专利名称：测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种测试装置。
技术背景在测试或者电器对接的应用中，目前的连接方式是固定连接或者使用滑动摩擦来进行对位连接，存在的问题是测量物体与被测物体不能自动地相互匹配，连接成功率和精度低，器件磨损大，测试模块的寿命短，利用率和生产效率低，浪费了人力物力，成本高
实用新型内容
本实用新型的目的就是针对现有技术存在的不足而提供一种连接成功率和精度高的测试装置，。为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是测试装置，它包括有固定座、浮动连接在固定座底部的浮动座、固定在浮动座上的电路板、固定在浮动座上的测试针、滑动设置在浮动座上的定位柱，测试针的上端与电路板连接，其下端伸出浮动座底部，定位柱的底部伸出浮动座底部，定位柱与浮动座之间设有弹簧。所述固定座与浮动座之间设有多个滚珠，固定座底部开设有多个与滚珠对应的安装槽，滚珠的顶部设置在安装槽中。所述浮动座的底部设有多个竖向贯穿浮动座的限位套，限位套中滑动设置有限位螺丝，限位螺丝的螺纹端穿过限位套螺纹连接在固定座底部。所述浮动座上设置有与定位柱对应的铜套，定位柱滑动设置在铜套中。所述定位柱和铜套分别为两个。所述定位柱的顶部卡接有卡簧。本实用新型有益效果在于本实用新型包括有固定座、浮动连接在固定座底部的浮动座、固定在浮动座上的电路板、固定在浮动座上的测试针、滑动设置在浮动座上的定位柱,测试针的上端与电路板连接,其下端伸出浮动座底部,定位柱的底部伸出浮动座底部，定位柱与浮动座之间设有弹簧，两个需要连接的物体，其中一个物体的一部分固定在设备上，另一部分固定在浮动座上，另一个物体上面有导向孔和用于电气连接的测试点，当两个物体连接的时候，浮动座上的定位柱与另一物体的导向孔接触，受到侧向的推力，浮动座可以在连接方向的垂直平面内浮动，从而引导浮动座上的电器部分和另一物体的电器部分准确的重合，能够自动将两个连接物体的接触部分以准确的位置连接起来，使用方便，连接快速，提高了测试设备的利用率和生产效率，减少了人力物力的浪费，节约成本，延长使用寿命O

图I是本实用新型的结构示意图；[0013]图2是本实用新型的分解示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的说明，见图I 2所示，测试装置，它包括有固定座I、浮动连接在固定座I底部的浮动座2、固定在浮动座2上的电路板3、固定在浮动座2上的测试针4、滑动设置在浮动座2上的定位柱5，测试针4的上端与电路板3连接，其下端伸出浮动座2底部，定位柱5的底部伸出浮动座2底部，定位柱5与浮动座2之间设有弹簧6。固定座I与浮动座2之间设有多个滚珠7，固定座I底部开设有多个与滚珠7对应的安装槽11，滚珠7的顶部设置在安装槽11中，滚珠7使得浮动座2与固定座I之间滑动平稳顺畅。浮动座2的底部设有多个竖向贯穿浮动座2的限位套8，限位套8中滑动设置有限 位螺丝9，限位螺丝9的螺纹端穿过限位套8螺纹连接在固定座I底部。浮动座2上设置有与定位柱5对应的铜套10，定位柱5滑动设置在铜套10中。定位柱5和铜套10分别为两个，定位柱5的顶部卡接有卡簧12，防止定位柱5从铜套10中脱离。两个需要连接的物体，其中一个物体的一部分固定在设备上，另一部分固定在浮动座2上，另一个物体上面有导向孔和用于电气连接的测试点，当两个物体连接的时候，浮动座2上的定位柱5与另一物体的导向孔接触，受到侧向的推力和滚珠7的支撑以及限位套8的限制，浮动座2可以在连接方向的垂直平面内浮动，从而引导浮动座2上的电器部分和另一物体的电器部分准确的重合，能够自动将两个连接物体的接触部分以准确的位置连接起来，使用方便，连接快速。在测试和连接应用中，极大的提高了连接的成功率，减少了浪费。在传统手机主板测试的试验中，传统结构的模块平均测试成功率在1600PPM，利用本实用新型的模块到没有出现坏品，测试模块的寿命得到很大的延长，提高了测试设备的利用率和生产效率，减少了人力物力的浪费，节约了大量资金。当然，以上所述仅是本实用新型的较佳实施例，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。
权利要求1.测试装置，其特征在于它包括有固定座(I)、浮动连接在固定座(I)底部的浮动座(2)、固定在浮动座(2)上的电路板(3)、固定在浮动座(2)上的测试针(4)、滑动设置在浮动座⑵上的定位柱(5)，测试针(4)的上端与电路板⑶连接，其下端伸出浮动座⑵底部，定位柱(5)的底部伸出浮动座(2)底部，定位柱(5)与浮动座(2)之间设有弹簧(6)。
2.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述固定座⑴与浮动座⑵之间设有多个滚珠(7)，固定座(I)底部开设有多个与滚珠(7)对应的安装槽(11)，滚珠(7)的顶部设置在安装槽(11)中。
3.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述浮动座(2)的底部设有多个竖向贯穿浮动座(2)的限位套(8)，限位套(8)中滑动设置有限位螺丝(9)，限位螺丝(9)的螺纹端穿过限位套(8)螺纹连接在固定座(I)底部。
4.根据权利要求I所述的测试装置，其特征在于所述浮动座(2)上设置有与定位柱(5)对应的铜套(10)，定位柱(5)滑动设置在铜套(10)中。
5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于所述定位柱(5)和铜套(10)分别为两个。
6.根据权利要求I 5任意一项所述的测试装置，其特征在于所述定位柱(5)的顶部卡接有卡簧(12)。
专利摘要本实用新型涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种测试装置，其包括有固定座、浮动连接在固定座底部的浮动座、固定在浮动座上的电路板、固定在浮动座上的测试针、滑动设置在浮动座上的定位柱，测试针的上端与电路板连接，其下端伸出浮动座底部，定位柱的底部伸出浮动座底部，定位柱与浮动座之间设有弹簧，本实用新型能够自动将两个连接物体的接触部分以准确的位置连接起来，使用方便，连接快速，提高了测试设备的利用率和生产效率，减少了人力物力的浪费，节约成本，延长使用寿命。
文档编号G01R1/04GK202600106SQ201120339418
公开日2012年12月12日 申请日期2011年9月13日 优先权日2011年9月13日
发明者高一平 申请人:东莞同邦电子科技有限公司