专利名称：可旋转式样品架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光学测定仪中用于放置被测样品器皿的样品架结构，具体涉及一种可旋转式样品架。
背景技术：
目前，在传统光学测定仪中，用于放置被测样品器皿的样品架，均采用固定的结构，适用于透射法的光学测定。近年来出现了一种采用物体表面进行光学测定的方法，这种方法因要求被测物体的表面与仪器光路呈一定角度，采用了一种特殊的样品器皿。由于特殊样品器皿加工困难，成本高，因此在使用时存在着明显的不足。为克服上述不足，有必要提供一种新型的样品架装置。

发明内容
本实用新型的目的就在于克服上述的不足，提供一种既可作常规透射法测定，又可作物体表面测定的可旋转式样品架。
本实用新型提供的一种可旋转式样品架，其为一种兼容性测试样品架，所述的样品架安装在光学测定仪的底座上，在所述的样品架的底部有一个定位孔，所述的定位孔与仪器底座上设置的定位销之间相连，其为一个精密的间隙配合，可作顺时针或逆时针转动。
本实用新型提供的一种可旋转式样品架，其底部应有定位孔，所述的定位孔与仪器底座中预设的定位销配合作为旋转中心，可作精密的转动配合。当需要常规透射法测定时，样品架经由螺孔固定在仪器底座的光路中进行；当需要作为物体表面光学测定时，样品架依轴心作旋转并固定在仪器底座上，使样品架与入射光呈一定的角度，即可对被测样品器皿中的物质进行物体表面的光学测定。
本实用新型提供的一种可旋转式样品架中所述的定位孔的位置，一般选择为透射法测定时激发光入射样品架的入射点同发射光的发射点的垂直平分线，同用作物体表面测定时旋转角度α后激发光入射样品架的入射点同发射光的发射点的垂直平分线相交的交汇处。
由此可见，本实用新型对常规光测仪的样品架稍作改进，把样品架做成转动式，使二种测试方法能方便地兼容。
本实用新型结构简单，使用方便，成本低廉，易于推广，具有广泛的实用价值，具有广阔的应用前景。
下面，结合附图和实施例详细说明依据本实用新型提出的具体装置的细节及工作情况。


图1为本实用新型的示意图。
图2为图1的C向结构示意图。
图3a为本实用新型一种实施例的结构示意图。
图3b为本实用新型另一种实施例的结构示意图。
具体实施方式
如附图1-2所示，本实用新型实施例提供的一种可旋转式样品架，其为一种兼容性测试样品架，所述的样品架1安装在光学测定仪的底座2上，在所述的样品架1的底部有一个定位孔A，所述的定位孔A与仪器底座2上设置的定位销3之间有一个精密的间隙配合，可作顺时针或逆时针转动。
本实用新型提供的一种可旋转式样品架中所述的定位孔A的位置，一般选择为透射法测定时激发光入射样品架1的入射点B同发射光的发射点B′的垂直平分线，同用作物体表面测定时旋转角度α后激发光入射样品架1的入射点B′同发射光的发射点B″的垂直平分线相交的交汇处A。
常规测定时，仪器的样品架1处于光路中如图1的实线位置，并经螺孔a，孔b由螺钉4或通过其他方式固定于仪器的底座2上，激发光和发射光的作用点在B′处，可适用透射法进行测定。
当用作物体表面测定时，所述的样品架1以A点为旋转中心，可顺时针旋转角度α，此时样品架处于图1的虚线位置，孔a、孔b在仪器底座2上的位置变为a′、b′，再用螺钉4或其他方式定位，固定于仪器底座2上，并确保所述的样品架1的内侧壁的中点洽好落在激发光和发射光的交汇点B′上，这样即可作物体表面的光测定。
由此可见，如图1所示两种测试方法的光路作用点均为B′，此时α的角度可在5°～40°或50°～85°内设定，因为当接近45°时会产生正反射的光干涉；或当接近0°或90°时会产生由样品架四壁造成的档光现象。当然，所述的A点的位置会随着设定的旋转角度α的大小而变动。α角度越小，A点就越远离B′点，如附图3a所示。反之α角度越大，A点就越接近B′点，如附图3b所示。
另外，所述的A点的选择还需根据样品架1在仪器中的活动空间及是否便于加工和安装而定。但无论如何，所述的旋转中心A点的设定位置，应落在图3a、3b所示BB′和B′B″二条中垂线的交汇处A，并根据光路的结构设定于图1的左、右或上、下方。
权利要求1.一种可旋转式样品架，其特征在于所述的样品架为一种兼容性测试样品架，所述的样品架(1)安装在光学测定仪的底座(2)上，在所述的样品架(1)的底部有一个定位孔A，所述的定位孔A与仪器底座(2)上设置的定位销(3)之间有一个精密的间隙配合，可作顺时针或逆时针转动。
2.根据权利要求1所述的一种可旋转式样品架，其特征在于所述的定位孔A的位置为常规透射法测定时激发光入射样品架(1)的入射点B同发射光的发射点B′的垂直平分线，同用作物体表面测定时旋转角度α后激发光入射样品架(1)的入射点B′同发射光的发射点B″的垂直平分线相交的交汇处A。
3.根据权利要求2所述的一种可旋转式样品架，其特征在于所述的α的角度可在5°～40°或50°～85°内。
4.根据权利要求2所述的一种可旋转式样品架，其特征在于所述的所述的A点的位置会随着旋转角度α的大小而变动；α角度越小，A点就越远离B′点，反之α角度越大，A点就越接近B′点。
5.根据权利要求1所述的一种可旋转式样品架，其特征在于所述的样品架(1)可由螺钉(4)经螺孔固定于仪器的底座(2)上。
专利摘要本实用新型涉及一种可旋转式样品架。在传统光学测定仪中，用于放置被测样品器皿的样品架，均采用固定的结构，适用于透射法的光学测定。为此，本实用新型提供了一种可旋转式样品架，其为一种兼容性测试样品架，所述的样品架(1)安装在光学测定仪的底座(2)上，在所述的样品架(1)的底部有一个定位孔A，所述的定位孔A与仪器底座(2)上设置的定位销(3)之间有一个精密的间隙配合，可作顺时针或逆时针转动。本实用新型结构简单，使用方便，成本低廉，易于推广，具有广泛的实用价值，具有广阔的应用前景。
文档编号G01N21/13GK2663980SQ200320122750
公开日2004年12月15日 申请日期2003年12月23日 优先权日2003年12月23日
发明者吴树恩, 程奕昊 申请人:上海棱光技术有限公司