专利名称：单芯棒尺寸测量仪的制作方法
技术领域：
本 实用新型涉及一种单芯棒尺寸测量仪。
背景技术：
在制作带有V型状零件2'的过程中，往往会用到测量芯棒1'来检测尺寸精度， 已确定该零件的制造精度是否合格(见示意图广3)。测量芯棒1'的制造精度将直接影响整个V型状零件2'尺寸的测量精度，尤其测量芯棒1'的端面12'与测量芯棒1'的测量圆面1Γ的垂直度对于测量精度的影响很大(见示意图3)，是因为在测量过程中，测量芯棒1'的端面12'放在工作台上，测量芯棒1'的测量圆面11'与V型状零件2'的型面直接接触，但测量芯棒1'的端面12'与测量芯棒1'的测量圆面1Γ的垂直度误差将会影响到测量芯棒1'的测量圆面11'到测量基准面3'的尺寸的真实性。为此，对测量芯棒1'的垂直度制造要求很高，但在测量芯棒Γ的制造过程中， 只重视测量圆面11'的粗糙度，忽视了两者间的垂直度，并且制造也较困难，在测量芯棒 1'制作工艺过程中的垂直度误差较大。
发明内容为解决现有测量芯棒在测量过程中精度不高的问题，提供了一种检测尺寸真实、 可靠，尺寸的重复性一致的单芯棒尺寸测量仪。 本实用新型的技术方案 单芯棒尺寸测量仪，其特征在于包括测量面板和测量芯棒，所述测量面板呈长方体结构，其面积大的一面开有与该面垂直的光孔，所述光孔与测量芯棒过度配合。进一步，所述光孔是铰孔。本实用新型的测量面板的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各对应面有一定的平行度要求。所述光孔与面积大的一面有一定的垂直度要求，并且为铰孔，有一定的粗糙度和圆度误差；与相应规格要求的测量芯棒为其过度配合，这样，测量芯棒的测量圆面与测量面板能达到相应规格的垂直要求。由于测量芯棒的端面与测量芯棒的测量圆面之间的垂直度与测量尺寸没有联系， 在使用测量芯棒检测V型状零件时，只反应测量基准面与测量芯棒的尺寸。在测量过程中， 只要把带V型面的零件放在该单芯棒尺寸测量仪上，使V型面靠在测量芯棒上，其底面与测量面板接触，用量具测量出其测量芯棒外侧圆面端到测量基准面的尺寸即可。本实用新型的有意效果测量精度与测量芯棒的垂直度无关，测量精度高；检测尺寸真实可靠。

图1是原先使用的测量芯棒的主视图。图2是原先使用的测量芯棒的侧视图。图3是原先使用的测量芯棒检测示意图。[0012]图4是本实用新型的主视剖视图。图5是本实用新型的侧视剖视图。图6是本实用新型的俯视图。图7是本实用新型测量过程示意图。
具体实施方式参照图4-7，单芯棒尺寸测量仪，包括测量面板1和测量芯棒2，所述测量面板1呈长方体结构，其面积大的一面开有与该面垂直的光孔3，所述光孔3与测量芯棒2过度配合。所述光孔3是铰孔。本实用新型的测量面板1的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各对应面有一定的平行度要求。所述光孔3与面积大的一面有一定的垂直度要求，并且为铰孔，有一定的粗糙度和圆度误差；与相应规格要求的测量芯棒2为其过度配合，这样，测量芯棒2的测量圆面与测量面板1能达到相应规格的垂直要求。由于测量芯棒2的端面与测量芯棒2的测量圆面之间的垂直度与测量尺寸没有联系，在使用测量芯棒2检测V型状零件4时，只反应测量基准面5与测量芯棒2的尺寸。在测量过程中，只要把带V型面的零件放在该单芯棒尺寸测量仪上，使V型面靠在测量芯棒2 上，其底面与测量面板1接触，用量具测量出其测量芯棒2外侧圆面端到测量基准面5的尺寸即可。本说明书实施例所述的内容仅仅是对实用新型构思的实现形式的列举，本实用新型的保护范围的不应当被视为仅限于实施例所陈述的具体形式，本实用新型的保护范围也及于本领域技术人员根据本实用新型构思所能够想到的等同技术手段。
权利要求1.单芯棒尺寸测量仪，其特征在于包括测量面板和测量芯棒，所述测量面板呈长方体结构，其面积大的一面开有与该面垂直的光孔，所述光孔与测量芯棒过度配合。
2.根据权利要求1所述的单芯棒尺寸测量仪，其特征在于所述光孔是铰孔。
专利摘要单芯棒尺寸测量仪，包括测量面板和测量芯棒，所述测量面板呈长方体结构，其面积大的一面开有与该面垂直的光孔，所述光孔与测量芯棒过度配合。本实用新型的有益效果测量精度与测量芯棒的垂直度无关，测量精度高；检测尺寸真实可靠。
文档编号G01B5/00GK202057263SQ20112008181
公开日2011年11月30日 申请日期2011年3月25日 优先权日2011年3月25日
发明者冯刚 申请人:浙江工业职业技术学院