专利名称：远距离材料成分分析装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种远距离材料成分分析装置，属材料分析设备技术领域。
背景技术：
当X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，受激发的样品中的每ー种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性。探測系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，已成为ー种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，并且具有分析速度快、測量范围宽、干扰小的特点。 现在市场上的大部分光谱分析仪器只能对近距离材料进行分析，对设备狭小空间内不能近距离接触的构件及ー些有毒有害不能近距离接触的粉末、液体等材料物质不能准确有效的进行确定，主要原因是激发出材料元素的特征X射线，正常工作吋，X射线管所消耗功率的O. 2%左右转变为X射线辐射，其余均变为热能，距离越大X射线衰减的越厉害，使半导体探測器接受到的二次X射线能量不足以进行分析。本装置利用エ业X射线发射器能发射能量持续较强X射线，经探測器、放大器、多道脉冲分析器、计算机分析，实现远距离材料成分检测。发明内容本实用新型的目的是，根据现有的光谱分析仪器只能对近距离材料进行分析，而对设备狭小空间内不能近距离接触的构件及ー些有毒有害不能近距离接触的粉末、液体等材料物质不能准确有效的进行确定的问题，本实用新型公开ー种远距离材料成分分析仪装置，能对设备狭小空间内不能近距离接触的构件进行准确分析其材料成分；同吋，对ー些有毒有害不能近距离接触的粉末、液体等物质也能对其成分做出准确判定。本实用新型的技术方案是，本实用新型装置由エ业X射线发射器I、半导体探測器
2、放大器3、多道脉冲分析器4、计算机5组成；半导体探測器2通过放大器3连接多道脉冲分析器4 ;多道脉冲分析器4连接计算机5 ;エ业X射线发射器发射X射线至被检试样，被检试样反射的二次X射线由半导体探測器2接收。エ业X射线发射器I用于发射X射线，由于其能量大，其发射的X射线能激发被检测试样中元素产生二次X射线，而每ー种元素对X射线反射形成的二次X射线的能量和脉冲不同；半导体探測器用于接收二次X射线；放大器用于对半导体探測器接收得到的信号进行放大；多道脉冲分析器对放大后的脉冲信号，按脉冲幅度的大小统计脉冲数得到计数率随光子能量变化的分布曲线一能谱图；计算机用于对能谱图进行校正。由于エ业X射线发射器具有足够大的能量，エ业X射线发射器向被检试样发射X射线后，激发被检测试样中元素产生二次X射线，半导体探測器接收到二次X射线，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器，按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度可以用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正，然后显示出来。从而实现远距离对被检试样材料进行成分分析。本实用新型与现有技术比较的有益效果是，通过本装置可以实现远距离材料成分分析，能对设备狭小空间内而不能近距离接触的构件进行准确分析其材料成分；同时，对ー些有毒有害不能近距离接触的粉末、液体等物质也能对其成分做出准确判定。本实用新型适用于远距离材料成分分析。
图I是本实用新型结构布置示意图；图中，I是エ业X射线源；2是半导体探測器；3是放大器；4是多道脉冲分析器；5是计算机；6是被检试样。
具体实施方式

·[0016]本实用新型的具体实施方式
如图I所示。本实施例远距离材料成分分析装置，由エ业X射线发射器I、半导体探測器2、放大器3、多道脉冲分析器4、计算机5组成。本实施例远距离材料成分分析装置的エ业X射线发射器发射X射线至被检试样，被检试样反射的二次X射线由半导体探測器2接收。エ业X射线发射器产生足够大的能量，激发被检测试样中元素产生二次X射线，通过半导体探測器，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，经放大器放大后送到多道脉冲分析器，按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数，脉冲幅度用X光子的能量标度，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正，然后显示出来。
权利要求1.ー种远距离材料成分分析装置，其特征在于，所述装置由由エ业X射线发射器(I)、半导体探測器(2)、放大器(3)、多道脉冲分析器(4)、计算机(5)组成；半导体探測器(2)通过放大器(3)连接多道脉冲分析器(4);多道脉冲分析器(4)连接计算机(5);エ业X射线发射器发射X射线至被检试样，被检试样反射的二次X射线由半导体探測器(2)接收。
专利摘要一种远距离材料成分分析装置，该装置由工业X射线发射器(1)、半导体探测器(2)、放大器(3)、多道脉冲分析器(4)、计算机(5)组成。工业X射线发射器发射X射线至被检试样，被检试样反射的二次X射线由半导体探测器(2)接收，得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲，从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线，即X光能谱图，经计算机进行校正，然后显示出来。从而实现远距离对被检试样材料进行成分分析。通过本装置可实现远距离材料成分分析，能对设备狭小空间内而不能近距离接触的构件准确分析其材料成分；同时，对一些有毒有害不能近距离接触的粉末、液体等物质也能对其成分做出准确判定。本实用新型适用于远距离材料成分分析。
文档编号G01N23/223GK202442978SQ20122004880
公开日2012年9月19日 申请日期2012年2月16日 优先权日2012年2月16日
发明者张洲全, 涂湛, 熊文, 赵康文 申请人:江西省电力科学研究院