专利名称：一种用于合套仪轴承内圈尺寸测量的工件的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种工件，尤其是一种用于合套仪轴承内圈尺寸测量的工件。
背景技术：
滚珠轴承在合套前，需要测量轴承内圈的外径及外圈的内径，从而根据这个数据来计算配套的滚珠的尺寸范围，并选择合适的滚珠，从而完成合套的工序。目前市场上有一类合套仪，此类合套仪的调整距离是固定的，因而测量范围也是固定的，而测量范围与工件的结构也存在较大的关系，图1是现有技术的合套仪轴承内圈外径测量原理图，如图1所示，一个测量点和两个支撑点构成了三点定位，测量点和支撑点之间可调整的垂直距离即为可测量的轴承内圈外径的尺寸范围。现有技术的工件的支承架设计通常是支承点在固定点上面，因而导致测量范围较窄。

实用新型内容本实用新型针对上述问题，为了解决由于工件的结构导致合套仪测量范围变窄的问题，目的在于提供一种用于合套仪轴承内圈尺寸测量的工件，能够扩大合套仪轴承内圈外径的尺寸测量范围。为达到上述目的，本实用新型的技术方案是一种用于合套仪轴承内圈尺寸测量的工件，包括支承架底座、测量架底座，支承架底座上设置有第一螺丝孔、第二螺丝孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔、第一支承球、第二支承球，其中第一螺帽孔位于第一螺丝孔外侧，第二螺帽孔位于第二螺丝孔外侧，第一支承球、第二支承球分别位于第一螺丝孔、第二螺丝孔下方；测量架底座上设置有测量球、第三螺丝孔及第三螺帽孔，第三螺帽孔位于第三螺丝孔外侧。本实用新型的有益效果是由于上述工件的支承架上设置的支承球位于螺丝孔的下方，因而加大了测量球与支承球之间的垂直距离，于是进一步的扩大了合套仪轴承内圈外径的尺寸测量范围。

图1为现有技术的现有技术的合套仪内圈外径测量原理图；图2为本实用新型的合套仪轴承内圈外径测量原理图；图3为本实用新型的支承架底座主视图；图4为本实用新型的支承架底座左视图；图5为本实用新型的测量架底座主视图；图6为本实用新型的测量架底座左视图。
具体实施方式
以下结合附图，并结合实施例，对本实用新型做进一步的说明。[0014]如图3、图4、图5、图6所示，本实用新型一种用于合套仪轴承内圈尺寸测量的工件，包括支承架底座1、测量架底座8，支承架底座I上设置有第一螺丝孔3、第二螺丝孔5、第一螺帽孔2、第二螺帽孔4、第一支承球6、第二支承球7，其中第一螺帽孔2位于第一螺丝孔3外侧，第二螺帽孔4位于第二螺丝孔5外侧，第一支承球6、第二支承球7分别位于第一螺丝孔3、第二螺丝孔5下方；测量架底座8上设置有测量球9、第三螺丝孔10及第三螺帽孔11，第三螺帽孔11位于第三螺丝孔10外侧。本实用新型的工作原理为如图2所示，用带螺帽的螺丝将支承架底座I安装到合套仪上，其中第一螺丝孔3、第二螺丝孔5所在的位置即为固定点，第一支承球6、第二支承球7所在的位置即为支承点，固定点所在的位置高于支承点；用带螺帽的螺丝将测量架底座8安装到合套仪上，测量球9所在的位置即为测量点，第三螺丝孔10所在的位置即为固定点，固定点在测量点之上。测量架底座8的位置高于支承架底座I。将轴承内圈放在支撑架底座I的第一支承球6、第二支承球7上，再用带螺帽的螺丝将测量架底座8安装到合套仪上，通过移动测量架底座I将测量球9接触到轴承内圈，此时即可从合套仪上读出轴承内圈的数据。
权利要求1.一种用于合套仪轴承内圈尺寸测量的工件，包括支承架底座(I)、测量架底座(8)，其特征在于支承架底座(I)上设置有第一螺丝孔(3)、第二螺丝孔(5)、第一螺帽孔(2)、第二螺帽孔(4)、第一支承球￠)、第二支承球(7)，其中第一螺帽孔(2)位于第一螺丝孔(3)外侧，第二螺帽孔(4)位于第二螺丝孔(5)外侧，第一支承球￠)、第二支承球(7)分别位于第一螺丝孔(3)、第二螺丝孔(5)下方；测量架底座(8)上设置有测量球(9)、第三螺丝孔(10)及第三螺帽孔(11)，第三螺帽孔(11)位于第三螺丝孔(10)外侧。
专利摘要本实用新型公开了一种用于合套仪轴承内圈尺寸测量的工件，包括支承架底座、测量架底座，支承架底座上设置有第一螺丝孔、第二螺丝孔、第一螺帽孔、第二螺帽孔、第一支承球、第二支承球，其中第一螺帽孔位于第一螺丝孔外侧，第二螺帽孔位于第二螺丝孔外侧，第一支承球、第二支承球分别位于第一螺丝孔、第二螺丝孔下方；测量架底座上设置有测量球、第三螺丝孔及第三螺帽孔，第三螺帽孔位于第三螺丝孔外侧。由于上述工件的支承架上设置的支承球位于螺丝孔的下方，因而加大了测量球与支承球之间的垂直距离，于是进一步的扩大了合套仪轴承内圈外径的尺寸测量范围。
文档编号G01B5/08GK202836450SQ20122039084
公开日2013年3月27日 申请日期2012年8月7日 优先权日2012年8月7日
发明者王慧霞, 吕晓春, 杨辉, 陈超, 赵达江 申请人:浙江胜坚轴承机械有限公司