专利名称：飞针测试机的测头机构的制作方法
技术领域：
飞针测试机的测头机构
技术领域：
本实用新型涉及线路板测试技术，尤其是一种抗弯折、耐用的飞针测试 机的测头机构。背景技术：
飞针测试是一个检査PCB电性功能的方法(开短路测试)之一，飞针测 试机是在制造环境测试PCB板的测试系统。在测单元通过皮带或者其它传送 系统输送到测试机内后，飞针测试机将各个独立控制的探针移动到待测组件 上，测试机的探针接触测试焊盘(test pad)和通路孔(via)从而测试在测单元 (UUT)的单个组件。现有技术中测头机构的结构如图1和图2所示，飞针测 试机的探针1是安装在测头机构上的，为了适应不同结构和尺寸的待测单元， 测试时经常需要弯折测头机构的旋臂以使探针1移动到待测组件上的准确位 置。在a、 b、 c和d位置处，开设凹槽形成薄壁结构(参见图2)，使得a、 b、 c和d位置处可以发生一定程度的弯折。凹槽不能开得太浅，否则旋臂弯折 不便且弯折程度有限；凹槽如果太深，凹槽处的强度大为降低，容易断裂。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种抗弯折、耐用的飞针测试机 的测头机构。
为解决上述技术问题，本实用新型提供一种飞针测试机的测头机构，包 括两个或两个以上旋臂，相邻接的两个旋臂形成铰接结构。铰接结构可以灵 活地发生弯折，而且耐用。
在此基础上，进一步地
作为一种具体形式，铰接结构包括铰接轴、分别设于相邻接的两个旋臂 上的轴孔，铰接轴和轴孔相适配，铰接轴穿插于相邻接的两个旋臂上的轴孔 中。
作为本实用新型的改进，铰接结构中包括可使铰接机构的两个旋臂保持 在预定位置关系的记忆金属片。当相邻两个旋臂在外力作用下二者相对位置 发生变化时，记忆合金片发生弯曲；外力消失后记忆合金片有助于两个旋臂 回复到预定位置。作为本实用新型的进一步改进，铰接轴的两端从轴孔中露出，露出的铰 接轴的两端分别被固定件固定。
固定件可以是C型扣环，露出的铰接轴的两端分别设有与C型扣环相适 配的卡槽。
固定件也可以是螺帽，露出的铰接轴的两端分别设有与螺帽相适配的外 螺纹。
本实用新型的有益效果是测头机构的旋臂之间连接稳固，并可灵活转 动，抗绕性好，可延长设备使用寿命，减少因损坏之维修给生产带来的不便， 提高生产效率。采用记忆合金片有助于旋臂复位、探针精准定位。

下面通过具体实施方式
并结合附图，对本实用新型作进一步的详细说明
图1是现有技术中一种测头机构的结构示意图2是图1中的局部A的放大示意图3是本实用新型一种具体实施方式
的结构示意图4是图3的局部B的放大示意图5是图4的C-C剖视图6是图4中左侧旋臂2的俯视示意图7是图4中右侧旋臂3的俯视示意图8是图4中铰接轴4的的俯视示意图9是图3所示测头机构的工作状态示意图。
具体实施方式
图3-图9示出了本实用新型的一种具体实施方式
。
对比图1和图3，图3中的测头机构在与图1所示现有技术测头机构中a、 b、 c和d相应的位置处设置了铰链结构(供4个)，铰链结构可以灵活地发 生弯折，而且耐用。
4个铰链结构采用相同的结构。结合图4-图8，图4中左侧旋臂2和右 侧旋臂3上分别设有轴孔，铰接轴4穿插于左侧旋臂2和右侧旋臂3 二者的 轴孔中，铰接轴4和轴孔相适配，铰接轴4的两端从轴孔中露出，露出的铰 接轴4的两端分别被C型扣环5固定，露出的铰接轴4的两端分别设有与C 型扣环5相适配的卡槽。
如图4所示，铰接结构中还包括可使铰接机构的左侧旋臂2和右侧旋臂 —3保持在预定位置关系的记忆金属片6。记忆金属片6的两端采用螺钉分别固定在左侧旋臂2和右侧旋臂3上。当左侧旋臂2和右侧旋臂3在外力作用下 二者相对位置发生变化时，记忆金属片6发生弯曲(参见图9);外力消失后 记忆金属片6有助于左侧旋臂2和右侧旋臂3回复到图4所示的位置状态。
测试时，驱动器(附图中未示出)通过金属撑杆使左侧旋臂2和右侧旋 臂3之间发生相对转动、探针1尖端的高度位置随之发生改变，然后整个测 头机构连同其上的探针1一起移动至工作位置(工作位置对应于测试板面上 的测试点；因探针1尖端的高度位置已改变，移动过程中探针1不会与测试 板或其它部件发生接触)，此时金属撑杆施加在旋臂上的外力释放，探针1 下移至与测试板面上的测试点接触，进行测试。
在该测头机构中，左侧旋臂2和右侧旋臂3之间的相对转动属于微调， 需移动的幅度较小， 一般探针1尖端移动的最大高度差为17mm，左侧旋臂2 和右侧旋臂3之间旋转角度约0-10度；设置了记忆金属片6以后，记忆金属 片6的弹性作用一方面使旋臂始终保持在可控的角度之间，另一方面在工作 完后可以使旋臂很快复位。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细 说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型 所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还 可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
权利要求1、一种飞针测试机的测头机构，包括两个或两个以上旋臂，其特征在于相邻接的两个所述旋臂形成铰接结构。
2、 根据权利要求1所述的飞针测试机的测头机构，其特征在于所述 铰接结构包括铰接轴、分别设于相邻接的两个所述旋臂上的轴孔，所述铰接 轴和轴孔相适配，所述铰接轴穿插于相邻接的两个所述旋臂上的轴孔中。
3、 根据权利要求1或2所述的飞针测试机的测头机构，其特征在于.-所述铰接结构中包括可使所述铰接机构的两个所述旋臂保持在预定位置关系 的记忆金属片。
4、 根据权利要求3所述的飞针测试机的测头机构，其特征在于所述 铰接轴的两端从所述轴孔中露出，露出的所述铰接轴的两端分别被固定件固 定。
5、 根据权利要求4所述的飞针测试机的测头机构，其特征在于所述固 定件为C型扣环，露出的所述铰接轴的两端分别设有与所述C型扣环相适配 的卡槽。
6、 根据权利要求4所述的飞针测试机的测头机构，其特征在于所述固 定件为螺帽，露出的所述铰接轴的两端分别设有与所述螺帽相适配的外螺纹。
专利摘要本实用新型公开了一种飞针测试机的测头机构，包括多个旋臂，相邻两旋臂通过铰接轴铰接。测头上旋臂之间连接稳固，并可灵活转动，抗绕性好，不仅可延长设备使用寿命，减少因损坏之维修给生产带来的不便，提高生产效率，而且可以提供较固定精准的测点移动。
文档编号G01R31/02GK201368888SQ200920135278
公开日2009年12月23日 申请日期2009年2月27日 优先权日2009年2月27日
发明者胡光初 申请人:统将(惠阳)电子有限公司;同健(惠阳)电子有限公司;通元科技(惠州)有限公司