专利名称：一种用于检测工件尺寸的治具的制作方法
技术领域：
一种用于检测工件尺寸的治具技术领域[0001]本实用新型涉及检测领域，尤其涉及一种用于检测工件尺寸的治具。
技术背景[0002]现有技术中，待加工工件很多尺寸有非常苛刻的尺寸要求，因此需要严格管控， 而且这些尺寸的精度很高，可容忍偏差极小。而传统的长度检测手段，一方面无法检测出士0.03以下的公差，另一方面由于工件的数量大，其检测效率低下。再次，现有技术中，二次元数显投影仪的基础上的一次质的飞跃，是投影仪的升级换代版。虽然它克服了传统的长度检测手段精度不足缺陷，实现了高精度测量，由于采用光学显微镜对待测物体进行高倍率光学放大成像，经过CCD摄像系统将放大后的物体影像送入计算机后，能高效地检测各种复杂工件的轮廓和表面形状尺寸、角度及位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制。但是，其成本昂贵，其测量的精度往往和操作者手法有着密切的关系，且测试效率低下，不适合大批量的产品的全检要求。因此，如何设计以一种结构简单，操作方便，精度准确且检测效率高的测试设备成为本领域普通技术人员努力的方向。发明内容[0003]本实用新型提供一种用于检测工件尺寸的治具，此治具结构简单、操作方便、精度准确且检测效率高，满足了大批量产品全检的要求。[0004]为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种用于检测工件尺寸的治具， 所述工件上具有定位孔，所述治具包括具有通孔的载台和位于其上表面的定位针、通端凸件及止端凸件；所述定位针嵌入载台的通孔内，所述待检测的工件的定位孔嵌入所述定位针内并与载台上表面接触，此工件可绕其定位针旋转；所述通端凸件与定位针之间距离长度为上限值，所述止端凸件与定位针之间距离长度为下限值，所述工件的待检测尺寸的数值位于所述上限值和下限值之间，此上限值大于所述下限值。[0005]上述技术方案中的有关内容解释如下[0006]上述方案中，所述上限值与所述工件的待检测尺寸值的差值小于0. 03mm，所述工件的待检测尺寸值与所述下限值的差值小于0. 03mm。[0007]由于上述技术方案运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点[0008]本实用新型用于检测工件尺寸的治具结构简单，大大降低了成本；其次，操作方便且测量结构不受操作影响，因此测量结果稳定性高；再次，精度准确且检测效率高，满足了大批量产品全检的要求。


[0009]附图1为本实用新型用于检测工件尺寸的治具结构示意图；[0010]附图2为本实用新型检测工件时工作示意图；[0011]附图3为实用新型待测工件结构示意图。[0012]以上附图中1、工件；2、定位孔；3、治具；4、通孔；5、载台；6、定位针；7、通端凸件；8、止端凸件；9、待检测尺寸。
具体实施方式
[0013]
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述[0014]实施例一种用于检测工件尺寸的治具，所述工件1上具有定位孔2，所述治具3 包括具有通孔4的载台5和位于其上表面的定位针6、通端凸件7及止端凸件8 ；所述定位针6嵌入载台5的通孔4内，所述待检测的工件1的定位孔2嵌入所述定位针6内并与载台5上表面接触，此工件1可绕其定位针6旋转；所述通端凸件7与定位针6之间距离长度为上限值，所述止端凸件8与定位针6之间距离长度为下限值，所述工件1的待检测尺寸9 的数值位于所述上限值和下限值之间，此上限值大于所述下限值。[0015]上述上限值与所述工件1的待检测尺寸值的差值小于0. 03mm，所述工件1的待检测尺寸值与所述下限值的差值小于0. 03mm。[0016]采用上述用于检测工件尺寸的治具时，治具结构简单，大大降低了成本；操作方便且测量结构不受操作影响，因此测量结果稳定性高；精度准确且检测效率高，满足了大批量产品全检的要求。[0017]上述实施例只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围。 凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1 一种用于检测工件尺寸的治具，所述工件(1)上具有定位孔(2)，其特征在于所述治具(3)包括具有通孔(4)的载台(5)和位于其上表面的定位针(6)、通端凸件(7)及止端凸件(8);所述定位针(6)嵌入载台(5)的通孔(4)内，所述待检测的工件(1)的定位孔(2) 嵌入所述定位针(6)内并与载台(5)上表面接触，此工件(1)可绕其定位针(6)旋转；所述通端凸件(7)与定位针(6)之间距离长度为上限值，所述止端凸件(8)与定位针(6)之间距离长度为下限值，所述工件(1)的待检测尺寸(9)的数值位于所述上限值和下限值之间，此上限值大于所述下限值。
2 根据权利要求1所述的治具，其特征在于所述上限值与所述工件(1)的待检测尺寸值的差值小于0. 03mm，所述工件(1)的待检测尺寸值与所述下限值的差值小于0. 03mm。
专利摘要本实用新型公开一种用于检测工件尺寸的治具，所述工件上具有定位孔，所述治具包括具有通孔的载台和位于其上表面的定位针、通端凸件及止端凸件；所述定位针嵌入载台的通孔内，所述待检测的工件的定位孔嵌入所述定位针内并与载台上表面接触，此工件可绕其定位针旋转；所述通端凸件与定位针之间距离长度为上限值，所述止端凸件与定位针之间距离长度为下限值，所述工件的待检测尺寸的数值位于所述上限值和下限值之间，此上限值大于所述下限值，所述上限值与所述工件1的待检测尺寸值的差值小于0.03mm，所述工件1的待检测尺寸值与所述下限值的差值小于0.03mm。本实用新型治具结构简单、操作方便、精度准确且检测效率高，满足了大批量产品全检的要求。
文档编号G01B5/00GK202274836SQ20112035016
公开日2012年6月13日 申请日期2011年9月19日 优先权日2011年9月19日
发明者张霏霏, 王志成, 胡庆华, 赵红强, 龚玉妹 申请人:昆山科森科技有限公司