专利名称：热量失效除错系统及其温度控制装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种热量失效除错系统及其温度控制装置。
背景技术：
电子设备的寿命与电子元器件工作时的温度密切相关。电子元器件的工作时温度 过高或过低都会影响电子设备的工作性能及可靠性。因此几乎所有的电子设备特别是通讯 设备都有一些高低温测试。业界在低温测试时最为常见的故障现象是低温时不能被启动。 测试常用的做法是在常温下用制冷剂逐一喷射被怀疑的电子元器件，直至出现故障为止。 但是，这样的做法不容易确定电子元器件在哪个温度时产生热量失效，且在常温的条件下 喷射制冷剂无法使整个待测电子设备置于低温条件。

发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种热量失效除错系统，以使电子设备可在低温条件 下地进行热量失效除错，并可确定电子元器件在哪个温度下产生热量失效。还有必要提供一种温度控制装置。一种热量失效除错系统，用于对电子设备进行热量失效除错，所述热量失效除错 系统包括一电压源、一分压电路、一放大电路、一用于设置在一该电子设备内待测电子元器 件上的温度产生器、一用于容置所述电子设备及所述温度产生器的温湿度测试柜及一与所 述温度产生器连接的温度测试仪，所述分压电路包括一电阻及一与所述电阻串联连接在所 述电压源与地之间的可变电阻器，所述放大电路的输入端连接在所述电阻与所述可变电阻 器之间的节点上，所述放大电路的输出端通过所述温度产生器接地，通过改变所述可变电 阻器的阻值可改变输入至所述放大电路的电压来改变所述放大电路输出至所述温度产生 器的放大信号，从而改变所述温度产生器产生的温度，通过所述温度测试仪显示所述温度 产生器产生的温度，在温度产生器产生的不同温度下启动所述电子设备，在所述电子设备 不能工作时判定待测电子元器件具有热量失效功能。一种温度控制装置，包括一电压源、一分压电路、一放大电路及一温度产生器，所 述分压电路包括一电阻及一与所述电阻串联连接在所述电压源与地之间的可变电阻器，所 述放大电路的输入端连接在所述电阻与所述可变电阻器之间的节点上，所述放大电路的输 出端通过所述温度产生器接地，所述温度产生器用于置于一电子元器件上，通过改变所述 可变电阻器的阻值可改变输入至所述放大电路的电压来改变所述放大电路输出至所述温 度产生器的放大信号，从而改变所述温度产生器产生的温度，进而改变所述电子元器件的 温度。所述热量失效除错系统通过改变所述可变电阻器的阻值改变输入至所述放大电 路的电压来改变所述放大电路输出至所述温度产生器的放大信号，从而改变所述温度产生 器产生的温度，进而改变所述电子元器件的温度，在温度产生器产生的不同温度下启动所 述电子设备，在所述电子设备不能工作时判定待测电子元器件具有热量失效功能，从而对所述电子设备进行热量失效除错。


下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述图1是本发明热量失效除错系统的较佳实施方式的框图。图2是图1中的温度调节器的示意图。图3是图1的电路图。图4是本发明热量失效除错系统的较佳实施方式在使用时的示意图。主要元件符号说明
权利要求
1.一种热量失效除错系统，用于对电子设备进行热量失效除错，所述热量失效除错系 统包括一电压源、一分压电路、一放大电路、一用于设置在一该电子设备内待测电子元器件 上的温度产生器、一用于容置所述电子设备及所述温度产生器的温湿度测试柜及一与所述 温度产生器连接的温度测试仪，所述分压电路包括一电阻及一与所述电阻串联连接在所述 电压源与地之间的可变电阻器，所述放大电路的输入端连接在所述电阻与所述可变电阻器 之间的节点上，所述放大电路的输出端通过所述温度产生器接地，通过改变所述可变电阻 器的阻值可改变输入至所述放大电路的电压来改变所述放大电路输出至所述温度产生器 的放大信号，从而改变所述温度产生器产生的温度，通过所述温度测试仪显示所述温度产 生器产生的温度，在温度产生器产生的不同温度下启动所述电子设备，在所述电子设备不 能工作时判定待测电子元器件具有热量失效功能。
2.如权利要求1所述的热量失效除错系统，其特征在于所述放大电路包括一运算放 大器及一电开关，所述运算放大器包括一作为所述放大电路输入端的同相输入端、一反相 输入端及一输出端，所述电开关包括一第一端、一作为所述放大电路输出端的第二端及一 第三端，所述运算放大器的同相输入端连接至所述电阻与所述可变电阻器的节点上，所述 运算放大器的反相输入端连接至所述电开关的第二端，所述运算放大器的输出端连接至所 述电开关的第一端，所述电开关的第二端通过所述温度产生器接地，所述电开关的第三端 连接至所述电压源。
3.如权利要求1所述的热量失效除错系统，其特征在于所述温度产生器包括一散热 片、一设置在所述散热片上的水泥电阻及一设置在所述散热片上用于感测所述散热片温度 的温度传感器，所述温度测试仪与所述温度传感器相连用来显示所述温度传感器感测的温 度，所述放大电路的输出端通过所述水泥电阻接地。
4.如权利要求3所述的热量失效除错系统，其特征在于所述散热片通过散热膏附着 在所述电子元器件上。
5.如权利要求1或3所述的热量失效除错系统，其特征在于所述电子设备为一主机， 所述电子元器件为所述主机内的集成芯片。
6.一种温度控制装置，包括一电压源、一分压电路、一放大电路及一温度产生器，所述 分压电路包括一电阻及一与所述电阻串联连接在所述电压源与地之间的可变电阻器，所述 放大电路的输入端连接在所述电阻与所述可变电阻器之间的节点上，所述放大电路的输出 端通过所述温度产生器接地，所述温度产生器用于置于一电子元器件上，通过改变所述可 变电阻器的阻值可改变输入至所述放大电路的电压来改变所述放大电路输出至所述温度 产生器的放大信号，从而改变所述温度产生器产生的温度，进而改变所述电子元器件的温 度。
7.如权利要求6所述的温度控制装置，其特征在于所述放大电路包括一运算放大器 及一电开关，所述运算放大器包括一作为所述放大电路输入端的同相输入端、一反相输入 端及一输出端，所述电开关包括一第一端、一作为所述放大电路输出端的第二端及一第三 端，所述运算放大器的同相输入端连接至所述电阻与所述可变电阻器的节点上，所述运算 放大器的反相输入端连接至所述电开关的第二端，所述运算放大器的输出端连接至所述电 开关的第一端，所述电开关的第二端通过所述温度产生器接地，所述电开关的第三端连接 至所述电压源。
8.如权利要求6所述的温度控制装置，其特征在于所述温度产生器包括一水泥电阻 及一用于感测所述电子元器件温度的温度传感器，所述水泥电阻及温度传感器用于设置在 所述电子元器件上，所述放大电路的输出端通过所述水泥电阻接地。
9.如权利要求6所述的温度控制装置，其特征在于所述温度产生器包括一散热片、一 设置在所述散热片上的水泥电阻、一用于感测所述散热片温度的温度传感器，所述水泥电 阻及所述温度传感器均设置在所述散热片上，所述散热片用于设置在所述元器件上，所述 放大电路的输出端通过所述水泥电阻接地，通过改变所述可变电阻器的阻值改变输入至所 述放大电路的电压来改变所述放大电路输出至所述水泥电阻的放大信号，从而改变所述水 泥电阻产生的温度，进而改变所述电子元器件的温度。
10.如权利要求9所述的温度控制装置，其特征在于所述散热片通过散热膏附着在所 述电子元器件上。
全文摘要
一种热量失效除错系统包括一电压源、一分压电路、一放大电路及一温度产生器、一温湿度测试柜及一温度测试仪，分压电路包括一电阻及一与电阻串联连接在电压源与地之间的可变电阻器，放大电路的输入端连接在电阻与可变电阻器之间的节点上，放大电路的输出端通过温度产生器接地，温度产生器用于置于电子元器件上，通过改变可变电阻器的阻值可改变来改变放大电路输出至温度产生器的放大信号，从而改变温度产生器产生的温度，通过温度测试仪显示温度产生器产生的温度，在温度产生器产生的不同温度下启动所述电子设备，在所述电子设备不能工作时判定待测电子元器件具有热量失效功能。本发明实现了对电子设备的热量失效除错。
文档编号G01R31/00GK102103172SQ20091031178
公开日2011年6月22日 申请日期2009年12月18日 优先权日2009年12月18日
发明者熊金良 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司