专利名称：电子元件的自动化测试装置及其测试方法
技术领域：
本发明涉及一种电子元件的自动化测试装置及其测试方法，特别涉及一种可适用于封装完成的电晶体进行全面测试作业的自动化测试装置及其测试方法。
背景技术：
习知的电子元件及电子产品等，在制程当中及出厂前，均会进行一系列的检验及测试等品管动作，除了确保其产品品质之外，并可因检测动作发现制程上的瑕疵，以进行修正、改进或更换，俾提升其产品的良品率。现今的晶片封装或微处理器制造厂商，通常提供给消费者长期的保固期间，甚或终身保固，因此特别需在产品制程中及出厂前经过严密的品质控管，尤其在出厂前常会进行全面的测试工作，以确保市面上每一颗晶片具有良好的品质及功能效果，藉此降低其后续的品管成本。
但习知的晶片实际测试方法，是使用多数人力分别看守数个测试用主机板的置柜，该置柜内部安装有复数测试用主机板以供晶片植装测试，因此一人仅能看守若干主机板置柜，造成人力成本的增加；其次，习知的测试作业是以人力将晶片植装于测试主机板，经过一系列测试动作之后，再以人力取下电晶体，可见其浪费许多时间在前置作业(拿取晶片)及后续作业(取出晶片并区别置放等)动作中，影响品管速率甚深，不利于大量生产，如此虽能降低往后保固期间回厂维修成本，却增加了产品的制造及品管成本，对于消费者而言，终属不利。

发明内容
本发明的目的是要解决上述习见的以人力看守测试主机板置柜进行电子元件测试存在的检测速度慢、制造及品管成本高的问题，而提供一种可提高测试速度、降低品管成本、适于大量测试品管的电子元件的自动化测试装置及其测试方法。
本发明之电子元件的自动化测试装置，至少包括有一主机板置柜、二组撷取装置、一收纳区、一输送装置、一控管主机，主机板置柜为立式柜，该主机板置柜内设有复数测试用主机板，测试用主机板与控管主机连线；二组撷取装置是进行电子元件取撷、插植及置放动作的自动化机械装置，其分别设置于主机板置柜两面处，二组撷取装置与控管主机连线；收纳区区分有已测区及未测区，供集中置放电子元件，收纳区设有一整理装置，该整理装置与控管主机连线；输送装置是将收纳区未测电子元件运输至主机板置柜处，并将主机板置柜的已测电子元件输出至收纳区的运送装置，该输送装置设于二组撷取装置及收纳区的整理装置间，输送装置与控管主机连线；控管主机是命令撷取装置产生特定动作，连线于测试用主机板以统一监测电子元件测试品质效果，可进行电子元件品质的比对与区别，并可储存测试、比对等资料的装置，藉此通过讯号连线使主机板置柜的测试用主机板与控管主机构成连线，组成电子元件的自动化测试装置。
所述的主机板置柜下方设有一暂存区，该暂存区区分为已测格区及未测格区，以供分别暂时置放已测及未测的电子元件。
所述的主机板置柜为数个，形成直立并排状，各主机板置柜均各设有二组撷取装置。
所述的撷取装置及整理装置为轨道式机械臂或肘式机械臂，或其它可用自动化指令控制的机械装置的其中一种。
所述的输送装置设有一输入部及一输出部，用来分别输送电子元件。
本发明之电子元件的自动化测试装置测试方法包括以下步骤(B)、植入电子元件由控管主机以讯号控制一撷取装置取撷电子元件植设于主机板置柜的测试用主机板；(C)、测试由主机板置柜的测试用主机板与电子元件搭配进行测试；(D)、主机控管将测试用主机板的测试数据资料传递给控管主机，由控管主机比对、区分各电子元件的品质、效果；(E)、取出电子元件以控管主机控制另一撷取装置取出测试完成的电子元件，并依据测试结果分级存放电子元件。
另外，所述的步骤(B)植入电子元件前，还可有步骤(A)输入电子元件，该输入电子元件的步骤，是以输送装置将收纳区的电子元件输送至主机板置柜处，供撷取装置取撷测试。
所述的步骤(E)取出电子元件后，还可有步骤(F)输出电子元件，该输出电子元件的步骤，是以输送装置将电子元件输送至收纳区处以集中存放。
本发明由于采用自动化测试装置及其测试方法对电子元件进行测试，提高了测试速度、降低了品管成本、适于大量测试品管。


图1为本发明之电子元件的自动化测试装置的俯视图。
图2为本发明之电子元件的自动化测试装置中的主机板置柜一面视图。
图3为本发明之电子元件的自动化测试装置中的主机板置柜另一面视图。
图4为本发明之电子元件的自动化测试装置测试方法流程框图。
具体实施例方式
请参阅图1、图2、图3所示，为本发明之电子元件的自动化测试装置至少包括有一主机板置柜1、二组撷取装置2、2`、一收纳区3、一输送装置4、一控管主机5，并通过有线或无线讯号连线，以能进行电子元件的自动化测试作业，其中主机板置柜1是提供复数测试用主机板11排列设置的装置，其为两面相通的立式格柜或格架，也可是两面不相通的结构，该主机板置柜1内设有复数个测试用主机板11，该测试用主机板11可为一般桌上型电脑或笔记本型电脑或个人行动秘书(PDA)或其它微型电脑主机、电机、机械等设备的主机板，并于主机板置柜1下方设有一暂存区12，该暂存区12区分为至少一已测格区121及一未测格区122，以供分别暂时置放已测及未测的电子元件10，测试用主机板11与控管主机5连线；二组撷取装置2、2`是可自动进行电子元件取撷、插植及置放动作的自动化机械装置，其可为一种轨道式机械臂或肘式机械臂，或其它可用自动化指令控制的机械装置的其中一种，二组撷取装置2、2`与控管主机5连线，二撷取装置2、2`设有至少一电子元件的撷取头21、21`，二撷取装置2、2`分别设置于主机板置柜1两面处，可用其中一撷取装置2进行装入电子元件于测试用主机板11的动作，而另一取装置2`可由测试用主机板11取出电子元件并置放于收纳区3，或令二组撷取装置2、2`各自进行植入及取出电子元件动作；收纳区3是用来集中区分电子元件已检测及未检测的装置，可为一置物柜设置于主机板置柜1周围处，并区隔有至少一已测区31及一未测区32，以分别集中置放已检测及未检测的电子元件10，该收纳区3可设有一自动化的整理装置33，该整理装置33可为轨道式机械臂或肘式机械臂，或其它可用自动化指令控制的机械装置的其中一种，藉此可将未测区32的未测电子元件10取放于下述输送装置4，并由输送装置4取回已测电子元件10集中置放于已测区31，该整理装置33与控管主机5连线；输送装置4是将上述收纳区3未测电子元件输送至主机板置柜1处，并将主机板置柜1的已测电子元件10输出至收纳区3的运送装置，输送装置4可为输送带或输送轮等等效装置，该输送装置4设于二组撷取装置2、2`及收纳区3的整理装置33间，输送装置4设有一输入部41及一输出部42，以分别进行上述电子元件10的运输动作，输送装置4与控管主机5连线；控管主机5是统一监测电子元件测试品质效果，进行电子元件品质的比对与区别，可以储存测试、比对等资料，并可命令撷取装置2、2`产生特定动作的后端电脑主机，其包含有比对、区分、储存测试资料及产生特定指令所需的软件及硬件设备；
藉此，通过有线或无线讯号连线6方式，使主机板置柜1的各个测试用主机板11分别或统一与控管主机5连线，并使各组撷取装置2、2`与控管主机5构成连线，如此，即组成本发明之电子元件的自动化测试装置；且该控管主机5也可与上述收纳区3、整理装置33及输送装置4构成连线，俾使整套自动化测试装置相互搭配使用，使测试流程更臻顺畅、协调。
如图1、图2所示，本发明之主机板置柜1可同时设有多个，形成直立式并排状，并于各个主机板置柜1两面分别置设撷取装置2、2`，且令输送装置4设于二组撷取装置2、2`及收纳区3的整理装置33间，藉此组成电子元件的测试群组，以提升测试效率。
请参阅图4配合图1、图2、图3所示，本发明之电子元件的自动化测试装置测试方法包括以下步骤(A)输入电子元件由收纳区3的整理装置33从其未测区32取出电子元件10置放于输送装置4的输入部41，将电子元件10输送至各个主机板置柜1处，再令撷取装置2或撷取装置2`取放于主机板置柜1的未测格区122暂存，或直接进入下述(B)流程；(B)、植入电子元件由控管主机5以讯号控制一组或多组撷取装置2，令该撷取装置2统一或分别由主机板置柜1的未测格区122或输送装置4进行取撷电子元件10例如晶片等动作，并将该电子元件10植设于主机板置柜1的测试用主机板11，使各电子元件10与测试用主机板11构成连结可实际搭配使用状态；(C)、测试由主机板置柜1的测试用主机板11与电子元件10例如晶片等搭配进行实际使用的测试动作，其中，各测试用主机板11安装有测试必备的其它软件、硬件等；(D)、主机控管将主机板置柜1的测试用主机板11所测试的数据等资料传递给控管主机5，由控管主机5内设的软、硬件进行比对、区分各电子元件的品质、使用速度及效果等，可立即以显示器显示测试结果，并可将比对及区分资料等储存于磁碟机或磁带机或其它可记录的硬件设备中；(E)、取出电子元件以控管主机5依据比对结果，通过指令讯号统一或分别控制主机板置柜1另一撷取装置2`取出测试完成的电子元件10，并令撷取装置2`依据测试结果分级存放电子元件10于主机板置柜1的已测格区121，或直接放置于输送装置4的输送部42，藉此自动完成电子元件的测试作业，所说的分级如分成瑕疵品、低功率、高品质等等级；(F)、输出电子元件由主机板置柜1的撷取装置2或撷取装置2`从其已测格区121或测试用主机板11取出已测电子元件10置放于输送装置4的输出部42，将已测电子元件10输送至收纳区3，再令整理装置33取放于已测区31集中，俾供进行后序制程，例如打印、包装等。
本发明之电子元件的自动化测试装置由于是由主机板置柜1、二组电子元件的撷取装置2、2`、收纳区3、输送装置4及控管主机5组成，并通过上述主要的步骤(B)植入电子元件、(C)测试、(D)主机控管、(E)取出电子元件，因此可完全由控管主机5统一进行电子元件的全面测试工作，仅需一人监视控管主机5，因此可大幅的降低品管的人力成本。
其次，本发明可以通过控管主机5控制撷取装置2、2`、收纳区3、整理装置33及输送装置4，以进行电子元件10测试前、后的各种动作，因此可通过适当的动作流程规划，缩短测试工作前的前置作业及后续分级置放作业的时间，使测试速度及产量易于明确化，并提升其整体测试作业的速度，故可藉此降低电子元件等产品出厂前的品管成本。
本发明之电子元件的自动化测试装置测试方法，其控制撷取装置2、2`、收纳区3、整理装置33及输送装置4产生动作者，也可由其它电脑主机设备进行，或令该控管主机5分别为测试主机及控制主机部分。另外，本发明并不单局限于电子元件产品出厂前的测试作业，其也可装设于特定生产线中，以随机或全面的取撷制程中的电子元件，例如封装过程中的晶片等，并进行上述的测试作业，俾随时监控电子元件的品质，并可藉由控管主机5所储存的比对资料等，作为改善电子元件制程设备或维修、更换等工作的依据；因此，举凡以本发明之电子元件的自动化测试装置及其测试方法，实施为电子产品制程中或出厂前的品管形态，均应为本发明的权利要求所包含。
权利要求
1.一种电子元件的自动化测试装置，其特征在于其包括有一主机板置柜、二组撷取装置、一收纳区、一输送装置、一控管主机，其中，主机板置柜为立式柜，该主机板置柜内设有复数测试用主机板，测试用主机板与控管主机连线；二组撷取装置是进行电子元件取撷、插植及置放动作的自动化机械装置，其分别设置于主机板置柜两面处，二组撷取装置与控管主机连线；收纳区区分有已测区及未测区，供集中置放电子元件，收纳区设有一整理装置，该整理装置与控管主机连线；输送装置是将收纳区未测电子元件运输至主机板置柜处，并将主机板置柜的已测电子元件输出至收纳区的运送装置，该输送装置设于二组撷取装置及收纳区的整理装置间，输送装置与控管主机连线。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件的自动化测试装置，其特征在于所述的主机板置柜下方设有一暂存区，该暂存区区分为暂时置放已测电子元件的已测格区及暂时置放未测电子元件的未测格区。
3.根据权利要求1或2所述的一种电子元件的自动化测试装置，其特征在于所述的主机板置柜为数个，形成直立并排状，各主机板置柜均各设有二组撷取装置。
4.根据权利要求1所述的一种电子元件的自动化测试装置，其特征在于所述的撷取装置及整理装置为轨道式机械臂或肘式机械臂，或其它可用自动化指令控制的机械装置的其中一种。
5.根据权利要求1所述的一种电子元件的自动化测试装置，其特征在于所述的输送装置设有用来分别输送电子元件的一输入部及一输出部。
6.根据权利要求1所述的一种电子元件的自动化测试装置，其特征在于所述的撷取装置、收纳区、整理装置及输送装置通过讯号连线与控管主机连线。
7.一种如权利要求1所述的一种电子元件的自动化测试装置的测试方法，该方法包括以下步骤(B)、植入电子元件由控管主机以讯号控制一撷取装置取撷电子元件植设于主机板置柜的测试用主机板；(C)、测试由主机板置柜的测试用主机板与电子元件搭配进行测试；(D)、主机控管将测试用主机板的测试数据资料传递给控管主机，由控管主机比对、区分各电子元件的品质、效果；(E)、取出电子元件以控管主机控制另一撷取装置取出测试完成的电子元件，并依据测试结果分级存放电子元件。
8.根据权利要求7所述的一种电子元件的自动化测试装置的测试方法，其特征在于所述的步骤(B)植入电子元件前，还具有(A)输入电子元件步骤，该输入电子元件的步骤，是以输送装置将收纳区的电子元件输送至主机板置柜处，供撷取装置取撷测试。
9.根据权利要求7所述的一种电子元件的自动化测试装置的测试方法，其特征在于所述的步骤(E)取出电子元件后，还具有(F)输出电子元件步骤，该输出电子元件的步骤，是以输送装置将电子元件输送至收纳区处以集中存放。
全文摘要
本发明公开了一种电子元件的自动化测试装置及其测试方法，其中的测试装置是由至少一主机板置柜、二组撷取装置、一收纳区、一输送装置、一控管主机所组成，其测试方法的步骤为(B)植入电子元件由控管主机以讯号控制一撷取装置取撷电子元件植设于主机板置柜的测试用主机板；(C)测试由主机板置柜的测试用主机板与电子元件搭配进行测试；(D)主机控管将测试用主机板的测试数据资料传递给控管主机，由控管主机比对、区分各电子元件的品质、效果；(E)取出电子元件以控管主机控制另一撷取装置取出测试完成的电子元件，并依据测试结果分级存放电子元件，本发明由于采用自动化测试装置及其测试方法对电子元件进行测试，提高了测试速度、降低了品管成本、适于大量测试品管。
文档编号G01R31/00GK1609624SQ20041001124
公开日2005年4月27日 申请日期2004年11月23日 优先权日2004年11月23日
发明者资重兴 申请人:资重兴