专利名称：一种简易的晶体管在路测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种晶体管在路测试仪，尤其涉及一种结构简易、造价低廉的晶体管在路测试仪。
背景技术：
晶体管在路测试仪是用来检测晶体管在电路中的短路、断路以及β值的大小的，通常采用的晶体管检测仪结构复杂，因此体积就比较大，造价也就高了，而且使用起来也不方便，性价比很低。
发明内容本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种结构简单、体积小、造价低、使用方便的晶体管在路测试仪。本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的本实用新型包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一三极管、第二三极管和毫安表，所述第一电阻的两端分别与所述第一三极管的集电极和基极连接，所述第二电阻的两端分别与所述第一三极管的基极和电源正极连接，所述第四电阻的两端分别与所述第一三极管的集电极和电源正极连接，所述第一三极管的集电极还与电源负极连接，所述毫安表的两端分别与所述第一三极管的发射极和所述第二三极管的集电极连接，所述第三电阻的两端分别与所述第一三极管的集电极和所述第二三极管的集电极连接，所述第二三极管的发射极与电源正极连接，所述第二三极管的发射极还与被测管的接头连接，所述第二三极管的基极与被测管接头连接，所述第一三极管的基极与被测管接头连接。本实用新型所述第一三极管为PNP型三极管；所述第二三极管为NPN型三极管；所述电源的电压为9V。本实用新型的有益效果在于本实用新型在现有的基础上简化了许多，而且还具有体积小、成本低、实用性强的特点，有效的提高了性价比。

附图I是本实用新型的电路结构原理图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步说明如附图所示本实用新型包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一三极管BG1、第二三极管BG2和毫安表mA,第一电阻Rl的两端分别与第一三极管BGl的集电极和基极连接，第二电阻R2的两端分别与第一三极管BGl的基极和电源正极连接，第四电阻R4的两端分别与第一三极管BGl的集电极和电源正极连接，第一三极管BGl的集电极还与电源负极连接，毫安表mA的两端分别与第一三极管BGl的发射极和第二三极管BG2的集电极连接，第三电阻R3的两端分别与第一三极管BGl的集电极和第二三极管BG2的集电极连接，第二三极管BG2的发射极与电源正极连接，第二三极管BG2的发射极还与被测管的接头连接，第二三极管BG2的基极与被测管接头连接，第一三极管BGl的基极与被测管接头连接。如附图所示本实用新型第一三极管BGl为PNP型三极管；第二三极管BG2为NPN 型三极管；所述电源的电压为9V。如附图所示本实用新型利用了电桥平衡原理，被测管作为一个桥臂接入电路，由于被测晶体管加上了近似正常的工作电流，它的C、e间就等效为一个数值不太大的电阻Rce, Rce=E2/Ic ;当调整 Rg=Rce 时，El=E2=Urg=Uce，电表指示为零，电桥达到平衡。
权利要求1.一种简易的晶体管在路测试仪，其特征在于包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一三极管、第二三极管和毫安表，所述第一电阻的两端分别与所述第一三极管的集电极和基极连接，所述第二电阻的两端分别与所述第一三极管的基极和电源正极连接，所述第四电阻的两端分别与所述第一三极管的集电极和电源正极连接，所述第一三极管的集电极还与电源负极连接，所述毫安表的两端分别与所述第一三极管的发射极和所述第二三极管的集电极连接，所述第三电阻的两端分别与所述第一三极管的集电极和所述第二三极管的集电极连接，所述第二三极管的发射极与电源正极连接，所述第二三极管的发射极还与被测管的接头连接，所述第二三极管的基极与被测管接头连接，所述第一三极管的基极与被测管接头连接。
2.根据权利要求I所述的一种简易的晶体管在路测试仪，其特征在于所述第一三极管为PNP型三极管；所述第二三极管为NPN型三极管；所述电源的电压为9V。
专利摘要本实用新型公开了一种简易的晶体管在路测试仪，包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第一三极管、第二三极管和毫安表，第一电阻的两端分别与第一三极管的集电极和基极连接，第二电阻的两端分别与第一三极管的基极和电源正极连接，第一三级管的集电极还与电源负极连接，毫安表的两端分别与第一三级管的发射极和第二三极管的集电极连接，第三电阻的两端分别与第一三极管的集电极和第二三极管的集电极连接，第二三极管的发射极与电源正极连接，第二三极管的基极与被测管接头连接，第一三极管的基极与被测管接头连接。本实用新型在现有的基础上简化了许多，而且还具有体积小、成本低、实用性强的特点，有效的提高了性价比。
文档编号G01R31/27GK202494758SQ20122007337
公开日2012年10月17日 申请日期2012年3月1日 优先权日2012年3月1日
发明者车华明, 车小华, 马晓英 申请人:成都创图科技有限公司