专利名称：一种电子元件耐压试验仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电子元件检测仪器，尤其涉及到一种电子元件耐压试验仪。
背景技术：
击穿电压是电子元件最重要的参数之一，通常采用耐压试验仪进行测定。现有耐压测试仪的工作原理是通过给电子元件提供逐渐升高的反向电压，当流经电子元件的电流到达规定值时，这时被测元件两端的电压即为所测元件的击穿电压。由于提供的反向电压不容易微调控制，一旦反向电压超出元件的耐压值时，被测的电子元件将遭到破坏，因此， 这种耐压试验仪对于特定个体进行测试时存在一定的风险，不适用于贵重电子器件的检测。

实用新型内容为克服现有技术不足，本实用新型提供了一种不会对被测电子元件造成损坏的电子元件耐压试验仪。为实现上述技术目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的一种电子元件耐压试验仪，包括由变压器、整流桥、电容构成的桥式整流滤波电路，桥式整流滤波电路的输出端通过数字电压表、毫安表连接达林顿管的集电极，同时还通过电阻Rl与达林顿管的基极相连接，达林顿管的发射极通过电阻R2接地，数字电压表的两个正负接线柱上分别引出连接被测元件的触头。测试时，当将被测元件反向连接于电压表的接线柱上，被测器件、达林顿管、电阻 R1、R2构成恒流源电路，通过调节电阻R2的阻值，使毫安表的读数等于被测器件的反向电流规定值；此时电压表显示的电压值即为被测器件的击穿电压。被测器件反向电流规定值可由相关标准查出或由生产厂家提供。本实用新型和以往技术相比，具有以下有益效果采用恒流源设计，被测器件两端电压自动调整为击穿电压，不会对器件特性造成损坏，成本低廉、使用安全方便，应用范围广泛。

附图为本实用新型电路图。图中，D1D2D3、二极管，R1R2、电阻，A1A2、触点，Tl、达林顿管，C、电容，T、变压器。
具体实施方式
参看附图，变压器T、整流桥、电容C构成的桥式整流滤波电路，桥式整流滤波电路的输出端通过数字电压表、毫安表连接达林顿管Tl的集电极，同时还通过电阻与达林顿管 Tl的基极相连接，达林顿管的发射极通过电阻R2接地，达林顿管Tl的基极通过串联的二极管D1、D2、D3接地，数字电压表的两个正负接线柱上分别引出连接被测元件的触头A1、A2。
权利要求1. 一种电子元件耐压试验仪，包括由变压器、整流桥、电容构成的桥式整流滤波电路， 其特征在于桥式整流滤波电路的输出端通过数字电压表、毫安表连接达林顿管的集电极， 同时还通过电阻(Rl)与达林顿管的基极相连接，达林顿管的发射极通过电阻(似)接地，数字电压表的两个正负接线柱上分别引出连接被测元件的触头。
专利摘要本实用新型属于电子检测仪器，具体为电子元件耐压试验仪，其方案为桥式整流滤波电路的输出端连接由电阻、达林顿管、若干二极管构成的恒流电路，恒流电路上设有数字电压变、毫安表。通过调整恒流电路的恒流值，来测得元件的击穿电压。对电子元件进行测试时，不会对器件特性造成损坏，保证被检测的电子元件的电学特性。
文档编号G01R31/14GK202083771SQ20112019322
公开日2011年12月21日 申请日期2011年5月29日 优先权日2011年5月29日
发明者曹广芹 申请人:曹广芹