专利名称：一种三晶led测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及LED技术领域，具体涉及ー种三晶LED测试装置。
技术背景 现有技术的四脚三晶LED、六脚三晶LED自动测试系统使用已经非常广泛，但并不完善，虽然号称可以测试三晶LED，但很多无法进行三晶测试，有的虽能将三个晶片逐一测试，但无法测试混合光；有的虽可测试混合光，但需要预先排好方向确定好LED脚位，无法自动识别LED脚位，而且需要三片源表测板卡，成本较高。
发明内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种三晶LED测试装置，克服现有技术的三晶LED自动测试系统无法测试混合光，以及无法自动识别LED脚位的缺陷。本实用新型为解决上述技术问题所采用的技术方案为一种三晶LED测试装置，包括源表，所述源表包括输出端高端、输出端低端以及测量端高端和測量端低端，所述输出端高端连接第一四路选择开关共路端，所述测量端高端连接第二四路选择开关共路端，第一四路选择开关包括第一分路端、第二分路端和第三分路端，第一分路端连接第一导线，第二分路端连接第二导线，第三分路端连接第三导线，第ニ四路选择开关包括第四分路端、第五分路端和第六分路端，第四分路端连接第四导线，第五分路端连接第五导线，第六分路端连接第六导线，第一导线和所述输出端低端分别连接第一两路选择开关的两个分路端，第一两路选择开关的共路端连接第一待测LED晶片，第ニ导线和所述输出端低端分别连接第二两路选择开关的两个分路端，第二两路选择开关的共路端连接第二待测LED晶片，第三导线和所述输出端低端分别连接第三两路选择开关的两个分路端，第三两路选择开关的共路端连接第三待测LED晶片，还包括第三四路选择开关，第三四路选择开关的四个分路端分别连接所述输出端低端、第一导线、第二导线和第三导线，第三四路选择开关的共路端连接待测LED的公共脚，还包括第四四路选择开关，第四四路选择开关的共路端连接所述测量端低端，第四四路选择开关的四个分路端分别连接第一两路选择开关的共路端、第二两路选择开关的共路端、第三两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚，还包括第四两路选择开关、第五两路选择开关和第六两路选择开关，第四两路选择开关的共路端连接第四导线，第四两路选择开关的两个分路端分别连接第一两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚，第五两路选择开关的共路端连接第五导线，第五两路选择开关的两个分路端分别连接第二两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚，第六两路选择开关的共路端连接第六导线，第六两路选择开关的两个分路端分别连接第三两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚。所述的三晶LED测试装置，其中第一四路选择开关和第二四路选择开关由2X4路联动开关构成。所述的三晶LED测试装置，其中还包括第一恒流源和第二恒流源，第一恒流源和第二恒流源分别与所述源表、第一导线、第二导线和第三导线连接。所述的三晶LED测试装置，其中所述源表设为KEITHLEY2400。本实用新型的有益效果本实用新型自动将电流切换到每个晶片上，对单个晶片逐一进行光电测试，也可以让三个晶片以相等的电流同时点亮，进行混合光测试，放置LED吋，无需辨别方向和脚位，各路驱动电流一致性高，測量准确性更高，测试速度快，操作方便，可靠，本实用新型大大提高了 LED的测试速度，推进了 LED测试装置的技术进歩。

本实用新型包括如下附图图I为本实用新型示意图；图2为本实用新型晶片共阳极测试示意图；图3为本实用新型晶片共阴极测试示意图；图4为本实用新型晶片共阳混合光测试示意图；图5为本实用新型晶片脚位位置变换测试示意图。
具体实施方式
下面根据附图和实施例对本实用新型作进ー步详细说明如图I所示，本实用新型三晶LED测试装置包括源表，源表包括输出端高端冊、输出端低端FL以及测量端高端SH和測量端低端SL，输出端高端FH连接第一四路选择开关共路端，測量端高端SH连接第二四路选择开关共路端，第一四路选择开关包括第一分路端冊1、第二分路端 2和第三分路端FH3，第一分路端Hll连接第一导线，第二分路端 2连接第二导线，第三分路端FH3连接第三导线，第二四路选择开关包括第四分路端SH1、第五分路端SH2和第六分路端SH3，第四分路端SHl连接第四导线，第五分路端SH2连接第五导线，第六分路端SH3连接第六导线，第一导线和输出端低端FL分别连接第一两路选择开关J3的两个分路端，第一两路选择开关J3的共路端连接第一待测LED晶片，第二导线和输出端低端FL分别连接第二两路选择开关J4的两个分路端，第二两路选择开关J4的共路端连接第二待测LED晶片，第三导线和输出端低端FL分别连接第三两路选择开关J5的两个分路端，第三两路选择开关J5的共路端连接第三待测LED晶片，还包括第三四路选择开关J6，第三四路选择开关J6的四个分路端分别连接输出端低端FL、第一导线、第二导线和第三导线，第三四路选择开关J6的共路端连接待测LED的公共脚，还包括第四四路选择开关J10，第四四路选择开关JlO的共路端连接測量端低端SL，第四四路选择开关JlO的四个分路端分别连接第一两路选择开关J3的共路端、第二两路选择开关J4的共路端、第三两路选择开关J5的共路端和待测LED的公共脚，还包括第四两路选择开关J7、第五两路选择开关J8和第六两路选择开关J9，第四两路选择开关J7的共路端连接第四导线，第四两路选择开关J7的两个分路端分别连接第一两路选择开关J3的共路端和待测LED的公共脚，第五两路选择开关J8的共路端连接第五导线，第五两路选择开关J8的两个分路端分别连接第二两路选择开关J4的共路端和待测LED的公共脚，第六两路选择开关J9的共路端连接第六导线，第六两路选择开关J9的两个分路端分别连接第三两路选择开关J5的共路端和待测LED的公共脚。第一四路选择开关和第二四路选择开关由2X4路联动开关Jl构成。还包括第一恒流源SCl和第二恒流源SC2，第一恒流源SCl和第二恒流源SC2分别与源表、第一导线、第二导线和第三导线连接。源表设为KEITHLEY2400。逐个晶片共阳极测试如图2所示，三晶共阳逐个晶片极测吋，Jl联动开关打到FH1、SHl可对芯片3进行测试，打到FH2、SH2可对芯片2进行点亮测试，打到冊3、SH3可对芯片I进行点亮测 试，电流从FL端经J6开关到芯片，再经J3/J4/J5和Jl回到端。逐个晶片共阴极测试如图3所示，三晶共阴逐个晶片极测吋，Jl联动开关打到FH1、SHl可对芯片3进行测试，打到FH2、SH2可对芯片2进行点亮测试，打到冊3、SH3可对芯片I进行点亮测试，电流从FH端经Jl和J3/J4/J5到芯片，再经J6回到FL端。共阳混合光测试如图4所示，混合光测试的时候，不測电性參数，只测光学參数，不需用到精密源表来測量，只要将每ー个LED芯片以相同的额定电流来点亮就行，图中三路精密可控恒流模块的电源-V来自源表内部，点亮LED吋，Jl打在FM档，电流从FL端经J6到芯片，再经J3/J4/J5和J12回到SC2恒流模块。共阴混合光测试共阴测试与共阳测试类似，只是电流是从SCl恒流模块经Jll和J3/J4/J5到LED，再经J6回到FL。脚位位置变换测试由于生产测试的时候，LED公共脚焊接可能不一样，或者测试吋，LED调转了方向，就会导致公共脚的位置发生变化，而测试探针的位置是不变的，本设计方案可以方便的进行公共脚变换。公共脚和ΠΠ互换如图5所示，J3、J7打到COM端，J6打到FHl端，JlO打到SHl端，其他开关J4/J5/J8/J9不变，这样就实现了脚位互換，不管是共阴共阳，按前面的方法就可以进行逐个晶片测试或混合光测试、依照前面的方法就可以实现。公共脚和 2互换J4、J8打到COM端，J6打到 2端，JlO打到SH2端，其他开关J3/J5/J7/J9不变，这样就实现了脚位互換。公共脚和 3互换J5、J9打到COM端，J6打到 3端，JlO打到SH3端，其他开关J3/J4/J7/J8不变，这样就实现了脚位互換。本领域技术人员不脱离本实用新型的实质和精神，可以有多种变形方案实现本实用新型，以上所述仅为本实用新型较佳可行的实施例而已，并非因此局限本实用新型的权利范围，凡运用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变化，均包含于本实用新型的权利范围之内。
权利要求1.一种三晶LED测试装置，其特征在于包括源表，所述源表包括输出端高端、输出端低端以及测量端高端和測量端低端，所述输出端高端连接第一四路选择开关共路端，所述測量端高端连接第二四路选择开关共路端，第一四路选择开关包括第一分路端、第二分路端和第三分路端，第一分路端连接第一导线，第二分路端连接第二导线，第三分路端连接第三导线，第二四路选择开关包括第四分路端、第五分路端和第六分路端，第四分路端连接第四导线，第五分路端连接第五导线，第六分路端连接第六导线，第一导线和所述输出端低端分别连接第一两路选择开关的两个分路端，第一两路选择开关的共路端连接第一待测LED晶片，第二导线和所述输出端低端分别连接第二两路选择开关的两个分路端，第二两路选择开关的共路端连接第二待测LED晶片，第三导线和所述输出端低端分别连接第三两路选择开关的两个分路端，第三两路选择开关的共路端连接第三待测LED晶片，还包括第三四路选择开关，第三四路选择开关的四个分路端分别连接所述输出端低端、第一导线、第二导线和第三导线，第三四路选择开关的共路端连接待测LED的公共脚，还包括第四四路选择开关，第四四路选择开关的共路端连接所述测量端低端，第四四路选择开关的四个分路端分别连接第一两路选择开关的共路端、第二两路选择开关的共路端、第三两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚，还包括第四两路选择开关、第五两路选择开关和第六两路选择开关，第四两路选择开关的共路端连接第四导线，第四两路选择开关的两个分路端分别连接第一两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚，第五两路选择开关的共路端连接第五导线，第五两路选择开关的两个分路端分别连接第二两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚，第六两路选择开关的共路端连接第六导线，第六两路选择开关的两个分路端分别连接第三两路选择开关的共路端和待测LED的公共脚。
2.根据权利要求I所述的三晶LH)测试装置，其特征在于第一四路选择开关和第ニ四路选择开关由2X4路联动开关构成。
3.根据权利要求2所述的三晶LED测试装置，其特征在于还包括第一恒流源和第二恒流源，第一恒流源和第二恒流源分别与所述源表、第一导线、第二导线和第三导线连接。
4.根据权利要求3所述的三晶LED测试装置，其特征在干所述源表设为KEITHLEY2400。
专利摘要本实用新型公开了一种三晶LED测试装置，属于LED技术领域。本实用新型要解决的技术问题是克服现有技术的三晶LED自动测试系统无法测试混合光，以及无法自动识别LED脚位的缺陷。本实用新型自动将电流切换到每个晶片上，对单个晶片逐一进行光电测试，也可以让三个晶片以相等的电流同时点亮，进行混合光测试，放置LED时，无需辨别方向和脚位，各路驱动电流一致性高，测量准确性更高，测试速度快，操作方便，可靠，本实用新型大大提高了LED的测试速度，推进了LED测试装置的技术进步。
文档编号G01R31/26GK202433490SQ201120562260
公开日2012年9月12日 申请日期2011年12月29日 优先权日2011年12月29日
发明者廖湘涛, 李冰, 林开钊, 王建江 申请人:东莞市中谱光电设备有限公司