专利名称：大批量检测磁瓦的方法
技术领域：
本发明涉及一种大批量检测磁瓦的方法。
背景技术：
磁瓦广泛用于永磁直流电机中，其形状如图1所示，磁瓦1为弧形的瓦片状，包括 内外弧面、两端的呈90°夹角的斜面和两端的倒角平面，磁瓦的尺寸和形位精度要求较高， 其中内弧的半径和弧长、内弧的拱高、磁瓦两端斜面所决定的弧长与磁瓦的安装紧密相关， 决定了磁瓦与安装件的中心距和各磁瓦之间的间隙，最为关键；而目前常用的磁瓦的检测 方法，如图2所示，用两个带90°夹角V形槽的检具2和3，两检具2和3的夹角交点的高 度差H即为安装时的中心距中限尺寸，将磁瓦1先后平放于两检具2和3上，磁瓦1的两斜 面与检具2或3的V形槽的两斜面接触，在磁瓦1的中心用百分表4测量出中心距的偏移 量rl和r2，然后用rl减r2的绝对值r3与理论计算的上、下限值进行比较，从而判定磁瓦 是否合格。但该检测方法的缺点是人为操作误差大、可重覆性差、检测效率低，特别是磁瓦 1在检具上不易放平(如虚线所示)，使得磁瓦1的中心点不是其最高点；百分表不易对准 磁瓦中心，导致检测出现误差，特别是在大批量检测时，要求检测速度较快，难以仔细摆放 磁瓦1 ；同时仅对磁瓦1的中心点进行检测，无法判断磁瓦厚度误差对安装的影响，影响了 检测结果的准确性。

发明内容
本发明的目的是针对现有技术存在的上述不足，提供一种用于大批量检测磁 瓦的方法，它不仅可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是否符 合要求，并具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点，保证了检测结果的准确性。为达到上述目的，本发明的大批量检测磁瓦的方法，包括以下步骤1)制作检具 制作一上限尺寸检具和一下限尺寸检具，两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角 的斜面、以及连接弧形拱高每端部与对应斜面端部的倒角平面，两检具的弧形拱高半径及 弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同，弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高 高度上限尺寸相同，两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸，上限尺寸 检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的上限弧长相同，下限 尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的下限弧长相同； 2)下限尺寸检具检测将磁瓦的一斜面向下紧贴下限尺寸检具的对应斜面，观测磁瓦的另 一斜面与下限尺寸检具的对应斜面是否有间隙，如有间隙，表示该磁瓦不合格；如无间隙， 则继续观测磁瓦的倒角平面与该检具的倒角平面之间、以及磁瓦的内弧与检具的弧形拱高 之间是否均有间隙，如均有间隙，该磁瓦通过本步骤；如二者之一无间隙，表示该磁瓦不合 格；3)上限尺寸检具检测将通过步骤2)的磁瓦的一端斜面向下紧贴上限尺寸检具的对 应斜面，观测磁瓦的另一斜面与该检具的对应斜面是否有间隙，如无间隙，表示该磁瓦不合格；如有间隙，则继续观测若磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间有间隙、磁瓦的内弧 中部与检具的弧形拱高无间隙，则表明该磁瓦最终合格；如观测到前者无间隙，或后者有间 隙，则表明该磁瓦均不合格。本发明不仅可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是 否符合要求，由于磁瓦可在检具上快速放平，既提高了检测速度，并具有操作误差小、可重 覆性好、检测效率高的优点，保证了检测结果的准确性。


图1为磁瓦的主视图。图2为现有检测磁瓦工作状态的主视图。图3为实施本发明检测状态一的主视图。图4为实施本发明检测状态二的主视图。图5为实施本发明检测状态三的主视图。图6为实施本发明检测状态四的主视图。图7为实施本发明检测状态五的主视图。图8为实施本发明检测状态六的主视图。
具体实施例方式下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。如图3至图8所示，该大批量检测磁瓦的方法，包括以下步骤1)制作检具制作 一上限尺寸检具6和一下限尺寸检具7，两检具均包括中心的弧形拱高8、两侧呈90°夹角 的斜面6b或7b、以及连接弧形拱高8每端部与对应斜面端部的倒角平面6a或7a，两检具 的弧形拱高8的半径及弧长均与需检测磁瓦1的内弧下限尺寸相同，弧形拱高8的高度均 与需检测的磁瓦1的内弧拱高高度上限尺寸相同，两检具6和7的倒角平面6a或7a长度 均取磁瓦1倒角平面长度的下限尺寸，上限尺寸检具6两侧呈90°夹角的斜面6b与弧形拱 高8所决定的弧长与需检测磁瓦1的上限弧长相同，下限尺寸检具7两侧呈90°夹角的斜 面7b与弧形拱高8所决定的弧长与需检测磁瓦1的下限弧长相同；2)下限尺寸检具检测 如图3、图4和图5所示，将磁瓦1的右斜面向下紧贴下限尺寸检具7的右斜面7b，通过目 测或一定规格的塞尺观测磁瓦1的左斜面与下限尺寸检具7的左斜面是否有间隙，如有间 隙，如图3所示，表示磁瓦1与安装部件的中心距过大，磁瓦1的弧长过小，该磁瓦不合格， 可终止对该磁瓦的检测；如无间隙，表示磁瓦1与安装部件的中心距符合上限要求，则继续 观测磁瓦1的倒角平面与该检具的倒角平面7a之间、以及磁瓦1的内弧与检具的弧形拱高 8之间是否均有间隙，如均有间隙，如图4所示，该磁瓦通过本步骤；如磁瓦1的倒角平面与 该检具的倒角平面7a之间无间隙，如图5所示，表示磁瓦1的内弧拱高过大，如磁瓦1的内 弧与检具的弧形拱高8之间无间隙，表示磁瓦1的内弧弧长过短，该磁瓦1均不合格；3)上 限尺寸检具检测如图6、图7和图8所示，将通过步骤2)的磁瓦1的左斜面向下紧贴上限 尺寸检具6的左斜面6b，通过目测或一定规格的塞尺观测磁瓦1的右斜面与该检具6的右 斜面是否有间隙，如无间隙，如图6所示，表示磁瓦1与安装部件的中心距过小，磁瓦1的弧 长过大，该磁瓦1不合格，可终止对该磁瓦1的检测；如有间隙，表示磁瓦1与安装部件的中心距符合下限要求，则继续观测若磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间有间隙、磁瓦的 内弧中部与检具的弧形拱高无间隙，则表明该磁瓦最终合格；如观测到前者无间隙，表示磁 瓦1的内弧拱高过大，或后者有间隙，表示磁瓦1的内弧半径过小，则表明该磁瓦均不合格。
本发明不仅可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧、拱高误差是否符合要求，以 满足安装的需要；由于磁瓦可在检具上快速放平，既提高了检测速度，并具有操作误差小、 可重覆性好、检测效率高的优点，保证了检测结果的准确性。
权利要求
1. 一种大批量检测磁瓦的方法，其特征在于包括以下步骤1)制作检具制作一上限 尺寸检具和一下限尺寸检具，两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以 及连接弧形拱高每端部与对应斜面端部的倒角平面，两检具的弧形拱高半径及弧长均与需 检测磁瓦的内弧下限尺寸相同，弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺 寸相同，两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸，上限尺寸检具两侧呈 90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的上限弧长相同，下限尺寸检具两 侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长与需检测磁瓦的下限弧长相同；2)下限尺 寸检具检测将磁瓦的一斜面向下紧贴下限尺寸检具的对应斜面，观测磁瓦的另一斜面与 下限尺寸检具的对应斜面是否有间隙，如有间隙，表示该磁瓦不合格；如无间隙，则继续观 测磁瓦的倒角平面与该检具的倒角平面之间、以及磁瓦的内弧与检具的弧形拱高之间是否 均有间隙，如均有间隙，该磁瓦通过本步骤；如二者之一无间隙，表示该磁瓦不合格；3)上 限尺寸检具检测将通过步骤2)的磁瓦的一端斜面向下紧贴上限尺寸检具的对应斜面，观 测磁瓦的另一斜面与该检具的对应斜面是否有间隙，如无间隙，表示该磁瓦不合格；如有间 隙，则继续观测若磁瓦的倒角平面与检具的倒角平面之间有间隙、磁瓦的内弧中部与检具 的弧形拱高无间隙，则表明该磁瓦最终合格；如观测到前者无间隙，或后者有间隙，则表明 该磁瓦均不合格。
全文摘要
本发明公开了一种大批量检测磁瓦的方法，它通过制作上、下限尺寸检具，两检具均包括中心的弧形拱高、两侧呈90°夹角的斜面、以及倒角平面，两检具的弧形拱高半径及弧长均与需检测磁瓦的内弧下限尺寸相同，弧形拱高的高度均与需检测的磁瓦的内弧拱高高度上限尺寸相同，两检具的倒角平面长度均取磁瓦倒角平面长度的下限尺寸，上、下限尺寸检具两侧呈90°夹角的斜面与弧形拱高所决定的弧长分别与磁瓦的上、下限弧长相同；将磁瓦分别置于两检具上，通过观测磁瓦与检具的间隙来判断磁瓦是否合格；本发明可检测出中心距、而且可检测出磁瓦内弧的半径、弧长和拱高误差是否符合要求，并提高了检测速度，具有操作误差小、可重覆性好、检测效率高的优点，保证了检测结果的准确性。
文档编号G01B5/20GK102087086SQ201010598058
公开日2011年6月8日 申请日期2010年12月21日 优先权日2010年12月21日
发明者袁昱, 邓志刚 申请人:自贡市江阳磁材有限责任公司