专利名称：测试机台的定位结构的制作方法
技术领域：
本 实用新型有关一种测试机台的定位结构，提供一种用于测试印刷电路板、半导 体封装组件或晶圆等被测物是否有断路或不良等现象的测试机台，可使被测物快速定位于 测试治具上，并可构成被测物与测试治具间接触稳定性的定位结构。
背景技术：
按，一般具有复数个被测点(如电子组件的接点)的诸如印刷电路板、半导体封装 组件或晶圆等制成后，均需透过一种专用治具予以检测，而藉以确认是否为良品或有无断 路现象。又，按习知产业间所采用检测该诸如印刷电路板、半导体封装组件或晶圆等被测物 的方式，大抵如图1所示，在一治具10上表设置有若干支探针20，该若干支探针20且配合 被测物30底面的各被检测点(图未示)位置设置；另，并设有至少一接头11，该接头11 一 端与探针20电性连接，而该等接头11另端且与电路检测机的排线(图未示)相连接导通。当检测被测物30时，预先将电路测试机的排线插入接头11，续将被测物30对应放 置在治具10的探针20上，藉由探针20与被测物30底面的被检测点接触后，电路测试机便 可显示被测物30是否有断路或不良等现象。又，为了使该被测物30诸被检测点的检测确 实性，及被测物30被探针20实施触压检测时，该探针20或被检测点不会发生破坏现象，该 诸探针20且设置呈可弹性伸缩作动。然而，一般被测物30直接放置在治具10的探针20上，而进行检测，有时会因为各 探针组装时高低不一，或者该被测物的被检测点高低不一，使该被测物30无法确实平均压 触于各探针20上，以至于有部分被检测点无法接触探针，令检测结果产生不准确和不确实 的情形。

实用新型内容本实用新型所解决的技术问题即在提供一种用于测试印刷电路板、半导体封装组 件或晶圆等被测物是否有断路或不良等现象的测试机台，可使被测物快速定位于测试治具 上，并可构成被测物与测试治具间接触稳定性的定位结构。本实用新型的技术方案为一种测试机台的定位结构，该测试机台设有至少一测 试基座，该测试基座上并设有一测试治具，而该测试治具内并设有复数探针，各探针与检测 主机连结，由各探针与被测物的被检测点接触而进行测试；该测试基座并设有一定位结构， 该定位结构设有一垫体、一吸引组件以及至少一真空吸孔，该垫体套设于该测试基座顶部 外侧，且该垫体略高于该测试治具，该真空吸孔设于该测试基座并相对设于该测试治具与 垫体间，而该吸引组件与该真空吸孔相通，由该真空吸孔吸附该被测物，而使其定位于该测 试治具上。该测试机台设有一承置体以及一连接支架，该承置体与该连接支架相互垂直设 置，该测试基座设于该承置体上，而该连接支架上则设有至少一连接区域，该连接区域设有 复数接点，各接点与测试治具的探针相连接。[0008]该连接区域上进一步连接有连接器，该连接器设有复数与该连接区域各接点相对 应的端子，该连接器另端则与检测主机相连接。该连接支架设有至少一对位孔，而该连接器并设有至少一与该对位孔相对的插 柱。该连接 器藉由至少一固定件固定于该测试机台上。该垫体为软性材质。该被测物设置于一承载台上，由该承载台放置于该测试基座上，并与该垫体接触。该承载台设有窗口可使该被测物的被测面外露于测试基座处。该测试机台进一步设有一底座以及下夹座，该底座一侧设有至少一定位穿孔，该 底座该侧并可位于该下夹座中，而该下夹座一侧设有至少一导柱，该导柱可活动穿设于该 定位穿孔中。本实用新型的有益效果为本实用新型的测试机台设有至少一测试基座，该测试 基座上并设有一测试治具，用以对被测物进行测试；其中该测试基座并设有一定位结构， 该定位结构设有一垫体、一吸引组件以及至少一真空吸孔，该垫体套设于该测试基座顶部 外侧。其中，该被测物设置于一承载台上，由该承载台放置于该测试基座上，再经由该吸 引组件控制该真空吸孔对该承载台进行真空吸附，使该被测物得以快速定位于该测试治具 上，更可令该被测物可平均压触于各探针上，使其稳定接触，以确保检测结果的准确性。

图1为习有治具的结构示意图。图2为本实用新型中测试机台的结构剖视图。图3为本实用新型中测试机台的结构示意图。图4为本实用新型中连接支架的结构示意图。图5为本实用新型中定位结构的结构示意图。图6为本实用新型中连接区域与连接座的结构示意图。图7为本实用新型中定位结构的动作示意图。图号说明治具10 ；接头11 ；探针20 ；被测物30 ；承载台31 ；窗口 32 ；测试机台 40 ；测试基座41 ；测试治具42 ；承置体43 ；连接支架44 ；连接区域441 ；接点442 ；对位孔 443 ；垫体45 ；吸引组件46 ；真空吸孔47 ；底座48 ；定位穿孔481 ；下夹座49 ；导柱491 ；连接 器51 ；端子511 ；插柱512 ；检测主机52 ；固定件53。
具体实施方式
本实用新型测试机台的定位结构，如图2至图4所示，该测试机台40设有至少一 测试基座41，该测试基座41上并设有一测试治具42，而该测试治具42内并设有复数探针 (图未示)，如图所示的实施例中，该测试机台40设有一承置体43以及一连接支架44，该承 置体43与该连接支架44相互垂直设置，该测试基座41设于该承置体43上，而该连接支架 44上则设有至少一连接区域441，该连接区域441设有复数接点442，各接点442与测试治 具42的探针相连接。[0026]本案的重点在于该测试基座41并设有一定位结构，请同时参阅图5所示，该定位 结构设有一垫体45 (可以为软性材质)、一吸引组件46以及至少一真空吸孔47，该垫体45 套设于该测试基座41顶部外侧，且该垫体45略高于该测试治具42，该真空吸孔47设于该 测试基座41并相对设于该测试治具42与垫体45间，而该吸引组件46与该真空吸孔47相
ο再者，该连接区域441上进一步连接有连接器51，如图6所示，该连接器51设有复 数与该连接区域各接点442相对应的端子511，该连接器51另端则连接有一检测主机52， 该连接支架44设有至少一对位孔443，而该连接器51并设有至少一与该对位孔443相对 的插柱512，该连接器51藉由至少一固定件53 (可以为螺丝)固定于该测试机台40上，故 该连接器51可插接于预定的连接区域441上，并藉由该对位孔443与插柱512达到对位效 果，并使各端子61与各接点442确实接触导通，再藉由该固定件53的作用使该连接器51 固定于该测试机台40上。具体实施时，被测物30设置于一承载台31上，由该承载台31放置于该测试基座 41上，并与该垫体45接触，如图5所示，其中该承载台31设有窗口 32可使该被测物30的 被测面外露于测试基座41处，再藉由该吸引组件46的作用，使各真空吸孔47吸附该承载 台31，此时该承载台31、被测物30以及垫体45因为各真空吸孔47的作用，一起朝测试治 具42靠近，如图7所示，而使该被测物30得以定位于该测试治具42上，并藉由测试治具的 各探针与检测主机(图未示)连结，由各探针与被测物的被检测点接触而进行测试。其中，利用真空吸力作用不仅可使该被测物快速定位，亦可提供被测物平均压触 于各探针的力量，使该被测物与测试治具间的接触稳定性大幅提升，以确保检测结果的准 确性。另外，该测试机台40进一步设有一底座48以及下夹座49，如图2所示，该底座48 一侧设有至少一定位穿孔481，该底座48该侧并可位于该下夹座49中，而该下夹座49 一侧 设有至少一导柱491，该导柱491可活动穿设于该定位穿孔481中，使该测试机台40得以定 位。
权利要求1.一种测试机台的定位结构，该测试机台设有至少一测试基座，该测试基座上并设有 一测试治具，而该测试治具内并设有复数探针，各探针与检测主机连结，由各探针与被测物 的被检测点接触而进行测试；其特征在于该测试基座并设有一定位结构，该定位结构设有一垫体、一吸引组件以及至少一真空 吸孔，该垫体套设于该测试基座顶部外侧，且该垫体略高于该测试治具，该真空吸孔设于该 测试基座并相对设于该测试治具与垫体间，而该吸引组件与该真空吸孔相通，由该真空吸 孔吸附该被测物，而使其定位于该测试治具上。
2.如权利要求1所述测试机台的定位结构，其特征在于，该测试机台设有一承置体以 及一连接支架，该承置体与该连接支架相互垂直设置，该测试基座设于该承置体上，而该连 接支架上则设有至少一连接区域，该连接区域设有复数接点，各接点与测试治具的探针相 连接。
3.如权利要求2所述测试机台的定位结构，其特征在于，该连接区域上进一步连接有 连接器，该连接器设有复数与该连接区域各接点相对应的端子，该连接器另端则与检测主 机相连接。
4.如权利要求3所述测试机台的定位结构，其特征在于，该连接支架设有至少一对位 孔，而该连接器并设有至少一与该对位孔相对的插柱。
5.如权利要求3所述测试机台的定位结构，其特征在于，该连接器藉由至少一固定件 固定于该测试机台上。
6.如权利要求1、2、3、4或5所述测试机台的定位结构，其特征在于，该垫体为软性材质。
7.如权利要求1、2、3、4或5所述测试机台的定位结构，其特征在于，该被测物设置于一 承载台上，由该承载台放置于该测试基座上，并与该垫体接触。
8.如权利要求7所述测试机台的定位结构，其特征在于，该承载台设有窗口可使该被 测物的被测面外露于测试基座处。
9.如权利要求1、2、3、4或5所述测试机台的定位结构，其特征在于，该测试机台进一步 设有一底座以及下夹座，该底座一侧设有至少一定位穿孔，该底座该侧并可位于该下夹座 中，而该下夹座一侧设有至少一导柱，该导柱可活动穿设于该定位穿孔中。
专利摘要本实用新型的测试机台的定位结构，设有至少一测试基座，该测试基座上并设有一测试治具，用以对被测物进行测试；其中该测试基座并设有一定位结构，该定位结构设有一垫体、一吸引组件以及至少一真空吸孔，该垫体套设于该测试基座顶部外侧，由该真空吸孔吸附该被测物，而使其快速定位于该测试治具上，并可构成被测物与测试治具间接触的稳定性。
文档编号G01R1/04GK201867430SQ20102059570
公开日2011年6月15日 申请日期2010年11月8日 优先权日2010年11月8日
发明者土屋利彦, 堀诚一 申请人:港建日置股份有限公司