专利名称：轴承高度验具的制作方法
技术领域：
轴承高度验具技术领域[0001]本实用新型属于验具领域，具体的说应用于检验轴承高度的尺寸公差。
技术背景[0002]目前对轴承高度尺寸公差的检测，常使用卡尺、千分尺等常规验具测量，存在不好操作、测量数据不准以及误差大等问题。因此需要设计轴承高度验具。实用新型内容[0003]本实用新型旨在克服现有技术缺陷，提供一种轴承高度验具。[0004]轴承高度验具，主要由测量基准套、开口铜销、千分表、表固定架以及平板构成；其特征在于所述的千分表外设有开口铜套，所述的表固定架与平板连接。[0005]与现有常规量具相比，本实用新型的有益效果是精度高、耐磨；能方便、准确、快速、直观地检测零件的高度尺寸公差，解决了使用常规量具无法测量的问题。


[0006]图1为本实用新型结构示意图剖视图其中1、测量基套，2、开口铜套，3、千分表， 4、表固定架，5、螺钉，6、平板，8、待测零件，内孔11。
具体实施方式
[0007]参见附图1，轴承高度验具，主要由测量基准套1、开口铜销2、千分表3、表固定架4 以及平板6构成；其特征在于所述的千分表3外设有开口铜套2，所述的表固定架4与平板6连接。[0008]所述的测量基准套1设有内孔11。[0009]所述的测量基准套1高度尺寸与待测零件8的标准高度尺寸一致。[0010]所述的千分表3通过螺钉5与开口铜套2锁紧。[0011]所述的表固定架4通过螺钉与平板6连接。[0012]所述的测量基准套1，材料为合金工具钢Crl2。[0013]应用时，将摆放在平板上的测量基准套1平行移动至千分表3的触头下调整千分表至零位，再将待测零件8放入测量基准套1的内孔11中，平行移动测量基准套1与待测零件8至千分表3的触头下方，读出测量基准套1与待测零件8在千分表3上所显示读数的差值，此读数的差值即待测零件的高度误差，取出待测零件完成测量。
权利要求1.轴承高度验具，主要由测量基准套、开口铜销、千分表、表固定架以及平板构成；其特征在于所述的千分表外设有开口铜套，所述的表固定架与平板连接。
2.根据权利要求1所述的轴承高度验具，其特征在于所述的测量基准套高度尺寸与待测零件的标准高度尺寸一致。
3.根据权利要求1所述的轴承高度验具，其特征在于所述的千分表通过螺钉与开口铜套锁紧。
4.根据权利要求1所述的轴承高度验具，其特征在于所述的表固定架通过螺钉与平板连接。
5.根据权利要求1所述的轴承高度验具，其特征在于所述的测量基准套，材料为合金工具钢Cr 12。
专利摘要本实用新型属于验具领域，具体的说应用于检验轴承高度的尺寸公差。轴承高度验具，主要由测量基准套、开口铜销、千分表、表固定架以及平板构成；其特征在于所述的千分表外设有开口铜套，所述的表固定架与平板连接。与现有常规量具相比，本实用新型的有益效果是精度高、耐磨；能方便、准确、快速、直观地检测零件的高度尺寸公差，解决了使用常规量具无法测量的问题。
文档编号G01B5/02GK202329481SQ20112045759
公开日2012年7月11日 申请日期2011年11月17日 优先权日2011年11月17日
发明者吴全党 申请人:天津欧波精密仪器股份有限公司