专利名称：一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及红外光电转速测量技术领域，具体涉及一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置。
背景技术：
红外光电转速测量是一种较成熟的技术，对旋转机械转轴的测量来说，通常是在旋转机械转轴的外露部位贴反光条，然后由光电传感器对旋转机械转轴发射一束红外光， 通过光电传感器接收反射的红外光线，再通过信号处理系统将变化的光信号转换为电脉冲信号，同时通过内部计时器对一定数目的脉冲计时，然后可计算出转速。但是这种方法未考虑反光条粘贴部位的温度及光洁度。贴反光条的部位有时温度过高贴不上，有时转轴光洁度高也反射红外光线，影响测量结果。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是能让光电传感器得到准确可靠的含有转速的反光信号。为解决上述技术问题，本实用新型采取的技术方案为一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置，其特征在于，包括一长方形的围带，其长度足以包裹旋转轴外周，所述围带固定在旋转轴外侧，在围带外侧上选取8 12mm宽度位置涂上银粉层形成反光区，围带外侧上其余部分涂黑为非反光区。反光区与非反光区形成一种反光键相装置。优选的，所述围带用紧固螺栓固定在旋转轴外侧。优选的，所述围带为钢带。本实用新型的有益效果是使反光带的作用更可靠，克服转轴光面的影响，并且不受转轴高温的限制，使光电传感器接收到更稳定可靠的反射光信号。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型的技术方案作进一步具体说明。

图1为本实用新型的实施例使用状态示意图。
具体实施方式
如图1所示，一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置在测量某旋转轴 1的转速时，长方形的钢带长度足以包裹旋转轴1外周，钢带由用紧固螺栓4固定在旋转轴 1外侧，在钢带外侧上选取IOmm宽度位置涂上银粉层形成反光区2，围带外侧上其余部分涂黑为非反光区3。最后所应说明的是，以上具体实施方式
仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
权利要求1.一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置，其特征在于，包括一长方形的围带，其长度足以包裹旋转轴外周，所述围带固定在旋转轴外侧，在围带外侧上选取8 12mm宽度位置涂上银粉层形成反光区，围带外侧上其余部分涂黑为非反光区。
2.根据权利要求1所述的一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置，其特征在于，所述围带用紧固螺栓固定在旋转轴外侧。
3.根据权利要求1或2所述一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置，其特征在于，所述围带为钢带。
专利摘要本实用新型涉及红外光电转速测量技术领域，尤其涉及一种用于红外光电测量旋转轴转速的反光键相装置，其特征在于，包括一长方形的围带，其长度足以包裹旋转轴外周，所述围带固定在旋转轴外侧，在围带外侧上选取8～12mm宽度位置涂上银粉层形成反光区，围带外侧上其余部分涂黑为非反光区。本实用新型的有益效果是使反光带的作用更可靠，克服转轴光面的影响，并且不受转轴高温的限制，使光电传感器接收到更稳定可靠的反射光信号。
文档编号G01P1/00GK202093036SQ20112020507
公开日2011年12月28日 申请日期2011年6月17日 优先权日2011年6月17日
发明者史明权, 宋瑾莹, 张伟 申请人:武汉钢铁(集团)公司