专利名称：一种红外探测器校正和测试通用工装的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种红外探测器校正和测试通用工装，具体涉及一种对红外探测 器校正和测试时的支撑机构。
背景技术：
红外成像技术是一种利用景物自身各部分辐射的差异获得可供目视的图像(或 序列视频信号)的技术。红外热成像仪器和系统具有透过烟雾、尘、雾、雪以及识别伪装的 能力，不受战场上强光、眩光干扰而致盲，可以进行远距离、全天候观察。红外图像的均勻清晰对目标观测、识别和辨认至关重要。红外探测器是红外成像 系统的核心部件。然而，对于目前的凝视焦平面红外探测器在生产过程中，由于材料和工艺 的限制，其焦平面会存在一些缺陷，造成探测的不均勻性，在使用中必须进行非均勻校正。 非均勻校正采用两点定标方法，这种定标方法需接收黑体在高低温时的辐射能量来解算校 正参数。定标效果好坏的关键是探测器各响应像元是否能接收相同的辐射能量，即要求在 探测器视场内接收黑体发出辐射能量是均勻的，在保证黑体本身材料发射率一致的情况 下，对于探测器和黑体辐射面的相对位置关系至关重要，如果探测器视场内接收到除黑体 以外的其它辐射能量，势必会造成接收能量不均勻的结果，影响校正效果。在保证黑体辐射 面材料均勻和实际使用中对升降温时间的要求看，要求本系统使用的黑体辐射面较小，而 探测器的视场却较大，所以应尽量将探测器贴近黑体辐射面，但探测器无限接近辐射面，势 必会对窗口造成接触破碎的可能，造成探测器的永久损坏，在精确计算黑体辐射面的面积、 探测器视场和保证探测器窗口安全的裕度基础上，探测器和黑体辐射面在几个方向的相对 位置均需精确控制。如能设计制作一种校正专用的工装，将探测器和黑体辐射面的位置进 行精确定位，必将大大提高探测器黑体校正的准确度和校正效率。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种能够大大提高红外探测器校正测准确度以及校正 效率的工装结构。本实用新型整体为一种红外探测器校正和测试通用工装，其中，整体为长方体结 构，两个相对的最小侧面处掏空，顶面中心位置加工限位槽，用于放置探测器，工装紧邻黑 体面的一个侧面上加工出突出的止档块。如上所述的一种红外探测器校正和测试通用工装，其中，限位槽保证探测器轴线 在水平面上能位于校正基座的中心位置，且探测器和黑体垂直，止档块用来固定基座和黑 体面的垂直位置，工装与黑体相邻的外侧面与黑体框架外边界贴合，止档块与黑体框架内 侧边缘配合，对黑体位置进行固定，从而使探测器的窗口正好位于黑体面的中心点；限位槽 的边线保证探测器距窗口距黑体面15mm的距离。如上所述的一种红外探测器校正和测试通用工装，其中，所述的限位槽为长方形， 所述的止档块为长方形，所述的红外探测器校正和测试通用工装制作材料选用铝件。[0008]本实用新型的优点是通过使用校正基座实现了探测器与面源黑体位置的精确定 位，提高了探测器校正的准确度；降低了由于摆放不到位导致的对校正数据影响，同时避 免了由于探测器窗口与黑体辐射面太近造成窗口损坏的风险；其次减少了试验前的准备 时间，只要将探测器放入基座表面限位槽就可进行试验，无需调整位置，大大提高了校正效 率，使用了铝件材料，轻便、易于加工。
图1为本实用红外探测器校正测试的基座的三维视图；图2为本实用红外探测器和校正基座的三维视图；图3为本实用红外探测器、校正基座和黑体的三维视图；图4为本实用红外探测器、校正基座和黑体的三维视图。图中1校正基座，2探测器放置限位槽，3探测器基座和黑体面固定的止档块，4红 外探测器机芯组件，5红外探测器窗口。
具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步的说明本实用新型的实现方式是通过精确测量现有面源黑体外框和探测器的实物外形 尺寸，根据探测器视场和校正的技术要求，设计制作了校正和测试的专用基座，制作材料选 用铝件并在表面进行发黑处理，能够减轻重量，便于加工。使用时需要先将基座和面源黑体 对正，然后将探测器放到基座表面的限位槽即可使用。如图1所示，一种红外探测器测试和校正专用基座，校正基座1它的尺寸是根据探 测器和面源黑体的高度宽度设计制作，尺寸是240mm*145mm*92mm的，在这个高度和宽度 上满足如下条件在高度上，探测器处于黑体的中心位置；如图2所示，根据探测器的组件的外形尺寸在基座1中心位置加工的宽度66mm深 度2mm限位槽2，保证探测器轴线在水平面上能位于校正基座1的中心位置，且探测器和黑 体垂直；如图3和图4所示，黑体面止档块3，长140mm，宽32mm，厚3mm，它用来固定基座和 黑体面的垂直位置，工装与黑体相邻的外侧面与黑体框架外边界贴合，止档块与黑体框架 内侧边缘配合，对黑体位置进行固定，从而使探测器的窗口 5正好位于黑体面的中心点。限位槽的边线保证探测器距窗口 5距黑体面15mm的距离。将红外探测器机芯组 件4放置到校正基座1的止档位置即可测试。首先将校正基座1和黑体面对齐并将止档块3卡在黑体面的后，将探测器4放置 到基座1的限位槽直到推到止档位置即可校正。
权利要求1.一种红外探测器校正和测试通用工装，其特征在于整体为长方体结构，两个相对 的最小侧面处掏空，顶面中心位置加工限位槽，用于放置探测器，工装紧邻黑体面的一个侧 面上加工出突出的止档块。
2.如权利要求1所述的一种红外探测器校正和测试通用工装，其特征在于限位槽保 证探测器轴线在水平面上能位于校正基座的中心位置，且探测器和黑体垂直，止档块用来 固定基座和黑体面的垂直位置，工装与黑体相邻的外侧面与黑体框架外边界贴合，止档块 与黑体框架内侧边缘配合，对黑体位置进行固定，从而使探测器的窗口正好位于黑体面的 中心点；限位槽的边线保证探测器距窗口距黑体面15mm的距离。
3.如权利要求2所述的一种红外探测器校正和测试通用工装，其特征在于所述的限 位槽为长方形，所述的止档块为长方形，所述的红外探测器校正和测试通用工装制作材料 选用铝件。
专利摘要本实用新型属于工装，具体是一种红外探测器校正和测试通用工装。目的是一种能够大大提高红外探测器校正测准确度以及校正效率的工装结构。本实用新型整体为一种红外探测器校正和测试通用工装，其中，整体为长方体结构，两个相对的最小侧面处掏空，顶面中心位置加工限位槽，用于放置探测器，工装紧邻黑体面的一个侧面上加工出突出的止挡块。实现了探测器与面源黑体位置的精确定位，提高了探测器校正的准确度；降低了由于摆放不到位导致的对校正数据影响，同时避免了窗口损坏的风险；减少了试验前的准备时间，只要将探测器放入基座表面限位槽就可进行试验，无需调整位置，大大提高了校正效率，使用了铝件材料，轻便、易于加工。
文档编号G01J5/52GK201837465SQ20102050978
公开日2011年5月18日 申请日期2010年8月30日 优先权日2010年8月30日
发明者韩士雷 申请人:中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所