗Zbc。Zbc可以是叶片间的变量或常量值，如10欧姆电阻器。例如，值Z1可计算如下Z1=Zab×ZacZab+Zab+Zbc]]>等式1对于从图6到图5的反变换阻抗值可计算如下Zab=Z1+Z2+Z1+Z2Z3]]>等式2前述的考虑表明接触器组合装置10的杂散串联阻抗(SSI)非常少，且测量也证实了这一点。
接下来将考虑图7-11。它们示出了本发明的第二实施例即四弹簧、十二叶片形式的接触器组合装置100的各个方面。接触器组合装置100在某些方面类似于接触器组合装置10，因此仅进一步详细描述不同的地方。为了方便，标明接触器组合装置100的各部分的附图标记在标明接触器组合装置10的类似或相关部分的附图标记上增加100。
类似于接触器组合装置10，接触器组合装置100包括触头支撑结构，用于支撑图4中所示的测试系统32上的至少三个触头中的多个。然而，触头支撑结构被装配成不同的结构且其支撑12个叶片，以进一步有助于确保与DUT端子29的良好接触。触头支撑结构包括可在图7-10中识别的第一部分119a，其与可在图7、9、10中识别的第二部分119b和可在图7、8、10中识别的第三部分119c使用可在图8中识别的第一、第二和第三销119d、119e和119f装配在一起。当装配在一起时，第二和第三部分119b和119c支撑其间的四个弹簧101、102、103和104(图7-10)，使得四个弹簧101-104向十二个叶片101a-c、102a-c、103a-c和104a-c施压。在图7和8中只有叶片101a可识别，在图9中只有叶片103b可识别，在图11中可识别所有十二个叶片。在图10和11中可识别前边缘105a-1051。为了适应DUT端子29的形状的变化，当叶片关于布置在销119d上的绝缘衬套107(图9)转动时，它们向图4中的DUT端子29施压。
接触器组合装置100包括绝缘体元件，该元件位于十二叶片的邻近叶片之间及最外面的叶片和触头支撑结构的第一部分119a之间。在图9中只有一个绝缘体元件(绝缘体元件106)可以看见。当然，绝缘也可换由某些或所有叶片上的绝缘涂层提供，正好只有叶片的前边缘105a-1051暴露以使它们能够与DUT端子电接触。除了前面所述的，第二和第三部分119b和119c结合以形成内螺纹接头(femaleconnector)150(图7-10)，其用于将四个弹簧101-104(因而十二叶片)电连接到图4中所示的测试系统32，同时，第一部分119a包括凸出体151和152，其用于在将接触器组合装置100安装在测试系统32上时使接触器组合装置100适当地排列。
现在考虑图12。其示出了第三实施例，即四弹簧、十二叶片形式的接触器组合装置200。接触器组合装置200在结构和功能上类似于接触器组合装置100，接触器组合装置200具有稍微不同的触头支撑结构。同样，图12有助于进一步图示上述的接触器组合装置100的各部分的关系。为了方便，标明接触器组合装置200的各部分的附图标记在标明接触器组合装置100的类似或相关部分的附图标记上增加100。
类似于接触器组合装置100，接触器组合装置200包括触头支撑结构，用于支撑图4中所示的测试系统32上的至少三个触头(十二叶片型触头)中的多个。触头支撑结构包括第一、第二和第三部分219a、219b和219c，它们使用销219d、219e装配在一起，以支撑四个弹簧201、202、203和204。四个弹簧中的每一个向十二叶片中的不同叶片施压，且叶片由绝缘体元件206a-206m隔离。十二叶片关于同轴装配在销219d上的绝缘衬套207转动。在装配时，触头支撑结构的第二和第三部分219b和219c形成类似于接触器组合装置100的内螺纹接头150的内螺纹接头250。除那些相似性之外，触头支撑结构的第一部分219a包括不同形状的凸出体251和252，为排列成行，二者在测试机上接合成啮合结构。
现在转到图13，其示出了第四实施例，即四弹簧、十二叶片形式的接触器组合装置300。接触器组合装置300在结构和功能上类似于接触器组合装置200。二者的主要区别在于不同的绝缘体排列。为了方便，标明接触器组合装置300的各部分的附图标记在标明接触器组合装置200的类似或相关部分的附图标记上增加100。
类似于接触器组合装置200，接触器组合装置300包括触头支撑结构，用于支撑图4中所示的测试系统32上的至少三个触头(十二叶片型触头)中的多个。触头支撑结构略不同于接触器组合装置200的触头支撑结构，其包括装配在一起的第一、第二、第三、第四部分319a、319b、319c和319d。触头支撑结构的元件319c和319d在适当位置支撑四个弹簧301、302、303和304，以施压并使弹簧因而偏向十二叶片的不同叶片，在图13中只能识别两个叶片305和306。
叶片由绝缘体元件隔离，其中在图13中仅可识别绝缘体306a和306b。与接触器组合装置200的绝缘体不同，接触器组合装置300的绝缘体(包括绝缘体306a和306b)均为适当的、不导电成分的圆形、垫圈状的元件。绝缘体对被提供在邻近的叶片之间及最外面的叶片和触头支撑结构的元件319a和319b之间，从而获得增加的叶片稳定性，如叶片305a和305b之间的绝缘体对306a和306b所示。绝缘体的厚度可被选择以在叶片间获得需要的间距从而用于特定的应用(如，与阵列组件上的多端子接触)。
图14a-14e示出了第五实施例的细节，该实施例为滚柱型接触器组合装置400。接触器组合装置400在许多方面类似于接触器组合装置300，主要区别在于叶片上的滚柱，其将滑动型接触器(如接触器组合装置300)转换为滚柱型接触器组合装置400。为了方便，标明接触器组合装置400的各部分的附图标记在标明接触器组合装置300的类似或相关部分的附图标记上增加100。
类似于接触器组合装置300，接触器组合装置400包括触头支撑结构元件419a、419b、419c和419d的结合，其装配在一起以形成触头支撑结构，从而用于支撑四个导电弹簧401、402、403及404和四个导电触头(图14a、14b和14c)。四个触头采取滚柱叶片触头组件406a、406b、406c和406d的形式，其安装用于关于枢轴407(图14b)进行小量的转动移动。弹簧402向叶片405a和405c施压(图14c)以使滚柱叶片组件406a和406c偏向DUT端子(如图4中的DUT端子29)，而弹簧403向叶片405b何405d施压以使滚柱叶片组件406b和406d偏向。弹簧401和404未被使用，对于图14a-14e中所示的滚柱叶片排列，这两个弹簧可从接触器组合装置400中省略。
滚柱叶片触头组件406a-406d在总体上是类似的，因此仅对滚柱叶片触头组件406a的细节参考图14d和14e进行进一步详细描述。滚柱叶片组件406a包括两个导电滚柱408a和408b(如铍青铜)，其被使用安装元件408c和轮轴元件408d安装在叶片405a上(如，同样是铍青铜)，以关于旋转轴408e旋转。由于滚柱408a和408b的外圆周421和422(图14e)与经过的DUT端子接触(例如，图4中的DUT端子29)，滚柱408a和408b关于旋转轴408e旋转，使得它们滚过DUT端子，而不是滑过。外圆周421和422是滚柱叶片组件406a的前边缘，与可在图4中识别的接触器组合装置10的前边缘21-28及可在图11中识别的接触器组合装置100的前边缘105a-1051相似。
图15a-15f示出了第六实施例，即弹簧型的接触器组合装置500。接触器组合装置500在某些方面类似于已经描述的接触器组合装置，主要区别在于弹簧针叶片。附图标记均以5为首位。
接触器组合装置500包括触头支撑结构519，其支撑四个导电弹簧针叶片505a、505b、505c和505d。弹簧针叶片505a和505b用导电条541连接在一起(图15a)，而弹簧针505c和505d用导电条542连接在一起。弹簧针叶片505a-505d由触头支撑结构519可移动地支撑，使得可在图15a、15c、15d和15g中识别的前边缘521、522、523和524可移向和远离DUT端子(例如，图4中的DUT端子29)。由图15c中的箭头551代表的适当的弹簧偏置元件被用恒力使得弹簧针叶片505a和505b偏向DUT端子，而由图1 5c中的箭头552代表的其他弹簧偏置元件使弹簧针505c和505d偏向DUT端子。在叶片的行程范围内的力量变化应小于其最大值的10％。到弹簧针叶片的电连接使用弹簧偏置元件来实现。
因此，本发明提供了具有至少三个呈并排关系的独立可移动触头的接触器组合装置，这些触头被弹簧压向DUT端子。对于较低的杂散串联阻抗(SSI)，三个触头有助于确保至少其中的两个与DUT端子接触。优选实施例实现了在正常行程范围内使用恒力进行弹簧偏置以减轻擦伤。薄的并排叶片形式的滑动触头还使实施多触头更加容易，其中叶片具有朝向DUT端子布置的前边缘。触头之间的绝缘层使触头相互隔离以能够使用Kelvin测量技术，其包括具有在同一电势的多个触头的绝缘测量电路(如Kelvin和/或保护电路)。三个触头中的中间一个可被保持在保护电势，以帮助平衡泄漏电流。叶片的数量可被增加而超过三个，使得它们可更好地与DUT端子的形状一致，且在驱动和感应触头之间可放置可控制的阻抗，从而使得即使在触头之一失败时测试电路仍能工作。此外，使用根据本发明构造的多触头、恒力接触组合装置直接替换现有的接触器组合装置将大大改善性能。而且，该技术适合于任何端子接触应用，包括接触街车电力线、接触可再充电电池上的端子，等等。尽管已示出和描述了示例性的实施例，但本领域的普通技术人员可在不脱离本发明的实质和范围的情况下做出许多变化、修改和替代。
权利要求
1.一种可用在元件测试系统上的接触器组合装置，用于在元件测试系统移动被测器件通过接触器组合装置时与被测器件上的端子电接触，接触器组合装置包括至少三个具有前边缘的触头，前边缘用于在元件测试系统移动被测器件通过接触器组合装置时与被测器件上的端子进行物理和电接触，包括具有第一前边缘的第一触头、具有第二前边缘的第二触头、及具有第三前边缘的第三触头；可安装在元件测试系统上的触头支撑结构，用于以并排关系支撑触头，用于在被测器件移动通过接触器组合装置时第一、第二和第三前边缘移向或远离被测器件上的端子的独立运动；及用于弹压第一、第二和第三前边缘朝向被测器件上的端子的装置。
2.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中用于弹压第一、第二和第三前边缘朝向被测器件上的端子的装置包括至少两个适于弹压第一、第二和第三前边缘朝向被测器件上的端子的弹簧；至少两弹簧的第一弹簧被安排成独立于第二前边缘而弹压第一和第三前边缘朝向被测器件上的端子；及至少两弹簧的第二弹簧被安排成独立于第一和第三前边缘而弹压第二前边缘朝向被测器件上的端子。
3.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中用于独立弹压第一、第二和第三前边缘朝向被测器件上的端子的装置包括第一和第二板弹簧，其被安排成在前边缘的正常行程范围内使用恒力弹压第一、第二和第三前边缘。
4.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中第一、第二和第三触头具有小于被测器件上的端子的宽度特性的组合宽度。
5.根据权利要求1所述的接触器组合装置，还包括用于使触头相互电绝缘的装置。
6.根据权利要求5所述的接触器组合装置，其中用于使触头相互电绝缘的装置包括至少部分触头上的非导电涂层。
7.根据权利要求5所述的接触器组合装置，其中用于使触头相互电绝缘的装置包括至少第一和第二绝缘元件，第一绝缘元件放置在第一和第二触头的中间，第二绝缘元件放置在第二和第三触头的中间。
8.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中第一、第二和第三触头为滑动触头。
9.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中第一、第二和第三触头为滚动触头。
10.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中第一、第二和第三触点为弹簧单高跷式触头。
11.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中触头支撑结构由非导电材料构成。
12.根据权利要求1所述的接触器组合装置，其中触头支撑结构由导电材料构成。
13.一种用于与端子电接触的接触器组合装置，包括至少三个具有前边缘的触头，前边缘用于与端子进行物理和电接触，包括具有第一前边缘的第一触头、具有第二前边缘的第二触头、及具有第三前边缘的第三触头；用于以并排关系支撑触头的装置，用于第一、第二和第三前边缘移向或远离端子的独立运动；及用于弹压第一、第二和第三前边缘朝向端子的装置。
全文摘要
可用在元件测试系统上的接触器组合装置，用于与被测器件(DUT)上的端子电接触，以进行参数测试及作为元件批处理的一部分的最后的归类。提供至少三个触头以帮助确保至少其中的两个与DUT端子接触，每一触头具有用于与DUT端子物理及电接触的前边缘。可安装在元件测试系统上的触头支撑结构以并排关系支撑触头，用于第一、第二和第三前边缘移向或远离DUT端子的独立运动；第一弹簧独立于第二前边缘而使第一和第三前边缘偏向DUT端子，第二弹簧独立于第一和第三边缘而使第二前边缘偏向DUT端子，从而有助于确保触头的至少两个前边缘支撑DUT端子，以降低杂散串联阻抗(SSI)。根据本发明构造的多触头、恒力接触器组合装置的四弹簧、十二叶片型的实施例包括由绝缘体隔开的叶片型触头，其能够在保护电位支撑至少一个叶片。滚柱触头和弹簧针触头也在本发明的范围之内。
文档编号G01R1/02GK1643387SQ03805738
公开日2005年7月20日 申请日期2003年1月22日 优先权日2002年3月14日
发明者克里斯蒂安·R.·索尼耶, 詹姆斯·G.·加斯克, 曼努埃尔·A.·加拉尔多 申请人:陶瓷元件技术公司