专利名称：一种检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及显示部件检测设备，特别是指一种用于显示基板的检测装置。
背景技术：
如图1所示，为现有技术中检测设备的结构示意图；该检测设备包括玻璃基台11，设置于所述玻璃基台11底部的反射板12，以及设备于所述玻璃基台11中可升降的Pin(支撑杆)13，所述Pin 13的头部为普通PVC材料制作；玻璃基台11上方设有显示基板，如彩膜基板(CF) 21，Pin支撑所述彩膜基板21，光照设备22照射的光线通过彩膜基板21以及玻璃基台11底部的反射板12进行反射，通过观察设备(如显微镜)23进行观察检测；由于Pin 13的头部为普通PVC材料制作且为黑色没有反光的效果，在有Pin支撑的区域，检测到的画面是全黑的，无法进行彩膜基板21缺陷的观察和修补，会导致许多缺陷的漏修，很可能导致缺陷至下一个工序无法修补而暂时中断，造成液晶面板的制程的中断，从而导致面板良率的下降。如以32英寸的面板为例分析暗态的面积每台检测设备有36个Pin，每个Pin头部的表面积约为n X 122=425. 39mm2,每个液晶面板面积402. 8X708. 4=285343. 52mm2 ；平均每个液晶面板上有两个Pin支撑，所以Pin支撑的面积即暗状态的面积占总面板面积的百分比为452. 39*2/285343. 52=0. 32% ;如上所述，有0. 32%部分面板区域是暗态无法进行检测。

实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种检测装置，可以解决检测设备在支撑Pin位置无法进行透射观察显示基板缺陷的问题。为解决上述技术问题，本实用新型的实施例提供一种检测装置，用于显示基板的检测，包括基台；设置于所述基台内的可升降的支撑结构；所述支撑结构的支撑所述显示基板的部位的表面为反光的表面。其中，所述支撑结构包括支撑体，以及与所述支撑体连接的支撑帽；所述支撑帽的上表面为反光的表面。其中，所述支撑帽的表面涂覆有反光材料。其中，所述支撑帽由反光材料制作。其中，所述反光材料包括全反射率大于一预定反射率的反光材料。其中，所述反光材料包括微发泡MCPET材料。其中，所述基台包括玻璃基台以及设置于所述玻璃基台底面的反射板；或者所述基台的底面是反射型的底面。其中，上述检测装置还包括设置于所述基台上方，用于发出光线的光照设备。其中，所述光线的波长在40(T700nm之间。[0017]其中，上述检测装置还包括设置于所述基台上方，用于接收所述基台反射的反射光线的观察设备。本实用新型的上述技术方案的有益效果如下上述方案中，通过支撑结构(如支撑杆Pin)的反光设计，可以在进行透射观察时，使支撑结构产生漫反射，可以把从倾斜的光照设备打出来的光透过基台后进行全反射，再由观察设备(如显微镜)接收，从而达到对支撑结构处的显示基板也能准确地进行缺陷检测的目的。

图1为现有技术的检测设备的正视图；图2为本实用新型的检测装置的正视图；图3为图2中所示的检测装置的支撑结构的结构示意图；图4为图2所示的检测装置的支撑结构采用的反射材料的微发泡材料MCPET的漫反射效果示意图。[主要元件符号说明]10 :基台11 :玻璃基台12 :反射板13 :支撑结构21 :彩膜基板22 :光照设备23 :观察设备31 :微细气泡32 :镜面反射光33 :漫反射光
具体实施方式
为使本实用新型要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。如图2所示，本实用新型的实施例提供一种检测装置，用于显示基板(如彩膜基板)的检测，包括基台10 ;其中，所述基台10可以包括玻璃基台11以及设置于所述玻璃基台11底部的反射板12，或者所述基台10的底面是反射型的底面；所述检测装置还包括设置于所述基台10内的可升降的支撑结构13 (如支撑杆Pin);所述支撑结构13的支撑所述显示基板(如彩膜基板21)的部位的表面为反光的表面。该实施例通过将支撑结构13的支撑彩膜基板21的部位的表面设计为反光的表面，可以在进行透射观察时，使支撑结构Pin产生漫反射，可以把从倾斜的光照设备打出来的光透过基台后进行全反射，再由观察设备(如显微镜)接收，从而对支撑结构Pin处的显示基板也能实现准确检测。如图3所示，所述支撑结构13可以包括支撑体B，以及与所述支撑体B连接的支撑帽A ;所述支撑帽A的上表面为反光的表面。优选的，所述支撑帽A的上表面涂覆有反光材料或者所述支撑帽A由反光材料制作；支撑体B优选为金属材料制作的支撑体，以便在支撑结构Pin由基台中伸出支撑被检测的显示基板时，能够保证有足够的支撑力度。其中，所述反光材料包括:全反射率大于一预定反射率的反光材料，但不限于这些材料；所述反光材料可以包括:微发泡材料(MCPET材料，Micro Cellular PET)，MCPET材料采用PET (polyethylene Terephthalate)为基材运用微发泡技术,进行发泡制程。如图4所示，若以波长\ =400^700之间的可见光照射到微细气泡31，MCPET的全反射率为99% ;其中，镜面反射光32为3%，漫反射光33为96%，且该材料具有轻巧、抗落下冲击、能承受高温、在摄氏160度下仍能保持形状，材料结构稳定寿命长；且可利用PET资源回收方式废弃处理、材料未使用有害原料、表面具有高平滑性、价格低廉，成本低，反光效果好等优点。本实用新型的上述检测装置实施例中，还可以包括:设置于所述基台10上方，用于发出光线的光照设备22 ;所述光线优选为:波长在40(T700nm之间的可见光；本实用新型的上述检测装置实施例中，还可以包括:设置于所述基台10上方，用于接收所述基台10反射的反射光线的观察设备23 (如显微镜)。本实用新型的上述实施例中，有支撑结构Pin的部位比玻璃基台11会低一点(约9mm)，如果直接进行反射会造成会由于光线的偏移而使观察设备无法接收到反射光线，视野仍是暗状态。而以40(T700nm之间的可见光对玻璃基台进行照射，支撑结构Pin的头部由于采用MCPET材料，反射光96%为漫反射，增大了发射光的范围，使观察设备23更容易接收，从而实现观察设备23成功接收放射光，达到可以检测彩膜基板对应于支撑结构Pin支撑的部位对应的显示基板的缺陷的目的。本实用新型的上述实施例通过光学原理，运用反射，漫反射及全发射等原理，将支撑结构Pin的头部运用MCPET材料制作或者涂覆MCPET材料，可以把从倾斜的光照设备22的镜头打出来的光透过玻璃基台11后进行全反射，再由观察设备23的镜头接收，实现透视观察，从而达到通过形成透射光进行彩膜基板缺陷的检测。
以上所述是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型所述原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种检测装置，用于显示基板的检测，包括: 基台; 设置于所述基台内的可升降的支撑结构；其特征在于， 所述支撑结构的支撑所述显示基板的部位的表面为反光的表面。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述支撑结构包括:支撑体，以及与所述支撑体连接的支撑帽；所述支撑帽的上表面为反光的表面。
3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述支撑帽的表面涂覆有反光材料。
4.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述支撑帽由反光材料制作。
5.根据权利要求3或4所述的检测装置，其特征在于，所述反光材料包括:全反射率大于一预定反射率的反光材料。
6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述反光材料包括:微发泡MCPET材料。
7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于， 所述基台包括:玻璃基台以及设置于所述玻璃基台底面的反射板；或者 所述基台 的底面是反射型的底面。
8.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括:设置于所述基台上方，用于发出光线的光照设备。
9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述光线的波长在400 700nm之间。
10.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括:设置于所述基台上方，用于接收所述基台反射的反射光线的观察设备。
专利摘要本实用新型提供一种检测装置，用于显示基板的检测，包括基台；设置于所述基台内的可升降的支撑结构；所述支撑结构的支撑所述显示基板的部位的表面为反光的表面。本实用新型的实施例可以解决检测设备在支撑结构Pin的位置无法进行透射观察显示基板缺陷的问题。
文档编号G01N21/88GK202916546SQ201220577648
公开日2013年5月1日 申请日期2012年11月5日 优先权日2012年11月5日
发明者门庆国, 张文富 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司