专利名称：β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法
β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法技术领域
本 发明涉及一种测量仪器用膜片的制作方法，具体地说，是一种用于测量仪器进行β射线法颗粒物校准用的标准质量膜片的制作方法。
背景技术：
总悬浮颗粒物是大气质量评价中的一个通用的重要污染指标，指悬浮在空气中的空气动力学当量直径< IOOym的颗粒物。它主要来源于燃料燃烧时产生的烟尘、生产加工过程中产生的粉尘、建筑和交通扬尘、风沙扬尘以及气态污染物经过复杂物理化学反应在空气中生成的相应的盐类颗粒。通常把粒径在10微米以下的颗粒物称为ΡΜ10，又称为可吸入颗粒物或飘尘。颗粒物的直径越小，进入呼吸道的部位越深。10微米直径的颗粒物通常沉积在上呼吸道，5微米直径的可进入呼吸道的深部，2微米以下的可100%深入到细支气管和肺泡，可吸入颗粒物或飘尘严重威胁着人们的身体健康，目前国家对此类空气污染指标的检测也越来越重视。
检测空气中的颗粒物浓度需要使用相关检测设备进行测量，检测设备进行颗粒物浓度的检测主要使用的是β射线法，依靠射线穿过被测量的富集颗粒时引起变化计算等效浓度，因此必须有一套等效于颗粒物质量的膜片来进行前期仪器校准。
目前常使用的这类标准膜片只能由国外仪器厂商随仪器配额供给，售价高昂，可采购的数量少，采购不便且时间周期长，严重影响测量工作的工作效率。发明内容
本发明针对目前的标准膜片只能由国外供给，售价高昂，可采购的数量少，采购不便且时间周期长，严重影响测量工作的工作效率等缺点，提出了一种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法。
本发明的β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，步骤如下
I)将光学聚酯膜放入纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻，通过控制蚀刻时间将光学聚酯膜分别蚀刻到 39±0· I μ m、44. 7±0· I μ m、54. 4±0· I μ m 的厚度；
2)将光学聚酯膜利用圆形模具裁剪成合适大小的膜片，将厚度为44. 7±0.1 μπι 和54. 4±0.1 μ m的膜片放到放射源与探测器之间连续测试4分钟，记录测试所得的等效质量值，重复测试8次取等效质量值的中值，将等效质量值的中值作为各膜片的标准质量；将厚度为39±0.1 μ m的膜片放到放射源与探测器之间进行连续测试，记录测试所得的等效质量值，将等效质量值与标准质量为0μ g的标准质量膜片测得的等效质量值进行对比，若两者之间误差超过±2%，将膜片再次放入纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻，然后取出测试，反复蚀刻测试，直至将膜片蚀刻到测出的等效质量值与标准质量为ομ g的标准质量膜片测得的等效质量值之间的误差在±2%以内；
3)进行粘接的前处理，向膜片边缘处涂氢氧化钠溶液并保持一段时间，对膜片边缘处进行清洁；
4)将膜片放入蒸馏水中冲洗；
5)将外框的张紧齿向上顶起；
6)将固化胶利用点胶筒涂布在外框顶起的张紧齿下表面上，将膜片平放到张紧齿下表面上并压实，将外框和膜片整体进行加热使固化胶固化；
7)将外框的张紧齿整平，将膜片绷紧；
8)将膜片的标准质量标签粘贴到外框的标签栏上。
优选的是，进行蚀刻的纯氢氧化钾溶液的温度为60°C，纯氢氧化钾溶液的浓度为 6mol/L。
优选的是，涂抹在膜片边缘的氢氧化钠溶液的温度为90°C，氢氧化钠溶液的质量分数为10%,膜片边缘涂抹氢氧化钠溶液的保持时间为10分钟。
优选的是，固化胶利用点胶筒涂布在张紧齿上的胶量为15±2mg。
优选的是，所述的固化胶由改性丙烯酸酯厌氧胶和固化剂以3 I的比例混合配制而成。
优选的是，外框和膜片整体加热的温度为80°C，加热的持续时间为5分钟。
本发明的有益效果是β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，利用了化学蚀刻控制膜片的等效质量，工艺要求低，一般等级的化学实验室即可进行标准质量膜片的制作，制作所需药品和材料成本低，获取方便，可在测量需要时随时制作，无须从国外进口，保证了测量工作的工作效率，膜片固定稳固，避免了由于膜片粘接不稳固产生形变， 造成测量结果不准确的问题，膜片厚度不为固定值，等效质量可在要求范围内，适用范围广。


附图
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附图1为外框张紧齿部分的仰视图；2为外框张紧齿向上顶起前的截面图； 3为外框张紧齿向上顶起后的截面图； 4为外框张紧齿点胶的截面图 5为外框张紧齿贴膜的截面图 6为外框张紧齿整平的截面图 7为标准质量膜片的仰视图。
具体实施方式
本发明的β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法。
选用65 μ m的光学聚酯膜，将光学聚酯膜放入温度为60°C浓度为6mol/L的纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻，通过控制蚀刻时间将光学聚酯膜分别蚀刻到39±0.1 μπι、 44. 7 + 0. 1μ m、54. 4±0.1 μ m的厚度，温度为60°C浓度为6mol/L的纯氢氧化钾溶液蚀刻效果较好，蚀刻效率高。
将光学聚酯膜利用圆形模具裁剪成合适大小的膜片4，将厚度为44. 7±0.1 μ m和 54. 4±0.1 μ m的膜片4放到放射源与探测器之间连续测试4分钟，记录测试所得的等效质量值，重复测试8次取等效质量值的中值，将等效质量值的中值作为各膜片4的标准质量，制得等效质量约为1000 μ g和2000 μ g的膜片；将厚度为39±0.1 μ m的膜片4放到放射源与探测器之间进行连续测试，记录测试所得的等效质量值，将等效质量值与标准质量为 Oug的标准质量膜片测得的等效质量值进行对比，制作等效质量为Ομ g的误差要求高，若两者之间误差超过±2%，将膜片4再次放入纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻，然后取出测试， 反复蚀刻测试，直至将膜片4蚀刻到测出的等效质量值与标准质量为O μ g的标准质量膜片测得的等效质量值之间的误差在±2%以内。
进行粘接的前处理，向膜片4边缘处涂温度为90°C的10%的氢氧化钠溶液并保持 10分钟，对膜片4边缘处进行清洁，涂抹温度为90°C的10%的氢氧化钠溶液使膜片拉力最大。
将膜片4放入蒸馏水中冲洗。
如图1至3所示，将外框I的张紧齿2向上顶起，将张紧齿2底面顶端顶起约O.5_，还可根据膜片4直径大小调整张紧齿2顶起的高度。
如图4所示，将固化胶3利用点胶筒涂布在外框I顶起的张紧齿2下表面上，固化胶3由改性丙烯酸酯厌氧胶和固化剂以3 I的比例混合配制而成，点胶量为15±2mg，能短时间内固化且无弹性，化学性质稳定，如图5所示，将膜片4平放到张紧齿2下表面上并压实，将外框I和膜片4整体进行加热到80°C加热5分钟，使固化胶3固化。
如图6所示，将外框I的张紧齿2整平，将膜片4绷紧，张紧齿可防止膜片回缩，避免了由于膜片产生形变，造成测量结果不准确的问题。
如图7所示，将膜片4的标准质量标签5粘贴到外框I的标签栏上，标准质量膜片制作完成。
权利要求
1.ー种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，其特征在于，步骤如下 1)将光学聚酯膜放入纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻，通过控制蚀刻时间将光学聚酯膜分别蚀刻到 39±0· I μ m、44. 7±0· I μ m、54. 4±0· I μ m 的厚度； 2)将光学聚酯膜利用圆形模具裁剪成合适大小的膜片，将厚度为44.7±0. I μ m和54. 4±0. I μ m的膜片放到放射源与探測器之间连续测试4分钟，记录测试所得的等效质量值，重复测试8次取等效质量值的中值，将等效质量值的中值作为各膜片的标准质量； 将厚度为39±0. I μ m的膜片放到放射源与探測器之间进行连续测试，记录测试所得的等效质量值，将等效质量值与标准质量为Ομ g的标准质量膜片测得的等效质量值进行对比，若两者之间误差超过±2%，将膜片再次放入纯氢氧化钾溶液中进行蚀刻，然后取出测试，反复蚀刻测试，直至将膜片蚀刻到测出的等效质量值与标准质量为Ομ g的标准质量膜片测得的等效质量值之间的误差在±2%以内； 3)进行粘接的前处理，向膜片边缘处涂氢氧化钠溶液并保持一段时间，对膜片边缘处进行清洁； 4)将膜片放入蒸馏水中冲洗； 5)将外框的张紧齿向上顶起； 6)将固化胶利用点胶筒涂布在外框项起的张紧齿下表面上，将膜片平放到张紧齿下表面上并压实，将外框和膜片整体进行加热使固化胶固化； 7)将外框的张紧齿整平，将膜片绷紧； 8)将膜片的标准质量标签粘贴到外框的标签栏上。
2.根据权利要求I所述的β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，其特征在于，进行蚀刻的纯氢氧化钾溶液的温度为60°C,纯氢氧化钾溶液的浓度为6mol/L。
3.根据权利要求I所述的β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，其特征在于，涂抹在膜片边缘的氢氧化钠溶液的温度为90°C，氢氧化钠溶液的质量分数为10%，膜片边缘涂抹氢氧化钠溶液的保持时间为10分钟。
4.根据权利要求I所述的β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，其特征在于，固化胶利用点胶筒涂布在张紧齿上的胶量为15±2mg。
5.根据权利要求I所述的β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，其特征在于，所述的固化胶由改性丙烯酸酯厌氧胶和固化剂以3 I的比例混合配制而成。
6.根据权利要求I所述的β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，其特征在于，外框和膜片整体加热的温度为80°C，加热的持续时间为5分钟。
全文摘要
一种β射线法颗粒物校准用标准质量膜片的制作方法，利用了化学蚀刻控制膜片的等效质量，工艺要求低，一般等级的化学实验室即可进行标准质量膜片的制作，制作所需药品和材料成本低，获取方便，可在测量需要时随时制作，无须从国外进口，保证了测量工作的工作效率，膜片固定稳固，避免了由于膜片粘接不稳固产生形变，造成测量结果不准确的问题，膜片厚度不为固定值，等效质量可在要求范围内，适用范围广。
文档编号G01N15/06GK102980840SQ20121043037
公开日2013年3月20日 申请日期2012年11月2日 优先权日2012年11月2日
发明者高心岗, 郭松明, 郝纯青, 赵军峰, 程丽华 申请人:青岛佳明测控科技股份有限公司