专利名称：硅片线痕测量的测试头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种太阳能精密测量工具，特别是硅片线痕测量的测试头。
背景技术：
光伏电池的生产是以硅片为基底，在生产过程中往往要对硅片的厚度进行检测，目前现有测量设备主要是由测微螺杆、螺母套管、微分筒、固定套管、测砧、锁紧装置、尺架和棘轮旋柄构造而成千分尺，使用时，将被测物体放在表面平整的平面上，选择合适量程的千分尺，当千分尺的两个测量面与被测表面快接触时，就停止转微分筒，而改旋转测力装置，使两接触面与被测面相接触，等到发出“咔咔”的三声后，即可进行读数。但是，以目前普通千分尺的测微螺杆(平面)和测砧(平面)很难深入一些敞口较窄、深度较深的位置进行测试，而且目前公知的千分尺测试头也需要配套的千分尺才可以， 存在局限性。
发明内容本实用新型的目的是为了解决上述现有技术的不足而提供一种结构简单、方便测量的硅片线痕测量的测试头。为了实现上述目的，本实用新型所设计的硅片线痕测量的测试头，包括测试头本体，其特征是所述的测试头本体为空腔结构，其前端为尖头结构。其尖端部分的角度可以根据情况而设置。所述的测试头本体上设有螺纹孔及与螺纹孔相配合的螺丝。测试时可通过螺丝将测试头固定在千分尺的测砧上。本实用新型得到的硅片线痕测量的测试头，克服现有千分尺无法深入测量敞口较为狭窄的物件，以及目前千分尺测试的局限性，而且能方便的安装在普通千分尺上，对硅片进行方便测量。

图I是实施例的使用状态整体结构示意图；图2是测试头结构示意图。图中千分尺I、尺架2、测微螺杆3、微分筒4、棘轮旋柄5、测砧6、螺纹孔7、螺丝
8、测试头本体9。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。实施例，如图2所示，本实施例提供的硅片线痕测量的测试头，包括测试头本体9，所述的测试头本体9为空腔结构，其前端为尖头结构。为了方便与千分尺固定，所述的测试头本体9上设有螺纹孔7及与螺纹孔7相配合的螺丝8。如图I所示，使用时，通过螺丝8将测试头固定在千分尺I的测砧6上，千分尺I包括测砧6、测微螺杆3、尺架2、微分筒4和棘轮旋柄5，测砧6和测微螺杆3固定在尺架2的内壁，且位于同一轴线上，在与其同一轴线的尺架2外壁固定有微分筒4和棘轮旋柄5，两者通过旋转控制测微螺杆3，棘轮旋柄5位于微分筒4外端，测试头本体9前端的制作可以制作成与现有的公知的形状，测试头前端的角度可根据硅片的不同而设置，测试头本体9 装在测砧6上，测试头本体9上设有螺纹孔7和螺丝孔配合的螺丝8，测试头本体9通过螺丝8固定在测砧6上。对于本实用新型可以方便的将测试头本体9安装于普通千分尺上，同时使普通的千分尺也可以测量各类超薄物体，有效的检测硅片线痕等隐性不良状况，减少不良品。
权利要求1.一种硅片线痕测量的测试头，包括测试头本体(9)，其特征是所述的测试头本体(9)为空腔结构，其前端为尖头结构。
2.根据权利要求I所述的硅片线痕测量的测试头，其特征是所述的测试头本体(9)上设有螺纹孔(7 )及与螺纹孔(7 )相配合的螺丝(8 )。
专利摘要本实用新型公开了一种硅片线痕测量的测试头，包括测试头本体，其特征是所述的测试头本体为空腔结构，其前端为尖头结构。其尖端部分的角度可以根据情况而设置。所述的测试头本体上设有螺纹孔及与螺纹孔相配合的螺丝。测试时可通过螺丝将测试头固定在千分尺的测砧上。本实用新型得到的硅片线痕测量的测试头，克服现有千分尺无法深入测量敞口较为狭窄的物件，以及目前千分尺测试的局限性，而且能方便的安装在普通千分尺上，对硅片进行方便测量。
文档编号G01B5/00GK202494408SQ20122013517
公开日2012年10月17日 申请日期2012年4月1日 优先权日2012年4月1日
发明者丁杰, 于才华, 袁前程, 韩波 申请人:宁波升科太阳能股份有限公司