专利名称：涂镀层厚度测量探头的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种涂镀层厚度测量探头，特别用于各种工件表面上涂料厚度测量。
背景技术：
目前涂镀层厚度的测量方法采用的是磁感应方法，可以测量铁磁性材料上的非铁磁性涂镀层厚度。涂镀层厚度测量时可以精确测量钢铁表面的油漆层，陶瓷、搪瓷防护层， 塑料、橡胶覆盖层，以及化工石油行业的各种防腐涂层。需要涂镀层厚度测量的行业很广泛，例如工业油漆行业、汽车喷漆行业、金属表面处理行业等。其中工业油漆行业包括桥梁涮漆、船舶涮漆、航天航空器表面、家电等。汽车喷漆行业包括新车的喷漆检测，旧车的质量检测等。金属表面处理行业包括各种金属电镀等。现在大部分涂镀层厚度的测量范围从 0微米到1000微米左右，不同品牌产品因为侧重应用行业不同，测量上限或多或少，对使用影响不大。测量精度一般是1微米。但现有涂镀层厚度测量探头主要是基于线圈，结构复杂，不利于生产制造。本实用新型探头采用霍尔元件和永久磁铁作为探头的主要部件，结构简单，体积小，而且测量准确，方便实用
实用新型内容
本实用新型的目的在于改进上述现有技术中的不足而提供一种新型涂镀层厚度测量探头。本实用新型的目的通过以下措施来达到涂镀层厚度测量探头包括一探头接触点，探头外壳端面，探头外壳，霍尔元件的接线端头，探头外壳后端盖的开口处，永久磁铁，霍尔元件；所述探头外壳是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处，所述的霍尔元件的接线端头从所述圆管的后端盖开口处穿出；所述的探头外壳端面和所述的探头外壳连接，所述的探头接触点固定在所述的探头外壳端面的中心处，所述的霍尔元件固定在所述的探头外壳端面上，所述永久磁铁固定在所述的霍尔元件上。采用霍尔元件和永久磁铁结构的探头测量磁场的方法简单方便；只要给霍尔元件加上稳定直流电压，霍尔元件就可以给出与磁场强度相关的模拟或数字信号。计算机通过分析霍尔元件输出信号，提取检测信号的特征，就可以得到工件表面涂镀层厚度的信息。现在，涂镀层厚度测量技术可以应用于多种行业、多种产品的厚度检测，特别是涂料行业、汽车喷漆行业等。本实用新型的优点在于本实用新型可以用于测量各种工件表面上涂镀层的厚度；因为采用霍尔元件，所以测量效果稳定，而且整个探头结构简单，体积小，便于携带；采用霍尔元件和永久磁铁结构的探头测量涂镀层厚度时有很好的稳定性与重复性。


图1 本实用新型涂镀层厚度测量探头的剖面结构示意图。
具体实施例方式如图1所示为本实用新型涂镀层厚度测量探头的结构示意图。新型涂镀层厚度测量探头包括一探头接触点1，探头外壳端面2，探头外壳3，霍尔元件的接线端头4，探头外壳后端盖的开口处5，永久磁铁6，霍尔元件7 ；所述探头外壳3是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处5，所述的霍尔元件的接线端头4从所述圆管的后端盖开口处5穿出；所述的探头外壳端面2和所述的探头外壳3连接，所述的探头接触点1固定在所述的探头外壳端面2的中心处，所述的霍尔元件7固定在所述的探头外壳端面2上，所述永久磁铁 6固定在所述的霍尔元件7上。使用涂镀层厚度测量探头检测涂镀层厚度时，探头接触点1放在被测元件上，霍尔元件检测周围磁场变化信息，产生探测信号，探测信号经过放大、滤波等电路后输入到计算机中进行数据处理；然后根据磁场强度和涂镀层厚度的对应关系，就可以得到工件表面上涂镀层厚度信息。采用本实用新型探头的涂镀层测厚系统，可以精确的测量钢铁表面的油漆层，瓷、 搪瓷防护层、塑料、橡胶覆层，以及包括镍铬在内的各种有色金属电涂镀层和化工石油产业的各种防腐涂层，特别是涂料行业、汽车喷漆行业的涂镀层厚度。
权利要求
1.新型涂镀层厚度测量探头，其特征在于包括一探头接触点(1)，探头外壳端面0)， 探头外壳(3)，霍尔元件的接线端头G)，探头外壳后端盖的开口处(5)，永久磁铁(6)，霍尔元件(7)；所述探头外壳C3)是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处(5)，所述的霍尔元件的接线端头(4)从所述圆管的后端盖开口处(5)穿出；所述的探头外壳端面 (2)和所述的探头外壳C3)连接，所述的探头接触点(1)固定在所述的探头外壳端面(2)的中心处，所述的霍尔元件(7)固定在所述的探头外壳端面( 上，所述永久磁铁(6)固定在所述的霍尔元件(7)上。
全文摘要
本发明涉及一种涂镀层厚度测量探头，包括一探头接触点，探头外壳端面，探头外壳，霍尔元件的接线端头，探头外壳后端盖的开口处，永久磁铁，霍尔元件；所述探头外壳是一个带后端盖的圆管，所述圆管的后端盖有一开口处，所述的霍尔元件的接线端头从所述圆管的后端盖开口处穿出；所述的探头外壳端面和所述的探头外壳连接，所述的探头接触点固定在所述的探头外壳端面的中心处，所述的霍尔元件固定在所述的探头接触端面上，所述永久磁铁固定在所述的霍尔元件上；采用本发明探头的涂镀层测厚仪，可以应用于多种行业、多种产品的涂镀层厚度检测，特别是涂料行业、汽车喷漆行业等的涂镀层厚度测量。
文档编号G01B7/06GK102235851SQ201010152550
公开日2011年11月9日 申请日期2010年4月22日 优先权日2010年4月22日
发明者侯施娆, 姜威, 李长峰, 李长青, 石成玉, 翟玉生, 苏文玉 申请人:李长青