专利名称：一种光谱样块用简易检查装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检查装置，尤其涉及一种光谱样块用简易检查装置。
背景技术：
目前的光谱样块检查工序在中转包中取样，送到光谱室进行检测。具体来说，在此期间光谱室须将样块作切削加工平整后才能准确作光谱分析。但是样块作切削加工目前是送到(CNC)车床来加工，一是有杀鸡用牛刀的感觉，二是(CNC)车床是有生产任务的，样块加工材质不同，又得中断生产，三是没有生产任务时(CNC)车床无人操作，影响样块加工，四是安排一专人来为车样块又浪费人力成本。并且，即使是使用普通车床来加工，由于不同的样块的大小不同，使得每件加工时都要花较多时间来加工。

发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的以上问题，提供一种光谱样块用简易检查
直ο为实现本发明的目的一种光谱样块用简易检查装置，包括有装置支架，所述的装置支架上端分布有检查台板，其中所述的检查台板上至少分布有三个勾爪，所述的三个勾爪之间预留有光谱样块卡接空间。进一步地，上述的一种光谱样块用简易检查装置，其中，所述的三个勾爪呈圆环状等距离分布。更进一步地，上述的一种光谱样块用简易检查装置，其中，所述的勾爪上分布有引导斜面。采用本发明技术方案，其占地面积小，在试验室内可以存放，不会影响到工厂本身的布局改变。更为重要的是，本发明无需对样块进行切削加工的平整工序，提升了检测速度。并且，配合专用样块模具使用效果最佳。本发明的目的、优点和特点，将通过下面优先实施例的非限制性说明进行图示和解释，这些实施例是参照附图仅作为例子给出的。


图1是本光谱样块用简易检查装置的正面使用示意图；图2是本光谱样块用简易检查装置的侧面使用示意3是勾爪上带有引导斜面的构造示意图；图4是勾爪上带有引导斜面的使用示意图。图中各附图标记的含义如下1检查台板 2勾爪3光谱样块 4引导斜面
具体实施例方式如图1 4所示的一种光谱样块用简易检查装置，包括有装置支架，在装置支架的上端分布有检查台板1，其特别之处在于本发明所采用的检查台板1上至少分布有三个勾爪2。并且，该三个勾爪2之间预留有光谱样块卡接空间。结合本发明一较佳的实施方式来看，为了能够适应绝大多数的光谱样块3，实现第一时间的定位取样，本发明所采用的三个勾爪2呈圆环状等距离分布。同时，考虑到操作人员取放光谱样块3的便捷程度，在勾爪2上分布有引导斜面4。这样，还能够避免勾爪2对光谱样块3的外围进行刮伤的情况。从本发明的实施过程来看，其操作过程十分便捷，使用者仅需要将光谱样块3放置到卡接空间内，即可实现三个勾爪2对光谱样块3的卡接定位。免去了将样块作切削加工平整的过程。通过上述的文字表述并结合附图可以看出，采用本发明后，其占地面积小，在试验室内可以存放，不会影响到工厂本身的布局改变。更为重要的是，本发明无需对样块进行切削加工的平整工序，提升了检测速度。并且，配合专用样块模具使用效果最佳。当然，以上仅是本发明的具体应用范例，对本发明的保护范围不构成任何限制。除上述实施例外，本发明还可以有其它实施方式。凡采用等同替换或等效变换形成的技术方案，均落在本发明所要求保护的范围之内。
权利要求
1.一种光谱样块用简易检查装置，包括有装置支架，所述的装置支架上端分布有检查台板，其特征在于所述的检查台板上至少分布有三个勾爪，所述的三个勾爪之间预留有光谱样块卡接空间。
2.根据权利要求1所述的一种光谱样块用简易检查装置，其特征在于所述的三个勾爪呈圆环状等距离分布。
3.根据权利要求1所述的一种光谱样块用简易检查装置，其特征在于所述的勾爪上分布有引导斜面。
全文摘要
本发明涉及一种光谱样块用简易检查装置，包括有装置支架，在装置支架的上端分布有检查台板，其特点是本发明所采用的检查台板上至少分布有三个勾爪。并且该三个勾爪之间预留有光谱样块卡接空间。本发明占地面积小，在试验室内可以存放，不会影响到工厂本身的布局改变。更为重要的是，本发明无需对样块进行切削加工的平整工序，提升了检测速度。并且，配合专用样块模具使用效果最佳。
文档编号G01N21/25GK102564952SQ20101057669
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月7日 优先权日2010年12月7日
发明者许福寿 申请人:苏州春兴精工股份有限公司