专利名称：非挥发性存储器的测试方法
技术领域：
本发明涉及一种非挥发性存储器的测试方法，特别涉及一种测试非挥发性存储器是否写入客户所指定的程序码的方法。


图1为公知测试方法的流程图。于步骤101，公知测试流程启始。于步骤102，进行产品接脚(pin)的断路/短路测试(open/short test)。若通过(pass)该测试，则进入步骤103；否则进入步骤106，将该非挥发性存储器归入第二柜(binning 2)。于步骤103中，进行该非挥发性存储器的逻辑功能测试(function test)。若通过该测试，则进入步骤104；否则进入步骤106，将该非挥发性存储器归入第三柜(binning 3)。在步骤104中、进行非挥发性存储器的电除特性测试(erase/program test)，以判断该非挥发性存储器内的资料是否可被电除且再写入新资料。若通过该测试，则进入步骤105；否则，进入步骤106，将该非挥发性存储器归入第四柜(binning 4)。于步骤105中，进行程序码测试，将写入该非挥发性存储器的程序码读出并与该写入程序码作一对比，以判断该非挥发性存储器的读写动作是否正确。若通过该测试，则进入步骤106，将该非挥发性存储器归入第一柜(binning 1)；否则将该非挥发性存储器归入第五柜(binning 5)。步骤106是将每一个测试结束的存储器进行分类。于步骤107，公知测试流程结束。
换言之，公知测试方法仅检测非挥发性存储器的接脚断路/短路、逻辑功能、电除特性及读写功能，却无法进一步针对是否写入客户所指定的程序码进行测试。例如在读写测试时，若测试机台的控制程序抓错客户所指定的程序码时，由于其动作仅将程序码写入该非挥发性存储器，然后又读出而进行对比，因此仍可能得到测试通过的结论。
本发明的另一目的在提供一种非挥发性存储器的测试方法，可同时检测该测试机台控制程序是否抓取正确的客户指定程序码及该测试机台的工作环境是否设定正确。
为达成上述目的，本发明公开一种非挥发性存储器的测试方法，其特征在于预先将客户所指定的程序码写入至少一非挥发性存储器，且剪除该非挥发性存储器的写入致能(enable)接脚以避免误写入。在测试机台重新启动后，读取该非挥发性存储器的程序码且和测试机台控制程序所抓取的程序码进行比较。若相同则代表测试机台控制程序所抓取的程序码是正确的，反之则不正确。本发明还将至少一已被验证为正确的非挥发性存储器于该测试机台重新启动后进行测试。若通过测试，代表该测试机台设定正确，反之则不正确。
本发明公开的测试方法，除了可以测试非挥发性存储器的接脚断路/短路、逻辑功能、电除特性及读写功能之外，也同时可以测试出写入该非挥发性存储器的程序码是否确为客户所指定的程序码。
具体地讲，本发明公开一种非挥发性存储器的测试方法，它包含下述步骤(a)制作第一型关联样品及第二型关联样品；该第一型关联样品是写入客户指定程序码的非挥发性存储器，且一特定接脚被剪除；该第二型关联样品是经验证为正确的非挥发性存储器；(b)在测试机台重新启动后，进行第一型关联样品及第二型关联样品的该特定接脚断路测试；若为断路则进入步骤(c)，否则进入步骤(d)；(c)读取该第一型关联样品的程序码且和该测试机台控制程序所抓取的程序码进行对比；若对比结果是相同的，代表该测试机台控制程序所抓取的程序码是正确的；反之代表不正确；及(d)对该第二型关联样品进行测试；若通过测试，代表该测试机台的设定正确；反之代表不正确。
所述的特定接脚是指写入致能接脚。
所述的步骤(d)包含下列步骤(d1)进行接脚断路/短路恻试，若不通过则显示该测试机台的设定不正确；(d2)进行功能测试，若不通过则显示该测试机台的设定，不正确；(d3)进行电除特性测试，若不通过则显示该测试机台的设定不正确；及(d4)进行程序码测试，若不通过则显示该测试机台的设定不正确。
所述的在步骤(d)之后还包含一步骤(e)，是在该测试机台控制程序抓取正确的客户指定程序码且测试机台设定正确的情况下，即进行批量产品的测试。
本发明还公开一种非挥发性存储器的测试方法，应用于测试写入该非挥发性存储器的程序码是否确为客户所指定的程序码，其特征在于预先将客户所指定的程序码写入至少一非挥发性存储器，且剪除该非挥发性存储器的写入致能接脚以避免误写入；在测试机台重新启动后，读取该非挥发性存储器的程序码且和测试机台控制程序所抓取的程序码进行比较；若相同则代表测试机台控制程序所抓取的程序码是正确的，反之则不正确。
所述方法还包含将至少一己被验证为正确的非挥发性存储器于该测试机台重新启动后进行测试；若通过测试，代表该测试机台设定正确，反之则不正确。
本发明的前述和其他目的、优点以及达成方式，根据下列详细说明配合附图将更加清楚。
图2为本发明的测试流程的一实施例。在步骤201，本发明起始。在步骤202，进行EA接脚断路测试，其目的在于分辨第一型关联样品及第二型关联样品。若通过该测试(代表EA接脚没有断路)，则进入步骤207，否则进入步骤203。在步骤203，进行程序码检测，其是将第一型关联样品的程序码读出并与机台控制程序所抓取的程序码作一对比。若对比结果是通过的(OK，下同)，则进入步骤204，显示该机台控制程序所抓取的程序码是正确的。若对比结果是不通过的(NO，下同)，则进入步骤205，显示该机台控制程序所抓取的程序码是错误的。
在步骤207，进行接脚断路/短路测试，由于第一型关联样品已在步骤202被筛选出来，因此仅有第二型关联样品进入本步骤。若通过该测试，则进入步骤208；否则进入步骤211，将该第二型关联样品归入第二柜。于步骤208中，进行该第二型关联样品的逻辑功能测试。若通过该测试，则进入步骤209；否则进入步骤211，将该第二型关联样品归入第三柜。在步骤209中，进行第二型关联样品的电除特性测试，以判断该第二型关联样品内的资料是否可被电除且再写入新资料。若通过该测试，则进入步骤210；否则进入步骤211，将该第二型关联样品归入第四柜。于步骤210中，进行程序码测试，将写入该第二型关联样品的程序码读出并与该写入程序码作一对比，以判断该第二型关联样品的读写动作是否正确。若通过该测试，则进入步骤211，将该第二型关联样品归入第一柜；否则将该第二型关联样品归入第五柜。步骤211是将每一个测试结束的第二型关联样品进行分类。于步骤212，测试流程结束。由于第二型关联样品是己预先验证为正确的非挥发性存储器，因此若该第二型关联样品被归入第二、三、四和五柜中，即代表测试机台的工作环境出现错误，必须经过调整才可以进行量产产品的测试。
值得注意的是，即使将第一型关联样品的EA接脚剪除也无法应用于公知流程。因为公知流程在步骤102发现有接脚断路即归入第二柜，根本没有机会进行程序码对比。此外，在批量产品的测试阶段，即使有一批量产品的EA接脚因人为疏忽而断落，此时整个流程将进入步骤203，由于该非挥发性存储器尚未写入任何程序码，所以程序码对比结果必然错误而被检测出。换言之，本发明的方法也可适用于批量生产的阶段。
以上己例举本发明的较佳实施例，但在不背离本发明的精神与范围下，仍可作任何等效的变更。因此，任何本领域技术人员显而易见的变更或修饰，都应包含在权利要求所界定范围内。
权利要求
1.一种非挥发性存储器的测试方法，其特征在于，它包含下述步骤(a)制作第一型关联样品及第二型关联样品；该第一型关联样品是写入客户指定程序码的非挥发性存储器，且一特定接脚被剪除；该第二型关联样品是经验证为正确的非挥发性存储器；(b)在测试机台重新启动后，进行第一型关联样品及第二型关联样品的该特定接脚断路测试；若为断路则进入步骤(c)，否则进入步骤(d)；(c)读取该第一型关联样品的程序码且和该测试机台控制程序所抓取的程序码进行对比；若对比结果是相同的，代表该测试机台控制程序所抓取的程序码是正确的；反之代表不正确；及(d)对该第二型关联样品进行测试；若通过测试，代表该测试机台的设定正确；反之代表不正确。
2.如权利要求1所述的非挥发性存储器的测试方法，其特征在于所述的特定接脚是指写入致能接脚。
3.如权利要求1所述的非挥发性存储器的测试方法，其特征在于所述的步骤(d)包含下列步骤(d1)进行接脚断路/短路恻试，若不通过则显示该测试机台的设定不正确；(d2)进行功能测试，若不通过则显示该测试机台的设定，不正确；(d3)进行电除特性测试，若不通过则显示该测试机台的设定不正确；及(d4)进行程序码测试，若不通过则显示该测试机台的设定不正确。
4.如权利要求1所述的非挥发性存储器的测试方法，其特征在于所述的在步骤(d)之后还包含一步骤(e)，是在该测试机台控制程序抓取正确的客户指定程序码且测试机台设定正确的情况下，即进行批量产品的测试。
5.一种非挥发性存储器的测试方法，应用于测试写入该非挥发性存储器的程序码是否确为客户所指定的程序码，其特征在于预先将客户所指定的程序码写入至少一非挥发性存储器，且剪除该非挥发性存储器的写入致能接脚以避免误写入；在测试机台重新启动后，读取该非挥发性存储器的程序码且和测试机台控制程序所抓取的程序码进行比较；若相同则代表测试机台控制程序所抓取的程序码是正确的，反之则不正确。
6.如权利要求5所述的非挥发性存储器的测试方法，其特征在于，还包含将至少一己被验证为正确的非挥发性存储器于该测试机台重新启动后进行测试；若通过测试，代表该测试机台设定正确，反之则不正确。
全文摘要
本发明涉及一种非挥发性存储器的测试方法，该方法预先将客户所指定的程序码写入至少一非挥发性存储器，且剪除该非挥发性存储器的写入致能接脚以避免误写入。在测试机台重新启动后，读取该非挥发性存储器的程序码且和测试机台控制程序所抓取的程序码进行比较。若相同则代表测试机台控制程序所抓取的程序码是正确的，反之则不正确。
文档编号G01R31/28GK1448956SQ0210816
公开日2003年10月15日 申请日期2002年3月28日 优先权日2002年3月28日
发明者陈维新 申请人:华邦电子股份有限公司