专利名称：塑封体裂纹外观检查料条的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种塑封体裂纹外观检查料条，属于半导体封装行业。
背景技术：
芯片在生产过程中，塑封体表面难免因各种异常会产生裂纹，导致部分产品检测不合格，传统的做法是在对料条中的产品逐一用显微镜进行塑封体裂纹检查，当发现不良品时，由于传统的塑封体裂纹外观检查料条只有两端开口，不能任意将产品取出，只能记录下位置，然后将料条中产品一一倒出，数至不良品的位置，将不良品更换，使得更换效率较低，增加工人的工作强度。
发明内容本实用新型的目的在于克服上述不足，提供一种检查效率较高，降低工人的工作强度的塑封体裂纹外观检查料条。本实用新型的目的是这样实现的一种塑封体裂纹外观检查料条，它包括空心的料条本体,所述料条本体的横截面呈“凹”字型结构，所述料条本体的两端开口，所述料条本体的一侧面沿长度方向开设有标记槽，所述标记槽的形状呈矩形。与现有技术相比，本实用新型的有益效果是本实用新型由于料条本体的一侧面沿长度方向开设有标记槽，在检查不良品时，只需在显微镜下整条检查，当发现不良品时，在标记槽的一侧将不良品上用记号笔标记出颜色，整条检查完毕后，将产品全部倒出料条，然后挑选出标记颜色的不良品，不用将产品一一倒出，数至不良品的位置，大大的增加了产品检查的效率。本实用新型塑封体裂纹外观检查料条具有检查效率较高，降低工人的工作强度的优点。

图1为本实用新型塑封体裂纹外观检查料条的结构示意图。其中料条本体I标记槽2。
具体实施方式
参见图1，本实用新型涉及的一种塑封体裂纹外观检查料条，它包括空心的料条本体I，所述料条本体I的横截面呈“凹”字型结构，所述料条本体I的两端开口，所述料条本体I的一侧面沿长度方向开设有标记槽2。所述标记槽2的形状呈矩形。
权利要求1.一种塑封体裂纹外观检查料条，它包括空心的料条本体(I)，所述料条本体(I)的横截面呈“凹”字型结构，所述料条本体(I)的两端开ロ，其特征在于所述料条本体(I)的ー侧面沿长度方向开设有标记槽(2 )。
2.根据权利要求1所述的ー种塑封体裂纹外观检查料条，其特征在于所述标记槽(2)的形状呈矩形。
专利摘要本实用新型涉及一种塑封体裂纹外观检查料条，它包括空心的料条本体(1)，所述料条本体(1)的横截面呈“凹”字型结构，所述料条本体(1)的两端开口，其特征在于所述料条本体(1)的一侧面沿长度方向开设有标记槽(2)。本实用新型由于料条本体的一侧面沿长度方向开设有标记槽，在检查不良品时，只需在显微镜下整条检查，当发现不良品时，在标记槽的一侧将不良品上用记号笔标记出颜色，整条检查完毕后，将产品全部倒出料条，然后挑选出标记颜色的不良品，不用将产品一一倒出，数至不良品的位置，大大的增加了产品检查的效率。本实用新型塑封体裂纹外观检查料条具有检查效率较高，降低工人的工作强度的优点。
文档编号G01N21/88GK202869991SQ20122056957
公开日2013年4月10日 申请日期2012年11月1日 优先权日2012年11月1日
发明者汪本祥 申请人:江阴苏阳电子股份有限公司