专利名称：一种新型测绘仪支架的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种支架，尤其涉及一种新型测绘仪支架。
技术背景 测绘仪使用时一般都是放在测绘仪支架上进行测量，传统的测绘仪支架一般都是 三角支架，三个支撑脚都可以进行伸縮调节，但是若只是要调节竖直方向的高度，三个支撑 脚都要调节，这样比较麻烦，而且支架上端的支撑杆还会因为灰尘的落入，而影响测量精度
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种新型测绘仪支架，它能更加方便的实现微调，还设 置有保护套防止落入灰尘，从而提高测量精度。
为了解决背景技术所存在的问题，本实用新型是采用以下技术方案它由调节丝
杠1、保护套2、连接套3、调节柄4、支撑脚5和调节螺母6组成，调节丝杠1的外面设置有
保护套2，保护套2的外面设置有连接套3，调节柄4穿过连接套3与调节丝杠1相连，连接
套3下方与支撑脚5的上端相铰接，支撑脚5偏下处设置有调节螺母6。 本实用新型是用于放置测绘仪，并调节其高度以便测量，它上端的调节丝杠可以
通过调节柄直接实现微调，使用更加方便，调节丝杠外面设置的保护套可防止落入灰尘，从
而提高测量精度。

图1为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
参照图1，本具体实施方式
采用以下技术方案它由调节丝杠1、保护套2、连接套 3、调节柄4、支撑脚5和调节螺母6组成，调节丝杠1的外面设置有保护套2，保护套2的外 面设置有连接套3，调节柄4穿过连接套3与调节丝杠1相连，连接套3下方与支撑脚5的 上端相铰接，支撑脚5偏下处设置有调节螺母6。 本具体实施方式
是用于放置测绘仪，并调节其高度以便测量，它上端的调节丝杠 可以直接实现微调，使用更加方便，调节丝杠外面设置的保护套可防止落入灰尘，从而提高 测量精度。
权利要求一种新型测绘仪支架，其特征在于它由调节丝杠(1)、保护套(2)、连接套(3)、调节柄(4)、支撑脚(5)和调节螺母(6)组成，调节丝杠(1)的外面设置有保护套(2)，保护套(2)的外面设置有连接套(3)，调节柄(4)穿过连接套(3)与调节丝杠(1)相连，连接套(3)下方与支撑脚(5)的上端相铰接，支撑脚(5)偏下处设置有调节螺母(6)。
专利摘要一种新型测绘仪支架，它涉及一种支架。它由调节丝杠(1)、保护套(2)、连接套(3)、调节柄(4)、支撑脚(5)和调节螺母(6)组成，调节丝杠(1)的外面设置有保护套(2)，保护套(2)的外面设置有连接套(3)，调节柄(4)穿过连接套(3)与调节丝杠(1)相连，连接套(3)下方与支撑脚(5)的上端相铰接，支撑脚(5)偏下处设置有调节螺母(6)。它上端的调节丝杠可以直接调节竖直方向的高度，实现微调，使用更加方便，调节丝杠外面设置的保护套防止落入灰尘，从而提高测量精度。
文档编号G01D11/30GK201548254SQ20092004879
公开日2010年8月11日 申请日期2009年10月28日 优先权日2009年10月28日
发明者王家恩 申请人:南通佳恩测绘仪器有限公司