专利名称：大量程精确测量高度装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种技术测量的技术领域，尤指一种大量程精确测量高度装置。
背景技术：
在零部件的生产和装配过程中，经常遇到需要精确测量高度的情况。在测量高度值时，目前已有的高度游标尺和高度测量仪的量程均较小，而且高度游标尺在测量高度时难以稳定地放置在测量基面上，容易产生测量误差。在测量大量程高度尺寸时，没有专门的器具来测量，目前只能采用简易的方法进行，如利用大量程直尺，但是其获得的精度较低， 效率很低。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种既可以提高高度测量的精度，又可以提高测量效率的大量程精确测量高度装置。为解决上述技术问题，本实用新型的技术解决方案是一种大量程精确测量高度装置，包括设置在底部的配重块及固定在配重块上的测量尺，该配重块的底面与测量尺的主体侧面呈直角，该测量尺上活动固定有一等高块。所述的等高块通过一弓钳夹夹紧在测量尺上。所述的测量尺上开设一滑槽，通过螺钉、螺母分别穿过等高块上的孔与测量尺上的滑槽将等高块固定在测量尺上。所述的配重块设置有两块，所述的测量尺固定在两块配重块之间。所述的配重块与测量尺下部采用螺栓、粘接或销钉联接。所述的配重块上固定有提手。所述的测量尺主体部分上设置有长度刻度。采用上述方案后，本实用新型采用配重块加测量尺的结构，将测量尺与配重块组合在一起，并令配重块的底面与测量尺的主体侧面垂直，同时在测量尺上活动设置一等高块。这种结构测量尺的长度一般不受限度，可以采用大量程的测量尺(例如1200mm测量尺)， 因此可以用于高度游标尺和高度测量仪的量程无法达到的测量大量程高度尺寸的场合，且可以快速进行检测。此外，由于在测量时是通过等高块与被测物对比，因此可以适合用于高度游标尺不便于稳定安放从而不便于测量高度尺寸的场合。此外，本实用新型还具有下述优点1.本装置底部由配重块构成，配重块底面加工成光滑的平面，可以保证与测量基面良好接触。2.配重块的重量及较大的底面积可保证整个装置的稳定，适合用于高度游标尺不便于稳定安放从而不便于测量高度尺寸的场合。3.配重块与测量尺下部可以采用螺栓、粘接、销钉联接，该联接可以使配重块底面与测量尺主体侧面构成组合直角，以消除测量尺主体直角的加工误差。用于需严格保证两平面呈直角的场合，可保证被测平面与测量基面的直角关系。4.配重块上可用螺栓固定提手，以方便整个装置的移动。5.测量尺主体部分上可设置长度刻度，可以方便先快速找到大致高度，再进行精确测量。

图1是本实用新型的主视图；图2是图1的A-A剖视图；图3是本实用新型弓钳夹夹紧等高块的结构示意图；图4是本实用新型另一实施例的主视图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详述。本实用新型所揭示的是一种大量程精确测量高度装置，如图1至图2所示，为本实用新型的较佳实施例。所述的测量装置包括设置在底部的配重块1及固定在配重块1上的测量尺2，该配重块1的底面11与测量尺2的主体侧面21呈直角，该测量尺2上活动固定有一等高块3。采用本实用新型所述的测量装置进行测量高度时，将该装置放置于测量基面上， 然后移动等高块3使其与测量高度等高，之后用游标卡尺测量等高块3与配重块1底面11 之间的高度，可以获得精度高达0. 02mm的精确高度尺寸。也可以先用游标卡尺将等高块3 固定在一基准高度处，之后将本装置放置于欲测量位置，以比较是否符合要求。更进一步的为了使机构稳定及方便调校，所述的配重块1可以设置两块，两块配重块1之间放置测量尺2，配重块1底面11与测量尺2主体侧面21的直角通过直角尺检查仪精确调校， 调校后将两配重块1与测量尺2固定连接。所述的配重块1与测量尺2下部可以采用螺栓、粘接或销钉联接。这种联接可以使配重块1底面11与测量尺2主体侧面21构成组合直角，以消除测量尺主体直角的加工误差。用于需严格保证两平面呈直角的场合，可保证被测平面与测量基面的直角关系。所述的配重块1底面需要加工成光滑的平面，以保证与测量基面的良好接触。所述的测量尺2主体可以具有较大量程，以便用于高度游标尺和高度测量仪的量程无法达到的测量大量程高度尺寸的场合。该测量尺2的主体部分上还可设置长度刻度， 本实施例量程可达1200mm，精度为0. 1mm。为了方便整个装置的移动，所述的配重块1上可用螺栓固定了提手4。另外，所述的等高块3可以采用多种结构方式活动固定在测量尺2上。对于图1 所示实施例，所述的等高块3采用常见的弓钳夹5夹紧在测量尺2上，如图3所示。再如图4所示，本实用新型也可以在所述的测量尺2上开设一滑槽22，通过螺钉、 螺母6、7分别穿过等高块3上的孔(图中未示出)与测量尺2上的滑槽22将等高块3固定在测量尺2上，旋松螺钉螺母即可令等高块3在测量尺2上移动。
权利要求1.一种大量程精确测量高度装置，其特征在于包括设置在底部的配重块及固定在配重块上的测量尺，该配重块的底面与测量尺的主体侧面呈直角，该测量尺上活动固定有一等高块。
2.根据权利要求1所述的大量程精确测量高度装置，其特征在于所述的等高块通过一弓钳夹夹紧在测量尺上。
3.根据权利要求1所述的大量程精确测量高度装置，其特征在于所述的测量尺上开设一滑槽，通过螺钉、螺母分别穿过等高块上的孔与测量尺上的滑槽将等高块固定在测量尺上。
4.根据权利要求1所述的大量程精确测量高度装置，其特征在于所述的配重块设置有两块，所述的测量尺固定在两块配重块之间。
5.根据权利要求1所述的大量程精确测量高度装置，其特征在于所述的配重块与测量尺下部采用螺栓、粘接或销钉联接。
6.根据权利要求1所述的大量程精确测量高度装置，其特征在于所述的配重块上固定有提手。
7.根据权利要求1所述的大量程精确测量高度装置，其特征在于所述的测量尺主体部分上设置有长度刻度。
专利摘要本实用新型公开了一种大量程精确测量高度装置，包括设置在底部的配重块及固定在配重块上的测量尺，该配重块的底面与测量尺的主体侧面呈直角，该测量尺上活动固定有一等高块。这种结构测量尺的长度一般不受限度，可以采用大量程的测量尺(例如1200mm测量尺)，因此可以用于高度游标尺和高度测量仪的量程无法达到的测量大量程高度尺寸的场合，且可以快速进行检测。此外，由于在测量时是通过等高块与被测物对比，因此可以适合用于高度游标尺不便于稳定安放从而不便于测量高度尺寸的场合。
文档编号G01B5/02GK202216632SQ20112028341
公开日2012年5月9日 申请日期2011年8月5日 优先权日2011年8月5日
发明者何友朗, 刘金武, 洪日敏, 陈承 申请人:厦门理工学院